The 9 reference contexts in paper Yu. Kofanov N., V. Strelnikov P., Ю. Кофанов Н., В. Стрельников П. (2016) “МЕТОДИЧЕСКИЕ ПОГРЕШНОСТИ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ СРЕДНЕГО РЕСУРСА ИЗДЕЛИЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ // METHODOLOGICAL IMPRECISION OF PREDICTION OF ELECTRONICS’ MEAN LIFE TIME” / spz:neicon:sustain:y:2015:i:1:p:5-12

  1. Start
    1134
    Prefix
    В последние годы исследователи надежности техники используют решения разнообразных задач надежности, основанные на применении различных теоретических моделей надежности (экспоненциального, Вейбулла, логарифмически нормального, диффузионных
    Exact
    [1]
    Suffix
    и других распределений [2, 3]), которые приводят к значительному расхождению получаемых результатов. Ниже приводятся результаты оценки (прогнозирования) средней наработки до отказа изделий электронной техники (ИЭТ) при использовании различных теоретических моделей отказов. оценка и прогнозирование средней наработки до отказа иЭТ Современная элементная база – это изделия электронной техники, о
    (check this in PDF content)

  2. Start
    1161
    Prefix
    В последние годы исследователи надежности техники используют решения разнообразных задач надежности, основанные на применении различных теоретических моделей надежности (экспоненциального, Вейбулла, логарифмически нормального, диффузионных [1] и других распределений
    Exact
    [2, 3]
    Suffix
    ), которые приводят к значительному расхождению получаемых результатов. Ниже приводятся результаты оценки (прогнозирования) средней наработки до отказа изделий электронной техники (ИЭТ) при использовании различных теоретических моделей отказов. оценка и прогнозирование средней наработки до отказа иЭТ Современная элементная база – это изделия электронной техники, обладающие достаточно высокой
    (check this in PDF content)

  3. Start
    2301
    Prefix
    При этом надежность изделий электронной техники такова, что при испытаниях удается получить наработки, соответствующие экспериментальной вероятности отказов F(t)=0,0001...0,0005, и на основании этих результатов прогнозировать среднее время до отказа данных изделий. Известно
    Exact
    [4, 5]
    Suffix
    , что прогнозирование среднего значения для квантилей указанного уровня вероятностей при использовании однопараметрического 5 экспоненциального закона приводит к завышению оценратура, при которой проводились форсированные испытания (в К); Tn – рабочая температура компонентов (в К).
    (check this in PDF content)

  4. Start
    2811
    Prefix
    среднего значения для квантилей указанного уровня вероятностей при использовании однопараметрического 5 экспоненциального закона приводит к завышению оценратура, при которой проводились форсированные испытания (в К); Tn – рабочая температура компонентов (в К). Испытания ИМС на надежность при повышенной температуре, как правило, проводятся в соответствии со стандартом MIL-STD-883, метод 1005
    Exact
    [6]
    Suffix
    . В таблице 1 представлены коэффициенты ускорения в зависимости от температуры проведения форсированных испытаний, которыми пользуются специалисты [6,7], основываясь на выше указанных теоретических предпосылках.
    (check this in PDF content)

  5. Start
    2961
    Prefix
    Испытания ИМС на надежность при повышенной температуре, как правило, проводятся в соответствии со стандартом MIL-STD-883, метод 1005 [6]. В таблице 1 представлены коэффициенты ускорения в зависимости от температуры проведения форсированных испытаний, которыми пользуются специалисты
    Exact
    [6,7]
    Suffix
    , основываясь на выше указанных теоретических предпосылках. Однако экспериментального подтверждения этих данных нет, и получить их практически невозможно, поскольку получение статистических данных в нормальных условиях эксплуатации практически не реально.
    (check this in PDF content)

  6. Start
    4041
    Prefix
    Прогнозирование MTTf имС на основании результатов экспериментальной оценки интенсивности отказов В качестве исходных данных использованы достаточно объемные результаты испытаний интегральных микросхем BiCMOS фирмы Analog Devices
    Exact
    [7]
    Suffix
    . В [6] показано, что ИМС типа BiCMOS имеет показатель надежности FIT=5. Значение величины FIT было установлено на основании испытаний N = 26980 образцов, при этом произведение (ИМС)×(час)=EDH (приведенное полное время испытаний), то есть EDH = 2763317240 час, число отказов за время наблюдения r = 12.
    (check this in PDF content)

  7. Start
    4048
    Prefix
    Прогнозирование MTTf имС на основании результатов экспериментальной оценки интенсивности отказов В качестве исходных данных использованы достаточно объемные результаты испытаний интегральных микросхем BiCMOS фирмы Analog Devices [7]. В
    Exact
    [6]
    Suffix
    показано, что ИМС типа BiCMOS имеет показатель надежности FIT=5. Значение величины FIT было установлено на основании испытаний N = 26980 образцов, при этом произведение (ИМС)×(час)=EDH (приведенное полное время испытаний), то есть EDH = 2763317240 час, число отказов за время наблюдения r = 12.
    (check this in PDF content)

  8. Start
    9279
    Prefix
    плотность распределения f(t) двухпараметрических распределений на основном временном интервале весьма существенно (на несколько порядков) отличаются от этих характеристик по экспоненциальному распределению, хотя исходные значения на момент совпадают. Это явление и обусловливает такое же существенное расхождение прогнозируемых значений МТТF по различным законам распределений. Таким образом
    Exact
    [5, 8]
    Suffix
    , в настоящее время при использовании экспоненциального закона завышается математическое ожидание времени до отказа (MTTF) изделий электронной техники в 50...500 и более раз по сравнению со значением этой же характеристики, вытекающей из двухпараметрических моделей, более адекватно описывающих статистику отказов. выводы Экспоненциальный закон распределения времени безотказной работы, получивш
    (check this in PDF content)

  9. Start
    10287
    Prefix
    Двухпараметрические диффузионные законы распределения, разработанные в Институте проблем математических машин и систем Национальной академии наук Украины, как показывают теоретические и экспериментальные исследования, дают наиболее адекватные показатели надёжности изделий электронной техники
    Exact
    [5, 8]
    Suffix
    .
    (check this in PDF content)