The 12 reference contexts in paper A. Ishkov S., V. Zuev D., А. Ишков С., В. Зуев Д. (2016) “МЕТОДИКА ОЦЕНКИ ГАММА-ПРОЦЕНТНОЙ НАРАБОТКИ РАДИОЭЛЕКТРОННЫХ КОМПОНЕНТОВ ИНФОРМАЦИОННО-ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ СИСТЕМ ПО РЕЗУЛЬТАТАМ КРАТКОВРЕМЕННЫХ ИСПЫТАНИЙ // EVALUATION METHODOLOGY OF C-PERCENTILE TIME TO FAILURE OF ELECTRONIC COMPONENTS IN INFORMATIONMEASURING SYSTEMS BY SHORT-TERM TEST RESULTS” / spz:neicon:sustain:y:2015:i:2:p:82-89

  1. Start
    3388
    Prefix
    Различные особенности и требования к характеристикам разрабатываемой информационно-измерительной системы зачастую приводят к необходимости рассмотрения вопроса о возможности применения изделий электронной техники в условиях эксплуатации, отличающихся от установленных в технической документации
    Exact
    [1]
    Suffix
    . В соответствии с [2] при необходимости применения изделий в режимах и условиях, расширяющих область их применения, не связанных с ухудшением их основных технических параметров, возможно только по протоколу разрешения предприятия-изготовителя изделия или организации, на которую возложена обязанность по выдаче протокола разрешения применения.
    (check this in PDF content)

  2. Start
    3410
    Prefix
    Различные особенности и требования к характеристикам разрабатываемой информационно-измерительной системы зачастую приводят к необходимости рассмотрения вопроса о возможности применения изделий электронной техники в условиях эксплуатации, отличающихся от установленных в технической документации [1]. В соответствии с
    Exact
    [2]
    Suffix
    при необходимости применения изделий в режимах и условиях, расширяющих область их применения, не связанных с ухудшением их основных технических параметров, возможно только по протоколу разрешения предприятия-изготовителя изделия или организации, на которую возложена обязанность по выдаче протокола разрешения применения.
    (check this in PDF content)

  3. Start
    5052
    Prefix
    Материальные и временные затраты, большой объем испытаний на длительную безотказность приводят к необходимости применения вероятностнофизического метода оценки показателей надежности на основе результатов кратковременных испытаний. Метод основывается на статистическом прогнозировании показателей надежности по временной зависимости
    Exact
    [3]
    Suffix
    . Согласно этому методу сначала проводятся испытания на кратковременную безотказность в требуемых заказчиком режимах и условиях. Затем вычисляются показатели надежности резисторов на основе статистических данных об изменении электрических параметров изделий, количестве отказов, полученных в ходе испытаний.
    (check this in PDF content)

  4. Start
    6620
    Prefix
    По полученным в результате испытаний данным выполняется расчет значений статистических показателей, от которых зависит граница прогнозируемых множеств и значения показателей надежности. В качестве таких показателей используются следующие случайные величины, используемые в теории надежности
    Exact
    [4]
    Suffix
    : 1) математическое ожидание: , где i = 1..n – номера испытуемых резисторов, j = 1..l – моменты контроля значений параметровкритериев годности. 2) среднеквадратическое отклонение случайной величины: . 3) коэффициент корреляции: , где s = 0..1-j.
    (check this in PDF content)

  5. Start
    7104
    Prefix
    Нахождение интервальных оценок математического ожидания, среднеквадратического отклонения проводится в рамках гауссовской модели, когда плотность распределения случайной величины Xij может быть описана в виде нормального закона распределения
    Exact
    [5]
    Suffix
    . Границы отклонения величины Xij, и, следовательно, вероятность безотказной работы резисторов зависят от коэффициента регрессии и условного среднеквадратического отклонения. Для коэффициента регрессии определяется гамма-процентная доверительная оценка.
    (check this in PDF content)

  6. Start
    8160
    Prefix
    Расчет значений математического ожидания, среднеквадратического отклонения случайной величины и коэффициента корреляции на основе измеренных значений параметров-критериев годности резисторов для каждого временного сечения. 3. Вычисление коэффициента регрессии
    Exact
    [6]
    Suffix
    : где j = 1..l-1 , si = 1..l-j. 4. Гамма-процентная доверительная оценка коэффициента регрессии. 4.1. Определение временных сечений (далее T1 и T2), удовлетворяющих условию: , (1) где T принимается равным значению Тγ; 4.2.
    (check this in PDF content)

  7. Start
    8562
    Prefix
    Определение временных сечений (далее T1 и T2), удовлетворяющих условию: , (1) где T принимается равным значению Тγ; 4.2. Нахождение верхней () и нижней () границы среднеквадратического отклонения σ двумерного распределения параметра критерия годности для временных сечений tj, tj+s1 (далее t1 и t2)
    Exact
    [7]
    Suffix
    : , , , где σ1, σ2 – значения среднеквадратического отклонения контролируемого параметра-критерия годности резистора во временных сечениях t1 и t2; r12 – коэффициент парной корреляции между значениями контролируемого параметра в 1 и 2 временных сечениях.
    (check this in PDF content)

  8. Start
    9070
    Prefix
    Un–2(γ) – гамма-процентный квантиль распределения Стьюдента с n-2 степенями свободы; 4.3. Определение верхней ( ) и нижней ( ) границы математического ожидания m двумерного распределения параметра критерия годности для найденных временных сечений t1 и t2
    Exact
    [7]
    Suffix
    : , , , где m1, m2, – значения математического ожидания отклонения контролируемого параметра-критерия годности резистора во временных сечениях t1 и t2; Uγ – гамма-процентный квантиль нормального распределения; Zn–2(γ) – гамма-процентный квантиль распределения χ2 с n-2 степенями свободы; 4.4.
    (check this in PDF content)

  9. Start
    9476
    Prefix
    m1, m2, – значения математического ожидания отклонения контролируемого параметра-критерия годности резистора во временных сечениях t1 и t2; Uγ – гамма-процентный квантиль нормального распределения; Zn–2(γ) – гамма-процентный квантиль распределения χ2 с n-2 степенями свободы; 4.4. Вычисление верхней и нижней границы оценки математического ожидания , для временного сечения соответствующего Тγ
    Exact
    [7]
    Suffix
    : ; Значения верхней и нижней границы доверительного интервала соответственно вычисляются по следующим формулам [7]: ; ; где коэффициент – является целым числом. 5. Оценка соответствия резисторов требованиям по надежности. 5.1.
    (check this in PDF content)

  10. Start
    9591
    Prefix
    Вычисление верхней и нижней границы оценки математического ожидания , для временного сечения соответствующего Тγ [7]: ; Значения верхней и нижней границы доверительного интервала соответственно вычисляются по следующим формулам
    Exact
    [7]
    Suffix
    : ; ; где коэффициент – является целым числом. 5. Оценка соответствия резисторов требованиям по надежности. 5.1. Вычисление величины вероятности безотказности работы на время. равное Тγ, по формуле [8]: P(t) = PП(T)·PB(T), где PП(T) – вероятность безотказной работы резисторов в отношении постепенных отказов; PB(T) – вероятность того, что в выборке не возникнет внезапного отказа, при условии,
    (check this in PDF content)

  11. Start
    9790
    Prefix
    математического ожидания , для временного сечения соответствующего Тγ [7]: ; Значения верхней и нижней границы доверительного интервала соответственно вычисляются по следующим формулам [7]: ; ; где коэффициент – является целым числом. 5. Оценка соответствия резисторов требованиям по надежности. 5.1. Вычисление величины вероятности безотказности работы на время. равное Тγ, по формуле
    Exact
    [8]
    Suffix
    : P(t) = PП(T)·PB(T), где PП(T) – вероятность безотказной работы резисторов в отношении постепенных отказов; PB(T) – вероятность того, что в выборке не возникнет внезапного отказа, при условии, что во время испытаний их не было; 5.2.
    (check this in PDF content)

  12. Start
    10103
    Prefix
    величины вероятности безотказности работы на время. равное Тγ, по формуле [8]: P(t) = PП(T)·PB(T), где PП(T) – вероятность безотказной работы резисторов в отношении постепенных отказов; PB(T) – вероятность того, что в выборке не возникнет внезапного отказа, при условии, что во время испытаний их не было; 5.2. Определение вероятности безотказной работы по постепенным и внезапным отказам
    Exact
    [8]
    Suffix
    : , , , где – верхняя доверительная граница интенсивности отказов по внезапным отказам, Θ – функция Хевисайда. Если априорная информация по внезапным отказам изделий-аналогов при их эксплуатации отсутствует, 85 Методика оценки гаММа-процентной наработки радиоЭлектроннЫХ коМпонентов инФорМационно-изМерительнЫХ систеМ по резУльтатаМ кратковреМеннЫХ испЫтаний величина принимается равной среднегр
    (check this in PDF content)