The 10 references with contexts in paper V. Vasin A., E. Ivashov N., S. Stepanchikov V., В. Васин А., Е. Ивашов Н., С. Степанчиков В. (2016) “НАДЕЖНОСТЬ ПЬЕЗОСКАНЕРОВ В ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ // RELIABILITY OF PIEZOELECTRIC SCANNERS IN PROBE MICROSCOPY” / spz:neicon:sustain:y:2013:i:1:p:92-114

1
Howland Rebecca, Benatar Lisa. A Practical Guide to Scanning Probe Microscopy / Project Editor and Booklet Designer: Christy Symanski // Copyright 1996 by Park Scientific Ihsnruments. – 76 p.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=2457
    Prefix
    Практически во всех СЗМ пьезоэлектрический сканер используется как очень тонкое позиционирующее устройство для того чтобы перемещать зонд относительно образца или образец относительно зонда. Сканер обеспечивает два независимых движения: сканирование вдоль поверхности образца (в плоскости XY) и перемещение в направлении перпендикулярном к поверхности (по оси Z)
    Exact
    [1]
    Suffix
    . Сканер зондового микроскопа перемещает зонд относительно образца по типу растровой картины как показано на рис. 1. Рис. 1. Движение сканера СЗМ в плоскости (X, Y). Точками показаны места сбора информации Сканер движется вдоль первой линии скана и обратно.

2
Быков В.А., Лазарев М.И., Саунин С.А. Сканирующая зондовая микроскопия для науки и промышленности. // Электроника: наука, технология, бизнес, No 5, с. 7 – 14 (1997).
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=3425
    Prefix
    Измеряемые данные при сканировании собираются только в одном направлении, обычно называемом направлением быстрого сканирования, чтобы минимизировать ошибки регистрации, которые возникают из-за гистерезиса сканера. Перпендикулярное направление, в котором сканер перемещается от линии к линии, называется направлением медленного сканирования
    Exact
    [2]
    Suffix
    . Пока сканер движется вдоль линии сканирования, данные изображения оцифровываются через одинаково расположенные интервалы. Данными является высота сканера по направлению Z для режима постоянной силы или режима постоянного тока.

3
Быков В.А. Сканирующая зондовая микроскопия атомного разрешения и моделирования процессов нанотехнологии // Вторая Международная научно-техническая конференция “Микроэлектроника и информатика”: Тезисы докладов. – Москва-Зеленоград, 23-24 ноября 1995 г. – С. 131.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=4234
    Prefix
    Некоторые системы имеют 3000 точки данных на линию. Число линий устанавливается обычно равным числу точек на линии. Таким образом, идеальная установка данных соответствует квадратной сетке измерений
    Exact
    [3]
    Suffix
    . При работе сканеров имеют место такие нежелательные эффекты, как гистерезис, старение, крип, которые приводят к искажению получаемого изображения. Пьезоэлектрические сканеры является критическими элементами в сканирующих зондовых микроскопах, которые существенно влияют на качество получаемого изображения.

4
Быков В.А. Технологии и оборудование для экспериментальных работ в области нанофизики и наноэлектроники// Научная сессия МИФИ – 2010. Сборник научных трудов. – 2010, Т.2. – С.119.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=4775
    Prefix
    Пьезоэлектрические сканеры является критическими элементами в сканирующих зондовых микроскопах, которые существенно влияют на качество получаемого изображения. Поэтому характеристики сканера должны удовлетворять определенным требованиям. Одним из самых важных требований, предъявляемых к сканеру, является требование ортогональности сканера
    Exact
    [4]
    Suffix
    . Пьезоэлектрический эффект был открыт в 1880 году Джексом и Пьером Кюри. Они заметили, что в некоторых кристаллах при механическом воздействии на них появляется электрическая поляризация, причем степень ее пропорциональна величине воздействия.

5
Рабек Я. Экспериментальные методы в фотохимии и фотофизике. В 2-х томах. Т. 1. Пер. с англ. – М.: Мир, 1985. – 608 с.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=5213
    Prefix
    Они заметили, что в некоторых кристаллах при механическом воздействии на них появляется электрическая поляризация, причем степень ее пропорциональна величине воздействия. Позже Кюри открыл инверсионный пьезоэлектрический эффект – деформирование материалов, помещенных в электрическое поле. Эти явления еще называют прямым и обратным пьезоэлектрическим эффектом
    Exact
    [5]
    Suffix
    . Пьезоэлектрический эффект присущ некоторым природным кристаллам, таким как кварц и турмалин, которые в течение многих лет использовались в качестве электромеханических преобразователей. Кристаллическая решетка кристаллов, обладающих пьезоэлектрическим эффектом, не имеет центра симметрии.

6
Сушхара К., Мори И., Тобзе Т., Ито Т., Табста М., Синодзаки Т. Пьезоэлектрический столик с двумя поступательными и одной вращательной степенями свободы для субмикронных литографических систем // Приборы для научных исследований, 1989.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=8277
    Prefix
    Так, у коэффициента g12 индекс 1 означает, что пластина деформируется вдоль оси Х, а напряженность поля измеряется вдоль оси Y. У коэффициента d36 индекс 3 означает, что электрическое поле приложено вдоль оси Z. Индекс 6 означает, что кристалл претерпевает сдвиг в плоскости XY
    Exact
    [6]
    Suffix
    . Для пьезоэлектрического материала характерно появление поляризационного заряда при его механической деформации и наоборот, если пьезоэлектрический материал внести в электрическое поле, то можно наблюдать изменение его длины.

7
Информационные технологии в проектировании объектов электронного машиностроения: Монография. В 5-ти кн. Кн. 4. В.А. Васин, Е.Н. Ивашов, А.Ю. Павлов, С.В. Степанчиков. Информационная технология в проектировании сканеров зондовых микроскопов. – М.: Издательство НИИ ПМТ, 2011. – 253 с.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=15657
    Prefix
    В общем случае множества Ф1, Ф2,..., Фn могут пересекаться, что приводит к взаимозависимости событий потери способности нанотехнологического оборудования выполнять различные функции. По виду пересекаемости множеств Ф1, Ф2,..., Фn выделим следующие структуры МФПМ
    Exact
    [7]
    Suffix
    : (∃i)( ∃j )[(i ≠ j ) → Фi ∩ Фj ≠ Ǿ]; (10) (∀i)(∀j )[(i ≠ j ) → Фi ∩ Фj = Ǿ]; (11) (∀i)(∀j )[(i ≠ j ) → Фi ∩ Фj = Ω], (12) где i, j ∈ N, N = {1, 2, 3,..., n}. Структура МФПМ (10) характеризуется независимостью событий потери нанотехнологическим оборудованием способности выполнять различные функции; структура МФПМ (11) соответствует произвольному виду пересекаемости множеств Ф1, Ф2,.

8
Раинкшкс К., Ушаков И.А. Оценка надежности систем с использованием графов. – М.: Радио и связь, 1988.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=17060
    Prefix
    Рассмотрим ПС, для которых условие работоспособности заключается в возможности выполнения каждой функции fi ∈ F хотя бы в одном МФПМ. Оценку вероятности безотказной работы проведем на основе известного комбинаторновероятностного метода включения-исключения
    Exact
    [8]
    Suffix
    , позволяющего получить как точную, так и приближенную с требуемой погрешностью оценку. Для МФПМ вида (11) вероятность безотказной работы ПС Р оценивается как (13) где ()...ijaPff f∨∨∨ – вероятность того, что в ПС может быть выполнена хотя бы одна функция из множества функций {fi, fj,..., fa} () ()...1 1.... m Pff fij aij apff f∨∨∨ =−− ∨∨∨ Вероятность сохранения ПС способности выполне

9
Клейнрок Л. Теория массового обслуживания. – М.: Машиностроение, 1979.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=19111
    Prefix
    Пусть задано w0 – предельно допустимое среднее время ожидания обслуживания запросов на выполнение функций fi ∈ F, i ∈ N. Каждый пьезомодуль представим простейшей системой массового обслуживания типа M/M/1
    Exact
    [9]
    Suffix
    . Число пьезомодулей m0, при котором запросы обслуживаются за допустимое среднее время, определим как 0 0 1, v m w  =ρ+  где ρ = vλ; λ – суммарная интенсивность запросов на выполнение функций fi ∈ F; v – среднее время их выполнения.

10
Слободин М.Ю., Царев Р.Ю. Компьютерная поддержка многоатрибутивных методов выбора и принятий решения при проектировании корпоративных информационно-управляющих систем. – СПб.: Инфо-да, 2004. – 223 с.
Total in-text references: 2
  1. In-text reference with the coordinate start=19686
    Prefix
    При этом вероятность работоспособности ПС определяется по формуле (13) с той разницей, что P(fi∨ fj ∨...∨ fa) – вероятность того, что хотя бы одна функция из множества {fi, fj,..., fa} может быть выполнена не менее чем m0 пьезомодулями
    Exact
    [10]
    Suffix
    : () () () 0 ......1..., mmg gR ij amij aij a gm Pff f Cpff fpff f − = ∨ ∨∨ = ∨ ∨∨ × − ∨ ∨∨ ∑  где вероятность p(fi∨ fj ∨...∨ fa) вычисляемая по формуле (14). Определение значения m0 при направлении всего потока запросов m0 МФПМ приводит к нижней (пессимистической) оценке вероятности работоспособности ПС.

  2. In-text reference with the coordinate start=23296
    Prefix
    Приближенная оценка по методу включения-исключения осуществляется на основе формулы (13) с учётом того, что при ограничении точности вычислений до члена со знаком плюс получаем верхнюю оценку, а со знаком минус – нижнюю
    Exact
    [10]
    Suffix
    . Последовательное и параллельное расположение пьезомодулей. Надёжность систем из МФПМ зависит от системы автоматического управления этими пьезомодулями, а также надёжности работы самих пьезомодулей, в которых реализуется преобразование электрической энергии в механическую.