The 15 references with contexts in paper K. Pantsialeyeu U., A. Krautsevich U., I. Rovba A., V. Lysenko I., R. Vorobey I., O. Gusev K., A. Zharin L., К. Пантелеев В., А. Кравцевич В., И. Ровба А., В. Лысенко И., Р. Воробей И., О. Гусев К., А. Жарин Л. (2017) “АНАЛИЗ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ И ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ СВОЙСТВ НАНОКОМПОЗИТНЫХ ПОЛИМЕРОВ МОДИФИЦИРОВАННЫМ ЗОНДОМ КЕЛЬВИНА // ANALYSIS OF THE ELECTROPHYSICAL AND PHOTOELECTRIC PROPERTIES OF NANOCOMPOSITE POLYMERS BY THE MODIFIED KELVIN PROBE” / spz:neicon:pimi:y:2017:i:4:p:386-397

1
Subrahmanyam, A. The Kelvin Probe for Surface Engineering: Fundamentals and Design / A. Subrahmanyam, S. Kumar. – USA : CRC Press, 2010. – 200 p.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=7542
    Prefix
    Methods of Measurements. 2017, vol. 8, no. 4, pp. 386–397 (in Russian) DOI: 10.21122/2220-9506-2017-8-4-386-397 387 Введение В настоящее время широкое распространение получают различные модификации сканирующего зонда Кельвина, позволяющие получать карты пространственного распределения электростатического потенциала поверхностей материалов с микрометровым пространственным разрешением
    Exact
    [1, 2]
    Suffix
    . Высокая чувствительность электростатического потенциала к каким-либо изменениям состояния поверхности позволяет использовать данный параметр для выявления неоднородностей свойств материалов, часто не разрешаемых прочими методами физического материаловедения.

2
Zharkikh, Yu.S. Mechanic-electrical transfor ma tions in the Kelvin method / Yu.S. Zharkikh, S.V. Lysochenko // Applied Surface Science. 2017. – Vol. 400. – P. 71–76.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=7542
    Prefix
    Methods of Measurements. 2017, vol. 8, no. 4, pp. 386–397 (in Russian) DOI: 10.21122/2220-9506-2017-8-4-386-397 387 Введение В настоящее время широкое распространение получают различные модификации сканирующего зонда Кельвина, позволяющие получать карты пространственного распределения электростатического потенциала поверхностей материалов с микрометровым пространственным разрешением
    Exact
    [1, 2]
    Suffix
    . Высокая чувствительность электростатического потенциала к каким-либо изменениям состояния поверхности позволяет использовать данный параметр для выявления неоднородностей свойств материалов, часто не разрешаемых прочими методами физического материаловедения.

3
Kelvin probe force microscopy and its application / W. Melitz, J. Shen, A.C. Kummel, S. Lee // Surface Science Reports. – 2011. – Vol. 66. – P. 1–27. doi: 10.1016/j.surfrep.2010.10.001
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=8045
    Prefix
    Традиционно зонд Кельвина используют для контроля состояния прецизионных поверхностей металлов, сплавов, полупроводниковых материалов и объектов по параметрам пространственного распределения работы выхода электрона
    Exact
    [3]
    Suffix
    , измеряемой по контактной разности потенциалов (КРП) относительно зондового образца. В то же время анализ литературных данных [4–6], а также проведенные ранее исследования [7] показывают, что методы КРП, в частности такие модификации, как сканирующий Кельвин-зондовый силовой микроскоп и сканирующий зонд Кельвина, применимы и к твердым диэлектрикам.

4
Noras, M.A. Charge detection methods for dielectrics – Overview / M.A. Noras // Trek Application Note. – 2003. – No. 3005. – P. 1–13.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=8175
    Prefix
    Традиционно зонд Кельвина используют для контроля состояния прецизионных поверхностей металлов, сплавов, полупроводниковых материалов и объектов по параметрам пространственного распределения работы выхода электрона [3], измеряемой по контактной разности потенциалов (КРП) относительно зондового образца. В то же время анализ литературных данных
    Exact
    [4–6]
    Suffix
    , а также проведенные ранее исследования [7] показывают, что методы КРП, в частности такие модификации, как сканирующий Кельвин-зондовый силовой микроскоп и сканирующий зонд Кельвина, применимы и к твердым диэлектрикам.

5
Scanning electric potential microscopy imaging of polymers: electrical charge distribution in dielectrics / A. Galembeck, C.A.R. Costa, M.C.V.M. da Silva, E.F. Souza, F. Galembeck // Polymer. – 2001. – Vol. 42. – P. 4845−4851. doi: 10.1016 / S0032-3861 (00) 00921-6
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=8175
    Prefix
    Традиционно зонд Кельвина используют для контроля состояния прецизионных поверхностей металлов, сплавов, полупроводниковых материалов и объектов по параметрам пространственного распределения работы выхода электрона [3], измеряемой по контактной разности потенциалов (КРП) относительно зондового образца. В то же время анализ литературных данных
    Exact
    [4–6]
    Suffix
    , а также проведенные ранее исследования [7] показывают, что методы КРП, в частности такие модификации, как сканирующий Кельвин-зондовый силовой микроскоп и сканирующий зонд Кельвина, применимы и к твердым диэлектрикам.

6
The mosaic of Surface Charge in Contact Electrification / H.T. Baytekin, A.Z. Patashinski, M. Branicki, B. Baytekin, S. Soh, B.A. Grzybowski // Science. – 2011. – Vol. 333. – P. 308–312. doi: 10.1126 / science.1201512
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=8175
    Prefix
    Традиционно зонд Кельвина используют для контроля состояния прецизионных поверхностей металлов, сплавов, полупроводниковых материалов и объектов по параметрам пространственного распределения работы выхода электрона [3], измеряемой по контактной разности потенциалов (КРП) относительно зондового образца. В то же время анализ литературных данных
    Exact
    [4–6]
    Suffix
    , а также проведенные ранее исследования [7] показывают, что методы КРП, в частности такие модификации, как сканирующий Кельвин-зондовый силовой микроскоп и сканирующий зонд Кельвина, применимы и к твердым диэлектрикам.

7
Влияние высокодисперсного наполнителя на адгезионные и фрикционные свойства сополимера этилена с винилацетатом / А.И. Свириденок, А.Л. Жарин, А.В. Кравцевич, А.К. Тявловский // Трение и износ. – 2014. – Т. 35, No 4.– С. 401–410.
Total in-text references: 2
  1. In-text reference with the coordinate start=8221
    Prefix
    Традиционно зонд Кельвина используют для контроля состояния прецизионных поверхностей металлов, сплавов, полупроводниковых материалов и объектов по параметрам пространственного распределения работы выхода электрона [3], измеряемой по контактной разности потенциалов (КРП) относительно зондового образца. В то же время анализ литературных данных [4–6], а также проведенные ранее исследования
    Exact
    [7]
    Suffix
    показывают, что методы КРП, в частности такие модификации, как сканирующий Кельвин-зондовый силовой микроскоп и сканирующий зонд Кельвина, применимы и к твердым диэлектрикам. В отличие от металлов и сплавов электростатический потенциал диэлектрика будет обусловлен собственными и/или приобретенными в результате внешних воздействий зарядами.

  2. In-text reference with the coordinate start=8748
    Prefix
    В отличие от металлов и сплавов электростатический потенциал диэлектрика будет обусловлен собственными и/или приобретенными в результате внешних воздействий зарядами. На практике прямой анализ однородности электропотенциального профиля не является достаточно информативным для описания каких-либо конкретных физических параметров
    Exact
    [7, 8]
    Suffix
    . Во-первых, в измерениях участвует весь объем диэлектрика, а не его поверхность, как в случае металлов. Во-вторых, неоднозначны факторы, приводящие к изменению электронной подсистемы диэлектрика.

8
Ebrahimi, G. Investigation on corrosion protection mechanism of polyaniline nanoparticles doped with phosphoric acid by scanning Kelvin probe and other electrochemical methods / G. Ebrahimi, F. Rezaei, J. Neshati // Journal of the Taiwan Institute of Chemical Engineers. – 2016. – P. 1–10. doi: 10.1016/j.jtice.2016.11.007
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=8748
    Prefix
    В отличие от металлов и сплавов электростатический потенциал диэлектрика будет обусловлен собственными и/или приобретенными в результате внешних воздействий зарядами. На практике прямой анализ однородности электропотенциального профиля не является достаточно информативным для описания каких-либо конкретных физических параметров
    Exact
    [7, 8]
    Suffix
    . Во-первых, в измерениях участвует весь объем диэлектрика, а не его поверхность, как в случае металлов. Во-вторых, неоднозначны факторы, приводящие к изменению электронной подсистемы диэлектрика.

9
Schroder, D. Surface voltage and surface photovoltage: history, theory and applications / D. Schroder // Measurement Science & Technology. – 2001. – Vol. 3. – No. 12. – P. R16–R31.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=9197
    Prefix
    Поэтому в случае полимеров наиболее информативно использование методов КРП в совокупности с каким-либо внешним энергетическим воздействием, например, при осаждении зарядов в коронном разряде или оптическом зондировании поверхности
    Exact
    [9]
    Suffix
    . Для анализа электронных явлений и процессов, имеющих место в полимерных композиционных материалах (ПКМ), особый интерес представляет световое воздействие, позволяющее зондировать строго определенные энергетические состояния электронов [10, 11].

10
Davies, D.K. Charge generation of dielectric surfaces / D.K. Davies // Journal of Physics. D: Applied Physics. – 1969. – No. 2. – P. 1533–1537. doi: 10.1088/0022-3727/2/11/307
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=9446
    Prefix
    Для анализа электронных явлений и процессов, имеющих место в полимерных композиционных материалах (ПКМ), особый интерес представляет световое воздействие, позволяющее зондировать строго определенные энергетические состояния электронов
    Exact
    [10, 11]
    Suffix
    . Несмотря на высокую актуальность, исследования в данном направлении практически не проводятся. Целью данной работы являлись модификация сканирующего зонда Кельвина и проведение экспериментальных исследований пространственного распределения электростатического потенциала актуальных композитных полимеров и его отклика на зондирующее воздействие оптическим излучение.

11
Vorobey, R.I. Controlling the characteristics of photovoltaic cell based on their own semiconductors / R.I. Vorobey, [at al.] // Przeglad Elektrotechniczny. – 2015. – No. 8. – P. 81–85. doi:10.15199/48.2016.08.52
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=9446
    Prefix
    Для анализа электронных явлений и процессов, имеющих место в полимерных композиционных материалах (ПКМ), особый интерес представляет световое воздействие, позволяющее зондировать строго определенные энергетические состояния электронов
    Exact
    [10, 11]
    Suffix
    . Несмотря на высокую актуальность, исследования в данном направлении практически не проводятся. Целью данной работы являлись модификация сканирующего зонда Кельвина и проведение экспериментальных исследований пространственного распределения электростатического потенциала актуальных композитных полимеров и его отклика на зондирующее воздействие оптическим излучение.

12
Zisman, W.A. A new method of measuring contact potential differences in metals / W. A. Zisman // Review of Scientific Instruments. – 1932. – No. 3. – P. 367–370. doi: 10.1063/1.1748947
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=10794
    Prefix
    Третий привод обеспечивает вертикальное перемещение системы из измерителя КРП и источника видимого оптического излучения. Измеритель КРП (рисунок 1) реализован по традиционному методу Кельвина–Зисмана
    Exact
    [12, 13]
    Suffix
    . Поверхности эталонного (зондового) M1 и измеряемого M2 (закреплен на заземленном предметном столике) образцов формируют обкладки плоскопараллельного конденсатора. Зондовый образец приводится в возвратно-поступательное движение с помощью электромеханического вибратора 1 (частота модуляции 300 Гц).

13
Пантелеев, К.В. Построение измерителей контактной разности потенциалов / К.В. Пантелеев, В.А. Микитевич, А.Л. Жарин // Приборы и методы измерений. – 2016. – Т. 7, No 1. – С. 7–15. doi:10.21122/2220-9506-2016-7-1-7-15
Total in-text references: 3
  1. In-text reference with the coordinate start=10794
    Prefix
    Третий привод обеспечивает вертикальное перемещение системы из измерителя КРП и источника видимого оптического излучения. Измеритель КРП (рисунок 1) реализован по традиционному методу Кельвина–Зисмана
    Exact
    [12, 13]
    Suffix
    . Поверхности эталонного (зондового) M1 и измеряемого M2 (закреплен на заземленном предметном столике) образцов формируют обкладки плоскопараллельного конденсатора. Зондовый образец приводится в возвратно-поступательное движение с помощью электромеханического вибратора 1 (частота модуляции 300 Гц).

  2. In-text reference with the coordinate start=15196
    Prefix
    ; А – блок-схема модулятора (1 – вибратор, 2 – фазосдвигатель, 3 – формирователь сигнала); В – блок-схема предусилителя (преобразователь ток-напряжение, образованный операционным усилителем с высокоомным резистором RL); С – блок-схема фазового детектора-интегратора (4 – электронный ключ, 5 – интегратор); UCPD – сигнал контактной разности потенциалов; Ubias – напряжение компенсации
    Exact
    [13]
    Suffix
    Figure 1 – Structure diagram of contact potential difference probes: М1, М2 – surfaces of the probe and sample respectively; А – flowchart of the modulator (1 – vibrator, 2 – phase shifter, 3 – convertor); В – flowchart of the preamplifier (current-voltage converter are formed by an operational amplifier with a high value resistor RL); С – flowchart of the phase detector-integrator (

  3. In-text reference with the coordinate start=15704
    Prefix
    sample respectively; А – flowchart of the modulator (1 – vibrator, 2 – phase shifter, 3 – convertor); В – flowchart of the preamplifier (current-voltage converter are formed by an operational amplifier with a high value resistor RL); С – flowchart of the phase detector-integrator (Lock-In, 4 – analog switch, 5 – integrator); UCPD – contact potential difference; Ubias – compensating voltage
    Exact
    [13]
    Suffix
    использованы углеродный наноматериал (УНМ), наночастицы диоксида кремния или алюминия. УНМ представляет собой продукт пиролиза углеродсодержащих газов в каталитическом кипящем слое, получаемый в лаборатории дисперсных систем Института тепло- и массообмена НАН Беларуси.

14
Wicinski, M. Lateral resolution in scanning Kelvin probe microscopy / M. Wicinski, W. Burgstaller, A.W. Hassel // Corrosion Science. – 2016. – Vol. 104. – P. 1–8. doi: 10.1016/j.corsci.2015.09.008
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=14059
    Prefix
    Разрешающая способность сканирующего зонда Кельвина в общем случае определяется геометрическими размерами чувствительного элемента измерительного преобразователя и может достигать уровня атомно-силовой микроскопии
    Exact
    [14, 15]
    Suffix
    . Материалы Исследования выполнены на опытных образцах ПКМ на основе полиэтилена высокого давления (ПЭВД) марки 12203-250, промышленно выпускаемом заводом «Полимир» ОАО «Нафтан». Данная марка ПЭВД характеризуется наиболее высоким индексом текучести расплава (25 г/10 мин), поэтому главным образом применяется для получения концентратов красителей, т.е. высоконаполненных полимерных си

15
Multitip scanning bio-Kelvin probe / I.D. Baikie, P.J.S. Smith, D.M. Porterfield, P.J. Estrup // Review of Scientific Instruments. – 1999. – Iss. 70. doi: 10.1063/1.1149678
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=14059
    Prefix
    Разрешающая способность сканирующего зонда Кельвина в общем случае определяется геометрическими размерами чувствительного элемента измерительного преобразователя и может достигать уровня атомно-силовой микроскопии
    Exact
    [14, 15]
    Suffix
    . Материалы Исследования выполнены на опытных образцах ПКМ на основе полиэтилена высокого давления (ПЭВД) марки 12203-250, промышленно выпускаемом заводом «Полимир» ОАО «Нафтан». Данная марка ПЭВД характеризуется наиболее высоким индексом текучести расплава (25 г/10 мин), поэтому главным образом применяется для получения концентратов красителей, т.е. высоконаполненных полимерных си