The 8 references in paper Yu. Kofanov N., V. Strelnikov P., Ю. Кофанов Н., В. Стрельников П. (2016) “МЕТОДИЧЕСКИЕ ПОГРЕШНОСТИ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ СРЕДНЕГО РЕСУРСА ИЗДЕЛИЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ // METHODOLOGICAL IMPRECISION OF PREDICTION OF ELECTRONICS’ MEAN LIFE TIME” / spz:neicon:sustain:y:2015:i:1:p:5-12

1
Strelnikov V. The Status and Prospects of Reliability Technology – Part 1 // RAC Jornal. – 2001, N 1. – P. 1 – 4; Part 2 // RAC Jornal. – 2001, N 2. – P. 8 – 10.
(check this in PDF content)
2
Кофанов Ю.Н. Моделирование и обеспечение надёжности технических систем: Научное издание. – Москва: Энергоатомиздат, 2011, – 324 с.
(check this in PDF content)
3
Кофанов Ю.Н. Теоретические основы конструирования, технологии и надёжности радиоэлектронных средств: Учебник для вузов. – Москва: Радио и связь, 1991. – 360 с.
(check this in PDF content)
4
Шор Я.Б. Статистические методы анализа и контроля качества и надежности. – М.: Сов. радио, 1962. – 252 с.
(check this in PDF content)
5
Стрельников В.П., Федухин А.В. Оценка и прогнозирование надежности электронных элементов и систем. – К.: Логос, 2002. – 486 с.
(check this in PDF content)
6
Романов В. А. Количественная оценка надежности интегральных микросхем по результатам форсированных испытаний // ЭКиС. – Киев: VD MAIS, 2003, No10. – С. 3-6.
(check this in PDF content)
7
Reliability and Quality Report. Fourth Quarter 1996. – Motorola, Inc., 1996.
(check this in PDF content)
8
Грибов В.М., Кофанов Ю.Н., Стрельников В.П. Оценивание и прогнозирование надёжности бортового аэрокосмического оборудования: Под отв. редакцией Ю.Н. Кофанова. – М.: НИУ ВШЭ, 2013. – 496 с. Рис. 1. Кривые прогнозируемых характеристик λ(t) и f(t)
(check this in PDF content)