The single linked reference in paper A. Tyavlovsky K., A. Zharin L., O. Gusev K., R. Varabei I., N. Muhurov I., G. Sharonov V., K. Pantsialeyeu U., А. Тявловский К., А. Жарин Л., О. Гусев К., Р. Воробей И., Н. Мухуров И., Г. Шаронов В., К. Пантелеев В. (2017) “АНАЛИЗ ДЕФЕКТОВ ПОВЕРХНОСТИ ИСХОДНЫХ ПОДЛОЖЕК АЛЮМИНИЯ И ЕГО СПЛАВОВ МЕТОДОМ СКАНИРУЮЩЕГО ЗОНДА КЕЛЬВИНА // ANALYSIS OF SURFACE DEFECTS OF ALUMINUM AND ITS ALLOYS WITH A SCANNING KELVIN PROBE” / spz:neicon:pimi:y:2017:i:1:p:61-72

  1. Шаронов, Г.В. Контроль металлических поверхностей, обработанных алмазным наноточением, по работе выхода электрона / Г.В. Шаронов, А.Л. Жарин, Н.И. Мухуров, К.В. Пантелеев // Приборы и методы измерений. – 2015. – No 2 (10). – С. 196–203.