The 5 references with contexts in paper A. Artamonov M., А. Артамонов М. (2017) “ЧИСЛЕННОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ ПРОЦЕССОВ КОНДЕНСАЦИИ ТОНКИХ ПЛЕНОК И ПРЕДПРОИЗВОДСТВЕННЫЙ АНАЛИЗ ЛИНЕЙНЫХ ПЕРЕСТРАИВАЕМЫХ ФИЛЬТРОВ // NUMERICAL SIMULATION OF THIN FILM CONDENSATION PROCESSES AND PRE-PRODUCTION ANALYSIS OF LINEAR VARIABLE FILTERS” / spz:neicon:vestift:y:2017:i:2:p:49-53

1
Wolfe, W. L. Introduction to Imaging Spectrometers / W. L. Wolfe. – Bellingham: SPIE Optical Engineering Press, 1997. – 148 с.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=4119
    Prefix
    Линейные перестраиваемые фильтры (Linear Variable Filter) представляют собой класс полосовых фильтров на основе сложных многослойных интерференционных покрытий и обладают линейной анизотропией оптических свойств по одной из геометрических осей, которая позволяет перестраивать выделяемую (фильтруемую) длину волны оптического излучения
    Exact
    [1, с. 44–49]
    Suffix
    . Анизотропия оптических свойств как правило осуществляется за счет создания управляемой неравномерности вдоль оси, по которой происходит перестроение длины волны. При этом © Артамонов А. М., 2017 основным параметром такого типа полосовых фильтров является величина спектрального градиента, определяющая изменение оптической характеристики на единицу длины фильтра.

2
Каширин, В. И. Основы формообразования оптических поверхностей / В. И. Каширин. – Екатеринбург: ГОУ ВПО УГТУ – УПИ, 2006. – 254 с.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=4743
    Prefix
    М., 2017 основным параметром такого типа полосовых фильтров является величина спектрального градиента, определяющая изменение оптической характеристики на единицу длины фильтра. Одним из способов управления неравномерностью тонкопленочных покрытий, получаемых в процессах вакуумного напыления, является вакуумное маскирование
    Exact
    [2, с. 106–107]
    Suffix
    . Такой способ в основном применяется для формообразования оптических поверхностей, а также для повышения степени равномерности вакуумного напыления покрытий сверх той, которая обусловлена геометрией расположения технологических устройств и подложки [3].

3
Oliver, J. Analysis of a planetary-rotation system for evaporated optical coatings / J. Oliver, D. Talbot // Appl. Opt. – 2006. – Vol. 45, N 13. – P. 3097–3105.
Total in-text references: 2
  1. In-text reference with the coordinate start=5009
    Prefix
    Такой способ в основном применяется для формообразования оптических поверхностей, а также для повышения степени равномерности вакуумного напыления покрытий сверх той, которая обусловлена геометрией расположения технологических устройств и подложки
    Exact
    [3]
    Suffix
    . Цель работы состояла в определении параметров геометрии вакуумной маски и расположения в пространстве вакуумной камеры для получения линейного перестраиваемого фильтра с величиной спектрального градиента 20 нм/мм в диапазоне длин волн 400–700 нм.

  2. In-text reference with the coordinate start=6137
    Prefix
    Плотность конденсирующихся частиц можно получить, учитывая произвольно расположенный элемент площади поверхности подложки dA, а выражение (1) представить в следующем виде: 2cos cos , Q J r = qφ π (2) где φ – угол от нормали элемента площади поверхности подложки. В работах
    Exact
    [3–5]
    Suffix
    вычисление распределения сконденсировавшегося материала на поверхности подложки выполняется аналитическим интегрированием. При этом для системы источник– подложка выводится частная подынтегральная функция из уравнения (2) с учетом особенностей системы, таких как: геометрия подложки, геометрия источника, движение подложки относительно источника и других параметров, описывающих систему.

4
Theoretical design of shadowing masks for uniform coatings on spherical substrates in planetary rotation systems / Liu Cunding [et al.] // Opt. Express. – 2012. – Vol. 20, N 21. – P. 23790–23797.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=6137
    Prefix
    Плотность конденсирующихся частиц можно получить, учитывая произвольно расположенный элемент площади поверхности подложки dA, а выражение (1) представить в следующем виде: 2cos cos , Q J r = qφ π (2) где φ – угол от нормали элемента площади поверхности подложки. В работах
    Exact
    [3–5]
    Suffix
    вычисление распределения сконденсировавшегося материала на поверхности подложки выполняется аналитическим интегрированием. При этом для системы источник– подложка выводится частная подынтегральная функция из уравнения (2) с учетом особенностей системы, таких как: геометрия подложки, геометрия источника, движение подложки относительно источника и других параметров, описывающих систему.

5
Сеник, Б. Н. Метод определения площади функциональной маски для вакуумной асферизации / Б. Н. Сеник // Приклад. физика. – 2007. – No 3. – С. 129–135.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=6137
    Prefix
    Плотность конденсирующихся частиц можно получить, учитывая произвольно расположенный элемент площади поверхности подложки dA, а выражение (1) представить в следующем виде: 2cos cos , Q J r = qφ π (2) где φ – угол от нормали элемента площади поверхности подложки. В работах
    Exact
    [3–5]
    Suffix
    вычисление распределения сконденсировавшегося материала на поверхности подложки выполняется аналитическим интегрированием. При этом для системы источник– подложка выводится частная подынтегральная функция из уравнения (2) с учетом особенностей системы, таких как: геометрия подложки, геометрия источника, движение подложки относительно источника и других параметров, описывающих систему.