The 48 reference contexts in paper B. Yakubovich I., Б. Якубович И. (2016) “ФЛУКТУАЦИОННЫЙ НЕРАЗРУШАЮЩИЙ КОНТРОЛЬ ТВЕРДЫХ МАТЕРИАЛОВ // FLUCTUATION NONDESTRUCTIVE TESTING OF SOLID MATERIALS” / spz:neicon:sustain:y:2014:i:3:p:43-61

  1. Start
    2033
    Prefix
    Степень дефектности материала возможно оценивать по спектральным характеристикам избыточного шума. Природа электрических флуктуаций в твердых телах и вопросы применения флуктуаций для неразрушающего контроля электронных приборов рассмотрены автором в
    Exact
    [1-3]
    Suffix
    . Далее детально рассмотрим возможности применения электрических низкочастотных флуктуаций для неразрушающего контроля твердых материалов. Электрические флуктуации в твердых телах на низких частотах, как правило, определяются избыточным шумом, который обычно превалирует над другими типами шумов в диапазоне низких частот.
    (check this in PDF content)

  2. Start
    2698
    Prefix
    Избыточным называют шум, спектральная плотность мощности которого имеет вид: S( f )~1/fa, где α, как правило, близко к 1 (его также называют шумом 1/f ). Избыточный низкочастотный шум широко исследуется в течение длительного времени и экспериментально достаточно хорошо изучен
    Exact
    [1-5]
    Suffix
    . Частотная зависимость и порядок величины спектральной плотности шума известны для многих классов твердых тел и электронных устройств. Экспериментально изучены свойства избыточного шума в большом числе разнообразных объектов.
    (check this in PDF content)

  3. Start
    3086
    Prefix
    Экспериментально изучены свойства избыточного шума в большом числе разнообразных объектов. Происхождение избыточного шума связывается с дефектами структуры твердых тел. На это указывают результаты многочисленных исследований, их обзор приведен в
    Exact
    [1-5]
    Suffix
    . Рассмотрим экспериментальные и теоретические исследования, демонстрирующие связь избыточного шума с дефектами структуры твердых тел. Получены многочисленные разноплановые экспериментальные результаты, показывающие связь избыточного низкочастотного шума с дефектами структуры твердых тел.
    (check this in PDF content)

  4. Start
    3467
    Prefix
    Получены многочисленные разноплановые экспериментальные результаты, показывающие связь избыточного низкочастотного шума с дефектами структуры твердых тел. Рассмотрим наиболее значительные из них. Наиболее ранние результаты в этом направлении
    Exact
    [6-8]
    Suffix
    показали, что пластические деформации твердых тел, вызванные давлением и высокой температурой, усиливают избыточный шум. Впоследствии было получено большое количество аргументов, свидетельствующих о влиянии дефектов структуры твердых тел на свойства электрического низкочастотного шума.
    (check this in PDF content)

  5. Start
    4176
    Prefix
    В металлах одним из убедительных аргументов связи механизма формирования избыточного шума с дефектами структуры является зависимость шума от механических деформаций. В пленках различных металлов – свинца, олова, платины, золота, серебра – обнаружено увеличение избыточного шума приблизительно на порядок величины при их деформации
    Exact
    [9]
    Suffix
    . После снятия деформаций уровень шума в пленках снижался, но оставался выше первоначального. Обнаруженные эффекты могут быть связаны с образованием и аннигиляцией микродефектов структуры. Результаты изучения зависимости спектральной плотности шума от механических напряжений в области упругой деформации для пленок хрома приведены в [10].
    (check this in PDF content)

  6. Start
    4514
    Prefix
    Обнаруженные эффекты могут быть связаны с образованием и аннигиляцией микродефектов структуры. Результаты изучения зависимости спектральной плотности шума от механических напряжений в области упругой деформации для пленок хрома приведены в
    Exact
    [10]
    Suffix
    . С увеличением растягивающих напряжений наблюдается обратимое возрастание интенсивности низкочастотного шума. Такое поведение может быть объяснено тем, что с ростом растягивающих напряжений увеличивается расстояние между атомами, вследствие этого уменьшается энергия активации образования вакансий, и увеличивается концентрация дефектов данного типа.
    (check this in PDF content)

  7. Start
    5019
    Prefix
    Такое поведение может быть объяснено тем, что с ростом растягивающих напряжений увеличивается расстояние между атомами, вследствие этого уменьшается энергия активации образования вакансий, и увеличивается концентрация дефектов данного типа. Воздействие пластических деформаций на пленки хрома приводит к тому, что после снятия нагрузки уровень избыточного шума оказывается выше исходного
    Exact
    [10]
    Suffix
    . Это может быть объяснено появлением дополнительных микродефектов вследствие пластических деформаций. Известно, что важным фактором структурной неравновесности вакуумных конденсатов являются собственные макронапряжения.
    (check this in PDF content)

  8. Start
    5406
    Prefix
    Известно, что важным фактором структурной неравновесности вакуумных конденсатов являются собственные макронапряжения. Исследовались зависимости избыточного шума от внутренних механических напряжений в тонких алюминиевых пленках, полученных методом термического испарения в вакууме
    Exact
    [11,12]
    Suffix
    . В результате установлено, что при увеличении уровня макронапряжений возрастает величина спектральной плотности шума. Растягивающие напряжения, как известно, увеличивают концентрацию вакансий, чем и объясняется повышение уровня избыточного шума [12].
    (check this in PDF content)

  9. Start
    5661
    Prefix
    В результате установлено, что при увеличении уровня макронапряжений возрастает величина спектральной плотности шума. Растягивающие напряжения, как известно, увеличивают концентрацию вакансий, чем и объясняется повышение уровня избыточного шума
    Exact
    [12]
    Suffix
    . Установлено также возрастание показателя степени частоты при увеличении как положительных, так и отрицательных напряжений. Наблюдаемое увеличение показателя формы спектра с ростом механических напряжений указывает на то, что при этом увеличивается вклад нестационарных механизмов возникновения шума.
    (check this in PDF content)

  10. Start
    6042
    Prefix
    Наблюдаемое увеличение показателя формы спектра с ростом механических напряжений указывает на то, что при этом увеличивается вклад нестационарных механизмов возникновения шума. Аналогичные результаты были установлены для пленок хрома. Из приведенных в
    Exact
    [13]
    Suffix
    экспериментальных результатов следует, что в пленках хрома существует связь между уровнем и характером избыточного шума и величиной внутренних механических напряжений. При этом в пленках с большими внутренними напряжениями наблюдается и более высокий уровень низкочастотного шума.
    (check this in PDF content)

  11. Start
    6714
    Prefix
    Экспериментальное изучение связи избыточного шума с механическими напряжениями в металлических пленках по45 казало, что зависимость спектральной плотности шума от механических напряжений для пленок алюминия, молибдена и тантала
    Exact
    [12,14,15]
    Suffix
    подчиняется экспоненциальному закону. Возрастание спектральной плотности шума с увеличением напряжений может быть объяснено интенсивным ростом концентрации дефектов в пленке при достаточно больших механических напряжениях.
    (check this in PDF content)

  12. Start
    7200
    Prefix
    Это подтверждается тем, что при растягивающих деформациях электрическое сопротивление пленки обратимо возрастает. Установлена связь мощности избыточного шума со структурными факторами металлов. При исследовании тонких алюминиевых пленок было обнаружено
    Exact
    [12]
    Suffix
    , что спектральная плотность избыточного шума возрастает с увеличением скорости конденсации пленок, причем этот результат наблюдался при осаждении на подложки, обладающие существенно различными физическими свойствами.
    (check this in PDF content)

  13. Start
    7780
    Prefix
    Исследования микроструктуры образцов алюминия показали, что большей поверхностной плотности зерен соответствует большая величина спектральной плотности шума. Подобные закономерности были установлены для пленок хрома, молибдена
    Exact
    [10]
    Suffix
    и серебра [16]. Таким образом, установлено, что диспергирование кристаллитов приводит к повышению уровня шума. При исследовании пленок хрома обнаружено, что интенсивность избыточного шума зависит от концентрации вакансий внутри зерен.
    (check this in PDF content)

  14. Start
    7795
    Prefix
    Исследования микроструктуры образцов алюминия показали, что большей поверхностной плотности зерен соответствует большая величина спектральной плотности шума. Подобные закономерности были установлены для пленок хрома, молибдена [10] и серебра
    Exact
    [16]
    Suffix
    . Таким образом, установлено, что диспергирование кристаллитов приводит к повышению уровня шума. При исследовании пленок хрома обнаружено, что интенсивность избыточного шума зависит от концентрации вакансий внутри зерен.
    (check this in PDF content)

  15. Start
    8179
    Prefix
    При исследовании пленок хрома обнаружено, что интенсивность избыточного шума зависит от концентрации вакансий внутри зерен. Отмеченные факты показывают связь избыточного шума со структурными факторами. Влияние отжига на избыточный шум экспериментально исследовано в пленках алюминия
    Exact
    [11,17]
    Suffix
    и хрома [18]. Проводились измерения уровня шума до и после отжига дефектов. Показано, что в результате отжига, приводящего к уменьшению дефектности структуры, избыточный шум пленок снижался. Изучение влияния отжига наведенных дефектов на интенсивность низкочастотного шума алюминиевых пленок проведено в [19,20].
    (check this in PDF content)

  16. Start
    8195
    Prefix
    При исследовании пленок хрома обнаружено, что интенсивность избыточного шума зависит от концентрации вакансий внутри зерен. Отмеченные факты показывают связь избыточного шума со структурными факторами. Влияние отжига на избыточный шум экспериментально исследовано в пленках алюминия [11,17] и хрома
    Exact
    [18]
    Suffix
    . Проводились измерения уровня шума до и после отжига дефектов. Показано, что в результате отжига, приводящего к уменьшению дефектности структуры, избыточный шум пленок снижался. Изучение влияния отжига наведенных дефектов на интенсивность низкочастотного шума алюминиевых пленок проведено в [19,20].
    (check this in PDF content)

  17. Start
    8491
    Prefix
    Показано, что в результате отжига, приводящего к уменьшению дефектности структуры, избыточный шум пленок снижался. Изучение влияния отжига наведенных дефектов на интенсивность низкочастотного шума алюминиевых пленок проведено в
    Exact
    [19,20]
    Suffix
    . Дефекты в пленках создавались в результате облучения электронами. После облучения наблюдалось значительное увеличение интенсивности шума. Отжиг дефектов приводил к восстановлению уровня низкочастотного шума.
    (check this in PDF content)

  18. Start
    8718
    Prefix
    Дефекты в пленках создавались в результате облучения электронами. После облучения наблюдалось значительное увеличение интенсивности шума. Отжиг дефектов приводил к восстановлению уровня низкочастотного шума. В работе
    Exact
    [21]
    Suffix
    при изучении влияния отжига на избыточный шум металлических пленок получены результаты, свидетельствующие в пользу того, что шум вызван движением дефектов структуры. Исследования избыточного шума в большом числе пленок различных металлов [22] показали, что с увеличением плотности примесей и дефектов в пленке, шум возрастает.
    (check this in PDF content)

  19. Start
    8961
    Prefix
    В работе [21] при изучении влияния отжига на избыточный шум металлических пленок получены результаты, свидетельствующие в пользу того, что шум вызван движением дефектов структуры. Исследования избыточного шума в большом числе пленок различных металлов
    Exact
    [22]
    Suffix
    показали, что с увеличением плотности примесей и дефектов в пленке, шум возрастает. Установлено, что облучение пленок меди потоками электронов приводит к увеличению спектральной плотности избыточного шума более чем на порядок.
    (check this in PDF content)

  20. Start
    9195
    Prefix
    Исследования избыточного шума в большом числе пленок различных металлов [22] показали, что с увеличением плотности примесей и дефектов в пленке, шум возрастает. Установлено, что облучение пленок меди потоками электронов приводит к увеличению спектральной плотности избыточного шума более чем на порядок. В
    Exact
    [23]
    Suffix
    обнаружено, что радиационные повреждения пленок меди, легированных индием, вызывают увеличение избыточного шума. В [24] изучено влияние γ-излучения на избыточный шум пленок ниобия. Воздействие γ-излучения приводит к появлению дополнительных дефектов в кристаллической решетке.
    (check this in PDF content)

  21. Start
    9316
    Prefix
    Установлено, что облучение пленок меди потоками электронов приводит к увеличению спектральной плотности избыточного шума более чем на порядок. В [23] обнаружено, что радиационные повреждения пленок меди, легированных индием, вызывают увеличение избыточного шума. В
    Exact
    [24]
    Suffix
    изучено влияние γ-излучения на избыточный шум пленок ниобия. Воздействие γ-излучения приводит к появлению дополнительных дефектов в кристаллической решетке. После облучения избыточный шум пленок возрастает.
    (check this in PDF content)

  22. Start
    9934
    Prefix
    Имеются многочисленные экспериментальные факты, позволяющие связать избыточный низкочастотный шум со структурными дефектами в полупроводниках. Рассмотрим такие результаты. Исследование влияния на избыточный шум контролируемо вводимых дислокаций в кремний показало следующее. В работе
    Exact
    [25]
    Suffix
    установлено, что введение дислокаций вызывает возрастание уровня шума. При этом увеличение шума существенно зависит от температуры. В [26] введение дислокаций приводило к серьезному росту интенсивности избыточного шума, причем интенсивность шума монотонно возрастала с увеличением плотности дислокаций.
    (check this in PDF content)

  23. Start
    10073
    Prefix
    Исследование влияния на избыточный шум контролируемо вводимых дислокаций в кремний показало следующее. В работе [25] установлено, что введение дислокаций вызывает возрастание уровня шума. При этом увеличение шума существенно зависит от температуры. В
    Exact
    [26]
    Suffix
    введение дислокаций приводило к серьезному росту интенсивности избыточного шума, причем интенсивность шума монотонно возрастала с увеличением плотности дислокаций. Влияние дефектов на шум показано в экспериментах, где структурные несовершенства вводятся методом ионной имплантации.
    (check this in PDF content)

  24. Start
    10372
    Prefix
    В [26] введение дислокаций приводило к серьезному росту интенсивности избыточного шума, причем интенсивность шума монотонно возрастала с увеличением плотности дислокаций. Влияние дефектов на шум показано в экспериментах, где структурные несовершенства вводятся методом ионной имплантации. В работах
    Exact
    [27,28]
    Suffix
    установлено, что структурные нарушения, вызванные ионной имплантацией, приводят к значительному увеличению избыточного шума в кремнии. Последующий отжиг, восстанавливающий структурное совершенство материала, вызывает снижение шума.
    (check this in PDF content)

  25. Start
    10681
    Prefix
    В работах [27,28] установлено, что структурные нарушения, вызванные ионной имплантацией, приводят к значительному увеличению избыточного шума в кремнии. Последующий отжиг, восстанавливающий структурное совершенство материала, вызывает снижение шума. Обнаружено
    Exact
    [29]
    Suffix
    , что ультразвуковая обработка эпитаксиальных образцов GaAs вызывает рост интенсивности низкочастотного шума. Получен ряд результатов, показывающих связь избыточного низкочастотного шума в полупроводниках со структурными дефектами, возникающими при сильном (деструктивном) сжатии.
    (check this in PDF content)

  26. Start
    11083
    Prefix
    Получен ряд результатов, показывающих связь избыточного низкочастотного шума в полупроводниках со структурными дефектами, возникающими при сильном (деструктивном) сжатии. Нарушения решетки полупроводников, возникающие в ходе деструктивного сжатия, качественно изучены достаточно хорошо
    Exact
    [30,31]
    Suffix
    . Различными методами изучения структуры твердых тел показано, что воздействие на полупроводниковые материалы механических нагрузок приводит к образованию дислокаций, дисклинаций, вакансий и кластеров вакансий, других типов дефектов.
    (check this in PDF content)

  27. Start
    11327
    Prefix
    Различными методами изучения структуры твердых тел показано, что воздействие на полупроводниковые материалы механических нагрузок приводит к образованию дислокаций, дисклинаций, вакансий и кластеров вакансий, других типов дефектов. В
    Exact
    [32]
    Suffix
    приведены результаты, свидетельствующие о влиянии деструктивного сжатия на избыточный шум в GaAs. Установлено, что по мере нарастания деструкции возрастает интенсивность низкочастотного шума. Наблюдалось увеличение интенсивности шума, достигающее двух порядков.
    (check this in PDF content)

  28. Start
    12060
    Prefix
    Обнаружено, что при деструктивном сжатии уровень избыточного шума возрастает в такой же степени, как и концентрация локальных уровней, обусловленных структурными дефектами. При изучении избыточного шума в кремнии обнаружено, что с понижением степени структурного совершенства материала интенсивность шума возрастает
    Exact
    [33]
    Suffix
    . Отмеченные обстоятельства указывают на связь избыточного шума в полупроводниках со структурными дефектами. Обнаружено возрастание низкочастотного шума в полупроводниках под воздействием излучения оптического диапазона.
    (check this in PDF content)

  29. Start
    12286
    Prefix
    Отмеченные обстоятельства указывают на связь избыточного шума в полупроводниках со структурными дефектами. Обнаружено возрастание низкочастотного шума в полупроводниках под воздействием излучения оптического диапазона. В
    Exact
    [34]
    Suffix
    наблюдался эффект перестройки спектра низкочастотного шума в GaAs под действием света. При этом установлено, что в области низких температур воздействие освещения приводит к существенному увеличению уровня шума.
    (check this in PDF content)

  30. Start
    12831
    Prefix
    Дано объяснение данного явления, связанное с тем, что освещение значительно изменяет концентрацию неосновных носителей, которые, захватываясь на разрешенные уровни в запрещенной зоне, способны сильно повлиять на зарядовое состояние ловушечных центров и, следовательно, на интенсивность и спектр низкочастотных шумов. В работе
    Exact
    [35]
    Suffix
    исследовано влияние лазерного излучения на избыточный шум в кристаллах CdxHg1-xTe. Установлено, что с увеличением энергии облучения возрастает интенсивность шума. В соответствии с этим делается вывод о том, что более высокий уровень шума соответствует повышенному количеству дефектов.
    (check this in PDF content)

  31. Start
    13176
    Prefix
    Установлено, что с увеличением энергии облучения возрастает интенсивность шума. В соответствии с этим делается вывод о том, что более высокий уровень шума соответствует повышенному количеству дефектов. Это дополнительно подтверждается результатами работы
    Exact
    [36]
    Suffix
    , в которой показано, что дефекты являются причиной избыточного шума в таких материалах. Обнаруженный характер влияния оптического излучения на избыточный шум в полупроводниках также указывает на связь шума с дефектами структуры.
    (check this in PDF content)

  32. Start
    14033
    Prefix
    Кроме того, часть этих связей может заполняться за счет присоединения атомов химически активных веществ из атмосферы, что приводит к химическим реакциям на поверхности. При изучении избыточного шума германиевых нитей
    Exact
    [37]
    Suffix
    было обнаружено, что при замене окружающего сухого азота жидким CCl4 шум значительно увеличивается, причем это сопровождается изменением частотной зависимости спектра. В других исследованиях было установлено [38], что влажная атмосфера может усиливать избыточный шум на несколько порядков. 47 Установлено, что уровень избыточного шума связан с адсорбцией и хемосорбцией веществ поверхностью мате
    (check this in PDF content)

  33. Start
    14247
    Prefix
    При изучении избыточного шума германиевых нитей [37] было обнаружено, что при замене окружающего сухого азота жидким CCl4 шум значительно увеличивается, причем это сопровождается изменением частотной зависимости спектра. В других исследованиях было установлено
    Exact
    [38]
    Suffix
    , что влажная атмосфера может усиливать избыточный шум на несколько порядков. 47 Установлено, что уровень избыточного шума связан с адсорбцией и хемосорбцией веществ поверхностью материалов. Подобное явление наблюдается в электронных лампах и полупроводниковых структурах.
    (check this in PDF content)

  34. Start
    14608
    Prefix
    В других исследованиях было установлено [38], что влажная атмосфера может усиливать избыточный шум на несколько порядков. 47 Установлено, что уровень избыточного шума связан с адсорбцией и хемосорбцией веществ поверхностью материалов. Подобное явление наблюдается в электронных лампах и полупроводниковых структурах. Обзор таких работ приведен в
    Exact
    [39]
    Suffix
    . В [40] была установлена корреляция избыточных шумов поверхностно-барьерных переходов с плотностью дислокаций, что также подтверждает влияние дефектов структуры на свойства избыточных шумов. Получен ряд экспериментальных результатов, свидетельствующих о связи низкочастотного шума в диэлектриках с дефектами структуры.
    (check this in PDF content)

  35. Start
    14615
    Prefix
    В других исследованиях было установлено [38], что влажная атмосфера может усиливать избыточный шум на несколько порядков. 47 Установлено, что уровень избыточного шума связан с адсорбцией и хемосорбцией веществ поверхностью материалов. Подобное явление наблюдается в электронных лампах и полупроводниковых структурах. Обзор таких работ приведен в [39]. В
    Exact
    [40]
    Suffix
    была установлена корреляция избыточных шумов поверхностно-барьерных переходов с плотностью дислокаций, что также подтверждает влияние дефектов структуры на свойства избыточных шумов. Получен ряд экспериментальных результатов, свидетельствующих о связи низкочастотного шума в диэлектриках с дефектами структуры.
    (check this in PDF content)

  36. Start
    14941
    Prefix
    В [40] была установлена корреляция избыточных шумов поверхностно-барьерных переходов с плотностью дислокаций, что также подтверждает влияние дефектов структуры на свойства избыточных шумов. Получен ряд экспериментальных результатов, свидетельствующих о связи низкочастотного шума в диэлектриках с дефектами структуры. В работах
    Exact
    [41-47]
    Suffix
    исследован электрический низкочастотный шум в полимерных диэлектрических пленках. Установлена хорошая корреляция между уровнем избыточного шума и электрической прочностью полимерных диэлектрических пленок [41,42].
    (check this in PDF content)

  37. Start
    15155
    Prefix
    В работах [41-47] исследован электрический низкочастотный шум в полимерных диэлектрических пленках. Установлена хорошая корреляция между уровнем избыточного шума и электрической прочностью полимерных диэлектрических пленок
    Exact
    [41,42]
    Suffix
    . Известно, что электрическая прочность диэлектриков связана с их дефектностью. Показано, что длительное влияние переменного электрического поля на диэлектрические пленки вызывает обратимое увеличение шума, и, вследствие такого увеличения, усиливается корреляция между уровнем шума и электрической прочностью [43].
    (check this in PDF content)

  38. Start
    15471
    Prefix
    Показано, что длительное влияние переменного электрического поля на диэлектрические пленки вызывает обратимое увеличение шума, и, вследствие такого увеличения, усиливается корреляция между уровнем шума и электрической прочностью
    Exact
    [43]
    Suffix
    . Изучено влияние повреждающих воздействий на низкочастотный шум пленок [44,46,47]. Установлено необратимое возрастание избыточного шума диэлектрических пленок в результате воздействия на них сильных (деструктивных) электрических полей, которое указывает на связь шума с дефектностью пленок [44,46].
    (check this in PDF content)

  39. Start
    15547
    Prefix
    Показано, что длительное влияние переменного электрического поля на диэлектрические пленки вызывает обратимое увеличение шума, и, вследствие такого увеличения, усиливается корреляция между уровнем шума и электрической прочностью [43]. Изучено влияние повреждающих воздействий на низкочастотный шум пленок
    Exact
    [44,46,47]
    Suffix
    . Установлено необратимое возрастание избыточного шума диэлектрических пленок в результате воздействия на них сильных (деструктивных) электрических полей, которое указывает на связь шума с дефектностью пленок [44,46].
    (check this in PDF content)

  40. Start
    15766
    Prefix
    Установлено необратимое возрастание избыточного шума диэлектрических пленок в результате воздействия на них сильных (деструктивных) электрических полей, которое указывает на связь шума с дефектностью пленок
    Exact
    [44,46]
    Suffix
    . Разработаны разнообразные теоретические модели, в соответствии с которыми причиной возникновения избыточного низкочастотного шума являются дефекты структуры твердых тел. Подобные модели объясняют происхождение избыточного шума в твердых телах различных типов.
    (check this in PDF content)

  41. Start
    17861
    Prefix
    Конкретные физические механизмы, позволяющие дать такое объяснение избыточного шума, могут быть связаны как с активационным, так и туннельным переходом носителей в связанные состояния на ловушки. Широкий обзор подобных теоретических моделей сделан в
    Exact
    [2-4]
    Suffix
    . Сейчас направление, связывающее объяснение избыточного шума с захватом носителей ловушками представляется наиболее важным для полупроводников. Электрические флуктуации в полупроводниках, вызванные захватом и эмиссией носителей заряда дефектами структуры, в более общем виде рассмотрены автором [2,3,48,49].
    (check this in PDF content)

  42. Start
    18161
    Prefix
    Сейчас направление, связывающее объяснение избыточного шума с захватом носителей ловушками представляется наиболее важным для полупроводников. Электрические флуктуации в полупроводниках, вызванные захватом и эмиссией носителей заряда дефектами структуры, в более общем виде рассмотрены автором
    Exact
    [2,3,48,49]
    Suffix
    . Проанализирован флуктуационный процесс, когда вероятность захвата носителя на ловушку статистически связана со временем нахождения ловушки в незаполненном состоянии, а вероятность эмиссии носителя статистически связана со временем его нахождения в связанном состоянии на ловушке; статистические связи заданы в общем виде.
    (check this in PDF content)

  43. Start
    19416
    Prefix
    Предложена модель избыточного шума в полупроводниках, связывающая его с флуктуациями заселенности энергетических уровней в «хвосте» функции плотности состояний, проникающем в запрещенную зону полупроводника
    Exact
    [50]
    Suffix
    . Причиной электрического шума в рассматриваемом случае являются флуктуации концентрации свободных носителей в сильно легированных полупроводниках, вызванные обменом носителей между зоной проводимости и уровнями хвоста.
    (check this in PDF content)

  44. Start
    21099
    Prefix
    При условии и спектральная плотность шума изменяется по закону 1/f. Избыточный шум, обусловленный флуктуациями концентрации носителей заряда, может наблюдаться в системах с прыжковым механизмом проводимости. В
    Exact
    [51]
    Suffix
    вычислена спектральная плотность флуктуаций сопротивления слабо легированного компенсированного полупроводника в области температур, при которых проводимость носит прыжковый характер. Частота туннельных прыжков носителей между двумя примесными центрами экспоненциально зависит от расстояния между ними: , где α – эффективный боровский радиус, v0 – коэффициент.
    (check this in PDF content)

  45. Start
    23092
    Prefix
    Предложены модели, в которых низкочастотный шум в металлических пленках обусловлен флуктуациями сопротивления вследствие флуктуаций числа вакансий в образце. Время жизни вакансий является случайной величиной и определяется средним расстоянием между источниками (стоками) вакансий. В модели, развитой для однородных металлов
    Exact
    [52]
    Suffix
    стоки вакансий распределены по объему равномерно. В этом случае плотность вероятности уничтожения каждой вакансии в течение ее жизни постоянна. События рождения и уничтожения вакансий статистически независимы, а среднее время оседлой жизни вакансий определяется соотношением: , здесь Ev – энергия активации образования вакансии.
    (check this in PDF content)

  46. Start
    23575
    Prefix
    События рождения и уничтожения вакансий статистически независимы, а среднее время оседлой жизни вакансий определяется соотношением: , здесь Ev – энергия активации образования вакансии. Спектр мощности шума, возникающего при протекании тока I0 через однородный металлический образец со средним числом вакансий Nv, имеет следующий вид
    Exact
    [52]
    Suffix
    : , (4) где R – сопротивление образца. В реальных металлических пленках вследствие неоднородного распределения стоков в образце существует большой набор времен релаксации, связанных с механизмом рождения и уничтожения вакансий, которым можно объяснить шум типа 1/f в широком диапазоне частот.
    (check this in PDF content)

  47. Start
    24554
    Prefix
    Соответственно, низкочастотный шум, вызванный внутренним трением, может проявляться в разнообразных металлах и быть связан с дефектами их структуры. Возможность формирования спектра электрического шума типа 1/f за счет внутреннего трения рассмотрена в
    Exact
    [53]
    Suffix
    . Анализировались флуктуации, вызванные случайным характером переориентации дефектов. Переориентация дефектов, симметрия которых ниже точечной симметрии кристалла, вызывает изменение рассеяния электронов на них.
    (check this in PDF content)

  48. Start
    26996
    Prefix
    Совокупность экспериментальных и теоретических исследований избыточного низкочастотного шума показывает его связь с дефектами структуры и позволяет определить вид зависимостей спектральных характеристик шума от количества дефектов. Кроме того, избыточный шум может быть связан со скоростью увеличения количества дефектов
    Exact
    [54]
    Suffix
    . Таким образом, спектр избыточного шума содержит информацию о степени дефектности твердого материала и может быть полезен для оценки скорости деградации его структуры. Следовательно, избыточный низкочастотный шум может быть эффективно использован для оценки качества твердых материалов. 51 Таким образом, электрические низкочастотные флуктуации возможно использовать для неразрушающего контроля т
    (check this in PDF content)