The 23 reference contexts in paper T. Ismailov A., I. Mironenko G., Kh. Gajiyev M., T. Chelushkina A., Т. Исмаилов А., Х. Гаджиев М., И. Мироненко Г., Т. Челушкина А (2017) “ДИАГНОСТИРОВАНИЕ ГРУПП ЭЛЕКТРОРАДИОИЗДЕЛИЙ ПО ПЕРЕХОДНЫМ ХАРАКТЕРИСТИКАМ ДЛЯ ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ НА ФУНКЦИОНАЛЬНЫХ ЯЧЕЙКАХ // DIAGNOSIS OF GROUPS OF ELECTRO-RADIO COMPONENTS ACCORDING TO THE TRANSIENT RESPONSES FOR THE DETECTION OF DEFECTS ON THE FUNCTIONAL CELLS” / spz:neicon:vestnik:y:2016:i:4:p:53-62

  1. Start
    6196
    Prefix
    Современная радиоэлектронная аппаратура имеет тенденцию к увеличению числа и типов электронных компонентов, применяемых в составе изделия, а также к возрастанию степени интеграции и применении сверхбольших интегральных схем (СБИС)
    Exact
    [2,12]
    Suffix
    . Помимо компьютерных процессоров большое количество дефектов современной электронной аппаратуры приходится на мощные компоненты вычислительных систем с высокими тепловыделениями, для которых также необходимо организовывать высокоэффективные системы термостатирования для предотвращения термических ударов и тепловых пробоев [15,16,17].
    (check this in PDF content)

  2. Start
    6543
    Prefix
    Помимо компьютерных процессоров большое количество дефектов современной электронной аппаратуры приходится на мощные компоненты вычислительных систем с высокими тепловыделениями, для которых также необходимо организовывать высокоэффективные системы термостатирования для предотвращения термических ударов и тепловых пробоев
    Exact
    [15,16,17]
    Suffix
    . Постановка задачи. Повышение степени интеграции электронных компонентов и возрастание количества дефектов приводит к резкому увеличению количества диагностических операций, усложнению контрольно-измерительной аппаратуры и возникновению проблем по получению информации с точек контроля внутри функционирующих устройств [8,13].
    (check this in PDF content)

  3. Start
    6884
    Prefix
    Повышение степени интеграции электронных компонентов и возрастание количества дефектов приводит к резкому увеличению количества диагностических операций, усложнению контрольно-измерительной аппаратуры и возникновению проблем по получению информации с точек контроля внутри функционирующих устройств
    Exact
    [8,13]
    Suffix
    . Существующая методика поэлементного диагностирования предполагает коммутирование каждого электрорадиоизделия (ЭРИ) и контроль его параметров при условии уменьшения шунтирующего влияния соседних ЭРИ.
    (check this in PDF content)

  4. Start
    7133
    Prefix
    Существующая методика поэлементного диагностирования предполагает коммутирование каждого электрорадиоизделия (ЭРИ) и контроль его параметров при условии уменьшения шунтирующего влияния соседних ЭРИ. Однако такой метод недостаточно эффективен
    Exact
    [9]
    Suffix
    . Методы исследования. В статье разработан метод контроля групп ЭРИ, который предполагает прохождение контролирующеговоздействия через пару контрольных точек (КТ), соединенных через несколько ЭРИ.
    (check this in PDF content)

  5. Start
    7792
    Prefix
    В статье разработан метод контроля групп ЭРИ, который предполагает прохождение контролирующеговоздействия через пару контрольных точек (КТ), соединенных через несколько ЭРИ. При этом каждое ЭРИ вносит свою долю в преобразование выходного параметра, поэтому при несоответствии его допустимым значениям возникает неопределенность при идентификации дефектного ЭРИ
    Exact
    [11,14]
    Suffix
    . В качестве выходного параметра группы может быть выбран любой параметр, например, сопротивление, емкость, индуктивность между парой КТ. Однако в этом случае понадобятся специализированные измерители, кроме того, влияние некоторых ЭРИ будет в значительной степени зависеть от выбранного выходного параметра группы [1,18].
    (check this in PDF content)

  6. Start
    8110
    Prefix
    В качестве выходного параметра группы может быть выбран любой параметр, например, сопротивление, емкость, индуктивность между парой КТ. Однако в этом случае понадобятся специализированные измерители, кроме того, влияние некоторых ЭРИ будет в значительной степени зависеть от выбранного выходного параметра группы
    Exact
    [1,18]
    Suffix
    . Например, если контролируется активное сопротивление между парой КТ выбранной группы, то влияние параметров резисторов будет превышать влияние конденсаторов и катушек индуктивности. Аналогичная ситуация возникает, если использовать в качестве выходного параметра емкость или индуктивность группы [3,20].
    (check this in PDF content)

  7. Start
    8410
    Prefix
    Например, если контролируется активное сопротивление между парой КТ выбранной группы, то влияние параметров резисторов будет превышать влияние конденсаторов и катушек индуктивности. Аналогичная ситуация возникает, если использовать в качестве выходного параметра емкость или индуктивность группы
    Exact
    [3,20]
    Suffix
    . Дополнительным недостатком такого подхода является то, что эти параметры измеряются в статических режимах, поэтому требуется дополнительное время на завершение переходных процессов [4]. В то же время этот недостаток может быть использован в качестве основного преимущества, если применить переходную характеристику группы ЭРИ в качестве выходного совокупного параметра [6,7,8].
    (check this in PDF content)

  8. Start
    8598
    Prefix
    Аналогичная ситуация возникает, если использовать в качестве выходного параметра емкость или индуктивность группы [3,20]. Дополнительным недостатком такого подхода является то, что эти параметры измеряются в статических режимах, поэтому требуется дополнительное время на завершение переходных процессов
    Exact
    [4]
    Suffix
    . В то же время этот недостаток может быть использован в качестве основного преимущества, если применить переходную характеристику группы ЭРИ в качестве выходного совокупного параметра [6,7,8]. Это позволит уравнять влияние разнотипных ЭРИ в группе, так как все они имеют определенные переходные характеристики вне зависимости от типа [19].
    (check this in PDF content)

  9. Start
    8780
    Prefix
    Дополнительным недостатком такого подхода является то, что эти параметры измеряются в статических режимах, поэтому требуется дополнительное время на завершение переходных процессов [4]. В то же время этот недостаток может быть использован в качестве основного преимущества, если применить переходную характеристику группы ЭРИ в качестве выходного совокупного параметра
    Exact
    [6,7,8]
    Suffix
    . Это позволит уравнять влияние разнотипных ЭРИ в группе, так как все они имеют определенные переходные характеристики вне зависимости от типа [19]. Причем возможен контроль дефектов не только пассивных (R,С,L) и активных (р-n-переходы диодов, стабилитронов, варикапов, транзисторов, тиристоров и т. д.
    (check this in PDF content)

  10. Start
    8926
    Prefix
    В то же время этот недостаток может быть использован в качестве основного преимущества, если применить переходную характеристику группы ЭРИ в качестве выходного совокупного параметра [6,7,8]. Это позволит уравнять влияние разнотипных ЭРИ в группе, так как все они имеют определенные переходные характеристики вне зависимости от типа
    Exact
    [19]
    Suffix
    . Причем возможен контроль дефектов не только пассивных (R,С,L) и активных (р-n-переходы диодов, стабилитронов, варикапов, транзисторов, тиристоров и т. д.) ЭРИ, но и обнаружение дефектов микросхем и микросборок, которые имеют для каждой пары КТ свои переходные характеристики [18].
    (check this in PDF content)

  11. Start
    9201
    Prefix
    Причем возможен контроль дефектов не только пассивных (R,С,L) и активных (р-n-переходы диодов, стабилитронов, варикапов, транзисторов, тиристоров и т. д.) ЭРИ, но и обнаружение дефектов микросхем и микросборок, которые имеют для каждой пары КТ свои переходные характеристики
    Exact
    [18]
    Suffix
    . В результате сравнения переходных характеристик эталонной и контролируемой функциональной ячейки (ФЯ) возможно обнаружение наличия дефекта. Традиционные методики не позволяют с требуемой достоверностью провести определение дефектного ЭРИ, так как на выходной совокупный параметр группы может оказать влияние отклонение параметра любого ЭРИ этой группы, либо даже нескольких ЭРИ одновременно [10]
    (check this in PDF content)

  12. Start
    9593
    Prefix
    Традиционные методики не позволяют с требуемой достоверностью провести определение дефектного ЭРИ, так как на выходной совокупный параметр группы может оказать влияние отклонение параметра любого ЭРИ этой группы, либо даже нескольких ЭРИ одновременно
    Exact
    [10]
    Suffix
    . Причем весьма вероятна ситуация, при которой параметры ЭРИ не выходят за граничные значения допусков [13]. Однако их совокупное воздействие на выходной параметр группы вызывает значительное отклонение [11].
    (check this in PDF content)

  13. Start
    9697
    Prefix
    Традиционные методики не позволяют с требуемой достоверностью провести определение дефектного ЭРИ, так как на выходной совокупный параметр группы может оказать влияние отклонение параметра любого ЭРИ этой группы, либо даже нескольких ЭРИ одновременно [10]. Причем весьма вероятна ситуация, при которой параметры ЭРИ не выходят за граничные значения допусков
    Exact
    [13]
    Suffix
    . Однако их совокупное воздействие на выходной параметр группы вызывает значительное отклонение [11]. Поэтому возможна лишь констатация соответствия допустимым значениям выходного совокупного параметра группы.
    (check this in PDF content)

  14. Start
    9797
    Prefix
    Причем весьма вероятна ситуация, при которой параметры ЭРИ не выходят за граничные значения допусков [13]. Однако их совокупное воздействие на выходной параметр группы вызывает значительное отклонение
    Exact
    [11]
    Suffix
    . Поэтому возможна лишь констатация соответствия допустимым значениям выходного совокупного параметра группы. В случае выхода за поле допуска выходного параметра осуществляется ориентировочное указание вида дефекта, вызвавшего соответствующее отклонение этого параметра [18].
    (check this in PDF content)

  15. Start
    10074
    Prefix
    Поэтому возможна лишь констатация соответствия допустимым значениям выходного совокупного параметра группы. В случае выхода за поле допуска выходного параметра осуществляется ориентировочное указание вида дефекта, вызвавшего соответствующее отклонение этого параметра
    Exact
    [18]
    Suffix
    . Однако допустимо проведение диагностирования с точностью до отдельного ЭРИ в случае контроля нескольких групп, проверяемых ЭРИ на ФЯ с последующим анализом дефектов, вызывающих соответствующие отклонения выходных совокупных параметров для каждой группы.
    (check this in PDF content)

  16. Start
    10446
    Prefix
    Однако допустимо проведение диагностирования с точностью до отдельного ЭРИ в случае контроля нескольких групп, проверяемых ЭРИ на ФЯ с последующим анализом дефектов, вызывающих соответствующие отклонения выходных совокупных параметров для каждой группы. Множество вероятных дефектных значений для каждого ЭРИ даст множество отклонений параметров для каждой группы
    Exact
    [6]
    Suffix
    . Пользование такими таблицами соответствия невозможно для обнаружения дефектного ЭРИ из-за необходимости сравнения колоссальных массивов информации (требующих значительных объемов машинной памяти) для обнаружения искомого дефекта [7].
    (check this in PDF content)

  17. Start
    10675
    Prefix
    Пользование такими таблицами соответствия невозможно для обнаружения дефектного ЭРИ из-за необходимости сравнения колоссальных массивов информации (требующих значительных объемов машинной памяти) для обнаружения искомого дефекта
    Exact
    [7]
    Suffix
    . Поэтому требуется не табличное сравнение дефектов, а аналитическое вычисление дефектного ЭРИ [13]. На выходной параметр группы ЭРИ может оказать влияние любой ЭРИ этой группы, каждый в соответствии со своим коэффициентом влияния, но после контроля нескольких групп ЭРИ должны быть выявлены, как дефектные, только те ЭРИ, которые во всех этих случаях показали одинаковое отклонение ЭРИ от номина
    (check this in PDF content)

  18. Start
    10772
    Prefix
    Пользование такими таблицами соответствия невозможно для обнаружения дефектного ЭРИ из-за необходимости сравнения колоссальных массивов информации (требующих значительных объемов машинной памяти) для обнаружения искомого дефекта [7]. Поэтому требуется не табличное сравнение дефектов, а аналитическое вычисление дефектного ЭРИ
    Exact
    [13]
    Suffix
    . На выходной параметр группы ЭРИ может оказать влияние любой ЭРИ этой группы, каждый в соответствии со своим коэффициентом влияния, но после контроля нескольких групп ЭРИ должны быть выявлены, как дефектные, только те ЭРИ, которые во всех этих случаях показали одинаковое отклонение ЭРИ от номинального значения, так как параметр дефектного ЭРИ не может менять своего значения в зависимости от
    (check this in PDF content)

  19. Start
    11947
    Prefix
    Задача облегчается тем, что этап контроля ФЯ после сборочных операций необходим только для того, чтобы при передаче ФЯ на регулировку не произошло дополнительных отказов при подаче напряжения питания
    Exact
    [5,7]
    Suffix
    . Опыт работы по контролю ФЯ показал, что такие отказы возможны только при наличии коротких замыканий и обрывов, а также отклонения некоторых параметров ЭРИ свыше 50% от номинального значения [5,11].
    (check this in PDF content)

  20. Start
    12144
    Prefix
    облегчается тем, что этап контроля ФЯ после сборочных операций необходим только для того, чтобы при передаче ФЯ на регулировку не произошло дополнительных отказов при подаче напряжения питания [5,7]. Опыт работы по контролю ФЯ показал, что такие отказы возможны только при наличии коротких замыканий и обрывов, а также отклонения некоторых параметров ЭРИ свыше 50% от номинального значения
    Exact
    [5,11]
    Suffix
    . Таким образом, задача контроля упрощается, так как необходимо диагностирование значительного изменения параметров ЭРИ [19]. Однако диагностирование ЭРИ с погрешностью 10% требует применение ИКУ или щупов [20].
    (check this in PDF content)

  21. Start
    12269
    Prefix
    Опыт работы по контролю ФЯ показал, что такие отказы возможны только при наличии коротких замыканий и обрывов, а также отклонения некоторых параметров ЭРИ свыше 50% от номинального значения [5,11]. Таким образом, задача контроля упрощается, так как необходимо диагностирование значительного изменения параметров ЭРИ
    Exact
    [19]
    Suffix
    . Однако диагностирование ЭРИ с погрешностью 10% требует применение ИКУ или щупов [20]. Поэтому целесообразно процедуру контроля дефектных ЭРИ в схемах устройств построить в два этапа. На первом этапе все ФЯ после сборки контролируются через разъем для определения наличия значительных дефектов.
    (check this in PDF content)

  22. Start
    12353
    Prefix
    Таким образом, задача контроля упрощается, так как необходимо диагностирование значительного изменения параметров ЭРИ [19]. Однако диагностирование ЭРИ с погрешностью 10% требует применение ИКУ или щупов
    Exact
    [20]
    Suffix
    . Поэтому целесообразно процедуру контроля дефектных ЭРИ в схемах устройств построить в два этапа. На первом этапе все ФЯ после сборки контролируются через разъем для определения наличия значительных дефектов.
    (check this in PDF content)

  23. Start
    13017
    Prefix
    На примере построения математической модели (ММ) зависимости параметров ЭРИ и выходного совокупного параметра группы ЭРИ можно рассмотреть создание диагностического теста, процедуру поиска и нахождения дефектного ЭРИ методом группового контроля
    Exact
    [6,7,10]
    Suffix
    . Необходимо установить зависимость между параметрами ЭРИ X1,Х2,... ХМ и выходным совокупным параметром группы Y . (1) Обсуждение результатов.
    (check this in PDF content)