The 11 references with contexts in paper A. Mohammed Salem A., E. Drozd S., S. Chizhik A., А. Мохаммед Салем А., Е. Дрозд С., С. Чижик А. (2016) “Влияние нагрузки в контакте зонд - образец на качество изображений в полуконтактном динамическом режиме атомно-силовой микроскопии // An influence of loading in the probe-sample contact on the image quality of atomic force microscopes at semi-contact mode” / spz:neicon:vestift:y:2014:i:3:p:112-116

1
Tao N. J., Lindsay S. M., Lees S. // B �ophy �. J. 1992. Vol. 63. P. 1165–1169.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=726
    Prefix
    Атомно-силовая микроскопия (АСМ� позволяет исследовать поверхность непроводящего образца с высоким разрешением. Кроме того, атомно-силовой микроскоп можно эффективно использовать для измерения механических свойств образца в наномасштабе
    Exact
    [1-4]
    Suffix
    . При этом роль наноиндентора выполняет острие зонда. АСМ относят к перспективным методам визуализации биологических микрообъектов. Среди преимуществ метода – возможность исследования объекта без его разрушения или повреждения, получение истинно трехмерного рельефа поверх ности без сложной подготовки образца.

2
Weisenhorn A., Khorsandi M., Kasas S. e� � l. // N �no� echnolo�y. 1993. Vol. 4. P. 106–113.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=726
    Prefix
    Атомно-силовая микроскопия (АСМ� позволяет исследовать поверхность непроводящего образца с высоким разрешением. Кроме того, атомно-силовой микроскоп можно эффективно использовать для измерения механических свойств образца в наномасштабе
    Exact
    [1-4]
    Suffix
    . При этом роль наноиндентора выполняет острие зонда. АСМ относят к перспективным методам визуализации биологических микрообъектов. Среди преимуществ метода – возможность исследования объекта без его разрушения или повреждения, получение истинно трехмерного рельефа поверх ности без сложной подготовки образца.

3
A-Hassan E., Heinz W. F., Antonik M. D. e� � l. // B �ophy �. J. 1998. Vol. 74. P. 1564–1578.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=726
    Prefix
    Атомно-силовая микроскопия (АСМ� позволяет исследовать поверхность непроводящего образца с высоким разрешением. Кроме того, атомно-силовой микроскоп можно эффективно использовать для измерения механических свойств образца в наномасштабе
    Exact
    [1-4]
    Suffix
    . При этом роль наноиндентора выполняет острие зонда. АСМ относят к перспективным методам визуализации биологических микрообъектов. Среди преимуществ метода – возможность исследования объекта без его разрушения или повреждения, получение истинно трехмерного рельефа поверх ности без сложной подготовки образца.

4
Matzke R., Jacobson K., Radmacher M. // N �� . Cell B�ol. 2001. Vol. 3. P. 607–610.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=726
    Prefix
    Атомно-силовая микроскопия (АСМ� позволяет исследовать поверхность непроводящего образца с высоким разрешением. Кроме того, атомно-силовой микроскоп можно эффективно использовать для измерения механических свойств образца в наномасштабе
    Exact
    [1-4]
    Suffix
    . При этом роль наноиндентора выполняет острие зонда. АСМ относят к перспективным методам визуализации биологических микрообъектов. Среди преимуществ метода – возможность исследования объекта без его разрушения или повреждения, получение истинно трехмерного рельефа поверх ности без сложной подготовки образца.

5
Morgenthaler F. D., Knott G. W., Floyd Sarria J. C. e� � l. // Eu�. J. Neu�o�c�. 2003. Vol. 17. P. 1365–1374.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=1201
    Prefix
    Среди преимуществ метода – возможность исследования объекта без его разрушения или повреждения, получение истинно трехмерного рельефа поверх ности без сложной подготовки образца. Ранее было показано, что, используя метод наноиндентирования, возможно составить карту жесткости биологической клетки (томография жесткости�
    Exact
    [5]
    Suffix
    . Послойное сканирование методом АСМ в динамическом режиме дает множество изображений, содержащих информацию о внутренней структуре объекта. При их должной математической обработке также возможно получение трехмерной карты механических свойств (томографии� исследуемого объекта.

6
Lim C. T., Dao M., Suresh S. e� � l. // Ac�� M �� e�. 2004. Vol. 5. P. 4065– 4066.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=1834
    Prefix
    Кроме того, в поисках новых возможностей изучения субклеточных и молекулярных процессов в последнее десятилетие стали все чаще использовать различные методы микроскопии в сочетании друг с другом. В связи с этим появился термин «корреляционная микроскопия»
    Exact
    [6]
    Suffix
    . На качество изображения, разрешение объекта, получаемое в АСМ, влияют ряд факторов. Среди них форма и чистота поверхности наконечника зонда, тепловой дрейф, ползучесть и гистерезис, характерные для пьезоэлектрической керамики сканера.

7
Karvinen K. S., Moheimani S. O. R. // Ul ����� c�o�copy. 2014. Vol. 137. P. 66–71.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=2105
    Prefix
    На качество изображения, разрешение объекта, получаемое в АСМ, влияют ряд факторов. Среди них форма и чистота поверхности наконечника зонда, тепловой дрейф, ползучесть и гистерезис, характерные для пьезоэлектрической керамики сканера. Экспериментальные результаты
    Exact
    [7]
    Suffix
    показали, что скорость сканирования и качество изображения АСМ могут быть значительно улучшены за счет уменьшения добротности микрокантилевера зонда. Ухудшает качество изображения и увеличивает погрешность измерений затупление наконечника зонда из-за его износа в процессе многократных измерений [8].

8
Fairbairn M. W., Moheimani S. O. R., Fleming A. J. // Au ���� l�� n Con�� ol Confe�ence (AUCC�, 2011. P. 26–31.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=2407
    Prefix
    Экспериментальные результаты [7] показали, что скорость сканирования и качество изображения АСМ могут быть значительно улучшены за счет уменьшения добротности микрокантилевера зонда. Ухудшает качество изображения и увеличивает погрешность измерений затупление наконечника зонда из-за его износа в процессе многократных измерений
    Exact
    [8]
    Suffix
    . В результате обработки изображений, получаемых при морфометрии поверхности образца методом АСМ, возможно возникновение различных артефактов. Для их устранения применяются специальные математические методы [9].

9
Bo Xue, Yongda Yan, Zhenjiang Hu, Xuesen Zhao // The Jou�n�l of Sc�nn �n� M�c�o�cop �e�. 2014. Vol. 36, ���ue 2. P. 263–269.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=2618
    Prefix
    В результате обработки изображений, получаемых при морфометрии поверхности образца методом АСМ, возможно возникновение различных артефактов. Для их устранения применяются специальные математические методы
    Exact
    [9]
    Suffix
    . Обзор математических методов улучшения и реконструкции этих изображений приводится, например, в [10, 11]. Цель данной работы - визуализация поверхности полимерных материалов и биологических клеток путем неразрушающего микромеханического воздействия, определение оптимальной нагрузки для получения качественных изображений топографии и фазового контраста в динамическом режиме измерений АСМ.

10
Raposo M., Fereira Q., Ribeiro P. A. In: Mo�e�n Re �e�� ch �n� E �uc ��� on Top�c� �n M �c�o�copy. A. Mén�ez-V �l�� �n� J. Dí �z (E �� .�. FORMATEX 2007. P. 758–769.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=2720
    Prefix
    В результате обработки изображений, получаемых при морфометрии поверхности образца методом АСМ, возможно возникновение различных артефактов. Для их устранения применяются специальные математические методы [9]. Обзор математических методов улучшения и реконструкции этих изображений приводится, например, в
    Exact
    [10, 11]
    Suffix
    . Цель данной работы - визуализация поверхности полимерных материалов и биологических клеток путем неразрушающего микромеханического воздействия, определение оптимальной нагрузки для получения качественных изображений топографии и фазового контраста в динамическом режиме измерений АСМ.

11
Chen A., Bertozzi A. L, Ashby P. D. e� �l. Enh �nce �en � �n� Recove�y �n A �o�� c Fo �ce M �c�o�copy I��� e� �n Excu��� on � �n H ��� on �c An �ly ��� , Vol. 2, An�� ew � T. D., B�l�n R., Bene�e�� o J. J., Cz�j� W., Okou�jou K. A. (E�� .�, B �� kh �u�e� B�� el. 2013. P. 311–332. MОHAMMED SALEM A. А., E. S. DROZD, S. A. CHIZHIK AN INFLUENCE OF LOADING IN THE PROBE-SAMPLE CONTACT ON THE IMAGE QUALITY
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=2720
    Prefix
    В результате обработки изображений, получаемых при морфометрии поверхности образца методом АСМ, возможно возникновение различных артефактов. Для их устранения применяются специальные математические методы [9]. Обзор математических методов улучшения и реконструкции этих изображений приводится, например, в
    Exact
    [10, 11]
    Suffix
    . Цель данной работы - визуализация поверхности полимерных материалов и биологических клеток путем неразрушающего микромеханического воздействия, определение оптимальной нагрузки для получения качественных изображений топографии и фазового контраста в динамическом режиме измерений АСМ.