The eight linked references in paper K. Pantsialeyeu U., U. Mikitsevich A., A. Zharin L., К. Пантелеев В., В. Микитевич А., А. Жарин Л. (2016) “ПОСТРОЕНИЕ ИЗМЕРИТЕЛЕЙ КОНТАКТНОЙ РАЗНОСТИ ПОТЕНЦИАЛОВ // DESIGN OF THE CONTACT POTENTIALS DIFFERENCE PROBES” / spz:neicon:pimi:y:2016:i:1:p:7-15

  1. Neuhaus, K. Scanning probe microscopy polarization experiments with polycrystalline Ce0.8Gd0.2 − xPrxO2 − δ and Ce0.8Y0.2O2 − δ single crystals at room temperature / K. Neuhaus [et al.] // Solid State Ionics. – 2015. – 6 p. (doi:10.1016/j.ssi.2015.12.012).
  2. Mazhar, M.E. Kelvin probe as an effective tool to develop sensitive p-type CuO gas sensors / M.E. Mazhar [et al.] // Sensors and Actuators B: Chemical. – 2015. – 22 p. (doi:10.1016/j.snb.2015.05.050).
  3. Шаронов, Г.В. Контроль металлических поверхностей, обработанных алмазным наноточением, по работе выхода электрона / Г.В. Шаронов [и др.] // Приборы и методы измерений. – 2015. – Т. 6, No 2. – С. 196–203.
  4. Пантелеев, К.В. Диагностика локальных изменений пластической деформации по работе выхода электрона / К.В. Пантелеев, А.И. Свистун, А.Л. Жарин // Приборы и методы измерений. – 2015. – No 1 (10). – С. 56–63.
  5. Пантелеев, К.В. Методы измерений работы выхода электрона для контроля состояния поверхностей в процессе трения / К.В. Пантелеев, А.И. Свистун, А.Л. Жарин // Приборы и методы измерений. – 2014. – No 2. – С. 107–113.
  6. Danyluk, S. Kelvin probe’s stray capacitance and noise simulation / S. Danyluk [et al.] // Приборы и методы измерений. – 2014. – No 1 (8). – С. 94–98.