The 8 references with contexts in paper Yu. Kofanov N., V. Strelnikov P., Ю. Кофанов Н., В. Стрельников П. (2016) “МЕТОДИЧЕСКИЕ ПОГРЕШНОСТИ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ СРЕДНЕГО РЕСУРСА ИЗДЕЛИЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ // METHODOLOGICAL IMPRECISION OF PREDICTION OF ELECTRONICS’ MEAN LIFE TIME” / spz:neicon:sustain:y:2015:i:1:p:5-12

1
Strelnikov V. The Status and Prospects of Reliability Technology – Part 1 // RAC Jornal. – 2001, N 1. – P. 1 – 4; Part 2 // RAC Jornal. – 2001, N 2. – P. 8 – 10.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=1137
    Prefix
    В последние годы исследователи надежности техники используют решения разнообразных задач надежности, основанные на применении различных теоретических моделей надежности (экспоненциального, Вейбулла, логарифмически нормального, диффузионных
    Exact
    [1]
    Suffix
    и других распределений [2, 3]), которые приводят к значительному расхождению получаемых результатов. Ниже приводятся результаты оценки (прогнозирования) средней наработки до отказа изделий электронной техники (ИЭТ) при использовании различных теоретических моделей отказов. оценка и прогнозирование средней наработки до отказа иЭТ Современная элементная база – это изделия электронной техники, о

2
Кофанов Ю.Н. Моделирование и обеспечение надёжности технических систем: Научное издание. – Москва: Энергоатомиздат, 2011, – 324 с.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=1164
    Prefix
    В последние годы исследователи надежности техники используют решения разнообразных задач надежности, основанные на применении различных теоретических моделей надежности (экспоненциального, Вейбулла, логарифмически нормального, диффузионных [1] и других распределений
    Exact
    [2, 3]
    Suffix
    ), которые приводят к значительному расхождению получаемых результатов. Ниже приводятся результаты оценки (прогнозирования) средней наработки до отказа изделий электронной техники (ИЭТ) при использовании различных теоретических моделей отказов. оценка и прогнозирование средней наработки до отказа иЭТ Современная элементная база – это изделия электронной техники, обладающие достаточно высокой

3
Кофанов Ю.Н. Теоретические основы конструирования, технологии и надёжности радиоэлектронных средств: Учебник для вузов. – Москва: Радио и связь, 1991. – 360 с.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=1164
    Prefix
    В последние годы исследователи надежности техники используют решения разнообразных задач надежности, основанные на применении различных теоретических моделей надежности (экспоненциального, Вейбулла, логарифмически нормального, диффузионных [1] и других распределений
    Exact
    [2, 3]
    Suffix
    ), которые приводят к значительному расхождению получаемых результатов. Ниже приводятся результаты оценки (прогнозирования) средней наработки до отказа изделий электронной техники (ИЭТ) при использовании различных теоретических моделей отказов. оценка и прогнозирование средней наработки до отказа иЭТ Современная элементная база – это изделия электронной техники, обладающие достаточно высокой

4
Шор Я.Б. Статистические методы анализа и контроля качества и надежности. – М.: Сов. радио, 1962. – 252 с.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=2304
    Prefix
    При этом надежность изделий электронной техники такова, что при испытаниях удается получить наработки, соответствующие экспериментальной вероятности отказов F(t)=0,0001...0,0005, и на основании этих результатов прогнозировать среднее время до отказа данных изделий. Известно
    Exact
    [4, 5]
    Suffix
    , что прогнозирование среднего значения для квантилей указанного уровня вероятностей при использовании однопараметрического меТ одиЧеСкие ПогреШНоСТи ПрогНозироваНия СредНего реСУрСа изделиЙ ЭлекТроННоЙ ТеХНики 6 экспоненциального закона приводит к завышению оценки на несколько порядков по сравнению с известными двухпараметрическими законами.

5
Стрельников В.П., Федухин А.В. Оценка и прогнозирование надежности электронных элементов и систем. – К.: Логос, 2002. – 486 с.
Total in-text references: 3
  1. In-text reference with the coordinate start=2304
    Prefix
    При этом надежность изделий электронной техники такова, что при испытаниях удается получить наработки, соответствующие экспериментальной вероятности отказов F(t)=0,0001...0,0005, и на основании этих результатов прогнозировать среднее время до отказа данных изделий. Известно
    Exact
    [4, 5]
    Suffix
    , что прогнозирование среднего значения для квантилей указанного уровня вероятностей при использовании однопараметрического меТ одиЧеСкие ПогреШНоСТи ПрогНозироваНия СредНего реСУрСа изделиЙ ЭлекТроННоЙ ТеХНики 6 экспоненциального закона приводит к завышению оценки на несколько порядков по сравнению с известными двухпараметрическими законами.

  2. In-text reference with the coordinate start=10090
    Prefix
    плотность распределения f(t) двухпараметрических распределений на основном временном интервале весьма существенно (на несколько порядков) отличаются от этих характеристик по экспоненциальному распределению, хотя исходные значения на момент совпадают. Это явление и обусловливает такое же существенное расхождение прогнозируемых значений МТТF по различным законам распределений. Таким образом
    Exact
    [5, 8]
    Suffix
    , в настоящее время при использовании экспоненциального закона завышается математическое ожидание времени до отказа (MTTF) изделий электронной техники в 50...500 и более раз по сравнению со значением этой же характеристики, вытекающей из двухпараметрических моделей, более адекватно описывающих статистику отказов. выводы Экспоненциальный закон распределения времени безотказной работы, получивш

  3. In-text reference with the coordinate start=11098
    Prefix
    Двухпараметрические диффузионные законы распределения, разработанные в Институте проблем математических машин и систем Национальной академии наук Украины, как показывают теоретические и экспериментальные исследования, дают наиболее адекватные показатели надёжности изделий электронной техники
    Exact
    [5, 8]
    Suffix
    .

6
Романов В. А. Количественная оценка надежности интегральных микросхем по результатам форсированных испытаний // ЭКиС. – Киев: VD MAIS, 2003, No10. – С. 3-6.
Total in-text references: 3
  1. In-text reference with the coordinate start=3889
    Prefix
    исследователями, следуя закону Аррениуса: , где Ea – энергия активации (для ИМС Ea = 0,7 eB); k – постоянная Больцмана (k = 8,617·10–5); Tf – температура, при которой проводились форсированные испытания (в К); Tn – рабочая температура компонентов (в К). Испытания ИМС на надежность при повышенной температуре, как правило, проводятся в соответствии со стандартом MIL-STD-883, метод 1005
    Exact
    [6]
    Suffix
    . В таблице 1 представлены коэффициенты ускорения в зависимости от температуры проведения форсированных испытаний, которыми пользуются специалисты [6,7], основываясь на выше указанных теоретических предпосылках.

  2. In-text reference with the coordinate start=4039
    Prefix
    Испытания ИМС на надежность при повышенной температуре, как правило, проводятся в соответствии со стандартом MIL-STD-883, метод 1005 [6]. В таблице 1 представлены коэффициенты ускорения в зависимости от температуры проведения форсированных испытаний, которыми пользуются специалисты
    Exact
    [6,7]
    Suffix
    , основываясь на выше указанных теоретических предпосылках. Однако экспериментального подтверждения этих данных нет, и получить их практически невозможно, поскольку получение статистических данных в нормальных условиях эксплуатации практически не реально.

  3. In-text reference with the coordinate start=5127
    Prefix
    Прогнозирование MTTf имС на основании результатов экспериментальной оценки интенсивности отказов В качестве исходных данных использованы достаточно объемные результаты испытаний интегральных микросхем BiCMOS фирмы Analog Devices [7]. В
    Exact
    [6]
    Suffix
    показано, что ИМС типа BiCMOS имеет показатель надежности FIT=5. Значение величины FIT было установлено на основании испытаний N = 26980 образцов, при этом произведение (ИМС)×(час)=EDH (приведенное полное время испытаний), то есть EDH = 2763317240 час, число отказов за время наблюдения r = 12.

7
Reliability and Quality Report. Fourth Quarter 1996. – Motorola, Inc., 1996.
Total in-text references: 2
  1. In-text reference with the coordinate start=4039
    Prefix
    Испытания ИМС на надежность при повышенной температуре, как правило, проводятся в соответствии со стандартом MIL-STD-883, метод 1005 [6]. В таблице 1 представлены коэффициенты ускорения в зависимости от температуры проведения форсированных испытаний, которыми пользуются специалисты
    Exact
    [6,7]
    Suffix
    , основываясь на выше указанных теоретических предпосылках. Однако экспериментального подтверждения этих данных нет, и получить их практически невозможно, поскольку получение статистических данных в нормальных условиях эксплуатации практически не реально.

  2. In-text reference with the coordinate start=5120
    Prefix
    Прогнозирование MTTf имС на основании результатов экспериментальной оценки интенсивности отказов В качестве исходных данных использованы достаточно объемные результаты испытаний интегральных микросхем BiCMOS фирмы Analog Devices
    Exact
    [7]
    Suffix
    . В [6] показано, что ИМС типа BiCMOS имеет показатель надежности FIT=5. Значение величины FIT было установлено на основании испытаний N = 26980 образцов, при этом произведение (ИМС)×(час)=EDH (приведенное полное время испытаний), то есть EDH = 2763317240 час, число отказов за время наблюдения r = 12.

8
Грибов В.М., Кофанов Ю.Н., Стрельников В.П. Оценивание и прогнозирование надёжности бортового аэрокосмического оборудования: Под отв. редакцией Ю.Н. Кофанова. – М.: НИУ ВШЭ, 2013. – 496 с. Рис. 1. Кривые прогнозируемых характеристик λ(t) и f(t)
Total in-text references: 2
  1. In-text reference with the coordinate start=10090
    Prefix
    плотность распределения f(t) двухпараметрических распределений на основном временном интервале весьма существенно (на несколько порядков) отличаются от этих характеристик по экспоненциальному распределению, хотя исходные значения на момент совпадают. Это явление и обусловливает такое же существенное расхождение прогнозируемых значений МТТF по различным законам распределений. Таким образом
    Exact
    [5, 8]
    Suffix
    , в настоящее время при использовании экспоненциального закона завышается математическое ожидание времени до отказа (MTTF) изделий электронной техники в 50...500 и более раз по сравнению со значением этой же характеристики, вытекающей из двухпараметрических моделей, более адекватно описывающих статистику отказов. выводы Экспоненциальный закон распределения времени безотказной работы, получивш

  2. In-text reference with the coordinate start=11098
    Prefix
    Двухпараметрические диффузионные законы распределения, разработанные в Институте проблем математических машин и систем Национальной академии наук Украины, как показывают теоретические и экспериментальные исследования, дают наиболее адекватные показатели надёжности изделий электронной техники
    Exact
    [5, 8]
    Suffix
    .