The 6 references with contexts in paper A. Ivashko M., V. Kisel E., N. Kuleshov V., А. Ивашко М., В. Кисель Э., Н. Кулешов В. (2017) “МАСШТАБИРОВАНИЕ ВЫХОДНОЙ МОЩНОСТИ НЕПРЕРЫВНОГО YB:YAG МИКРОЧИП-ЛАЗЕРА ДЛЯ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ СИСТЕМ // POWER SCALING IN CONTINUOUS-WAVE YB:YAG MICROCHIP LASER FOR MEASURING APPLICATIONS” / spz:neicon:pimi:y:2017:i:3:p:222-227

1
Андреев, А.Н. Оптические измерения / А.Н. Андреев, Е.В. Гаврилов, Г.Г. Ишанин. – М. : Логос,
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=7193
    Prefix
    В измерительных приборах, где необходимо сосредоточить энергию излучения в небольшом телесном угле и узком спектральном интервале, преимущество использования лазеров в качестве источника излучения очевидно: повышается чувствительность прибора, упрощается оптическая система приборов, значительно упрощается интерпретация полученной информации
    Exact
    [1]
    Suffix
    . Поэтому уделяется большое внимание разработке лазеров для измерительных приборов и усовершенствованию их характеристик, в частности снижению массогабаритных характеристик и энергопотребления.

2
08. – 416 с. 2. Gornushkin, I.B. Microchip laser-induced breakdown spectroscopy: apreliminary feasibility investigation / I.B. Gornushkin [et al.] // Appl. Spectrosc. – 2004. – No. 58. – P. 762–769.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=7474
    Prefix
    Поэтому уделяется большое внимание разработке лазеров для измерительных приборов и усовершенствованию их характеристик, в частности снижению массогабаритных характеристик и энергопотребления. Твердотельные лазеры достаточно часто применяются в измерительной технике
    Exact
    [2−6]
    Suffix
    , например в лазерно-индуцированной плазменной спектроскопии (LIРS), мониторинге окружающей среды, дальнометрии, определении оптических характеристик материалов и др. Одним из перспективных направлений по уменьшению массогабаритных характеристик и энергопотребления для твердотельных лазеров является использование диодной накачки в сочетании с микрочип конфигурацией резонатора [7]

7
Denker, B. Handbook of solid-state lasers. Materials, systems and applications / B. Denker, E. Shklovsky. – Cambridge : Woodhead Publishing, 2013. – 660 p.
Total in-text references: 2
  1. In-text reference with the coordinate start=7877
    Prefix
    Одним из перспективных направлений по уменьшению массогабаритных характеристик и энергопотребления для твердотельных лазеров является использование диодной накачки в сочетании с микрочип конфигурацией резонатора
    Exact
    [7]
    Suffix
    . На пространственный профиль генерируемого излучения для большинства микрочип-лазеров значительное влияние оказывают тепловые эффекты [8]. Поэтому масштабирование выходной мощности в широких пределах при необходимости получения близкой к дифракционной расходимости и Гауссового пространственного профиля лазерного пучка, что соответствует генерации на основной TEM00 моде, для

  2. In-text reference with the coordinate start=8563
    Prefix
    При увеличении мощности накачки для повышения выходной мощности из-за тепловых эффектов диаметр фундаментальной моды становится значительно меньше, чем диаметр пучка накачки, и происходит переход в многомодовый режим генерации
    Exact
    [7]
    Suffix
    с соответствующим снижением пространственного качества излучения. В нашей предыдущей работе [9] для реализации измерительного прибора для определения положения фокальной плоскости фокусирующих компонентов описан компактный микрочиплазер с диодной накачкой на основе кристалла Yb:YAG, построенный по принципу мультипликации прокачиваемых зон [10] и генерирующий два осесимметричных лаз

8
Zayhowski, J. Thermal guiding in microchip lasers / J. Zayhowski, H. Jenssen, G. Dube // OSA Proc. Advanced Solid-State Lasers. – 1991. – No. 6. – P. 9–13.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=8025
    Prefix
    Одним из перспективных направлений по уменьшению массогабаритных характеристик и энергопотребления для твердотельных лазеров является использование диодной накачки в сочетании с микрочип конфигурацией резонатора [7]. На пространственный профиль генерируемого излучения для большинства микрочип-лазеров значительное влияние оказывают тепловые эффекты
    Exact
    [8]
    Suffix
    . Поэтому масштабирование выходной мощности в широких пределах при необходимости получения близкой к дифракционной расходимости и Гауссового пространственного профиля лазерного пучка, что соответствует генерации на основной TEM00 моде, для данного класса лазеров является затруднительным.

9
Ивашко, А.М. Метод определения положения фокальной плоскости фокусирующих компонентов / А.М. Ивашко, В.Э. Кисель, Н.В. Кулешов // Приборы и методы измерений. – 2017. – Т. 8, No 1. – С. 49–54.
Total in-text references: 3
  1. In-text reference with the coordinate start=8660
    Prefix
    При увеличении мощности накачки для повышения выходной мощности из-за тепловых эффектов диаметр фундаментальной моды становится значительно меньше, чем диаметр пучка накачки, и происходит переход в многомодовый режим генерации [7] с соответствующим снижением пространственного качества излучения. В нашей предыдущей работе
    Exact
    [9]
    Suffix
    для реализации измерительного прибора для определения положения фокальной плоскости фокусирующих компонентов описан компактный микрочиплазер с диодной накачкой на основе кристалла Yb:YAG, построенный по принципу мультипликации прокачиваемых зон [10] и генерирующий два осесимметричных лазерных пучка с максимальной выходной мощностью 1,5 Вт на каждый пучок при сохранении Гауссов

  2. In-text reference with the coordinate start=9528
    Prefix
    применения разработанного лазера в измерительной технике и в других прикладных сферах за счет увеличения его выходной мощности при сохранении качества генерируемого лазерного пучка, близкого к дифракционному. Основная часть Принцип построения микрочип-лазера и его элементная база при исследованиях, результаты которых приведены в данной работе, аналогичны излучателю из работы
    Exact
    [9]
    Suffix
    : излучение от нескольких лазерных диодов накачки с волоконным выводом фокусировалось с помощью оптической системы в отдельные, пространственно независимые друг от друга области активного элемента Yb:YAG, на торцах которого нанесены зеркала резонатора, являющиеся общими для всех прокачиваемых зон, в результате чего реализуется генерация нескольких лазерных пучков, количеств

  3. In-text reference with the coordinate start=10799
    Prefix
    При увеличении количества лазерных диодов накачки, а соответственно, и количества прокачиваемых областей при их одновременном включении было обнаружено влияние прокачиваемых зон друг на друга и на характеристики генерируемого излучения. В описанном ранее в работе
    Exact
    [9]
    Suffix
    излучателе, в котором использовалось два лазерных диода накачки, данный эффект не был зафиксирован, т.к. излучатель предполагал поочередное задействование прокачиваемых областей и использование генерируемых лазерных пучков по отдельности.

10
Осветительная система : пат. 19694 Респ. Беларусь, МПК G 02 F 1/01 / В.В. Батюшков [и др.]; заявитель ОАО «Пеленг». – No а20121492 ; заявл. 26.10.2012 ; опубл. 30.06.2014 // Официальный бюл. / Нац. центр интеллект. собственности. – 2014. – 6 с.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=8923
    Prefix
    В нашей предыдущей работе [9] для реализации измерительного прибора для определения положения фокальной плоскости фокусирующих компонентов описан компактный микрочиплазер с диодной накачкой на основе кристалла Yb:YAG, построенный по принципу мультипликации прокачиваемых зон
    Exact
    [10]
    Suffix
    и генерирующий два осесимметричных лазерных пучка с максимальной выходной мощностью 1,5 Вт на каждый пучок при сохранении Гауссового пространственного профиля. Целью данной работы было расширение возможности применения разработанного лазера в измерительной технике и в других прикладных сферах за счет увеличения его выходной мощности при сохранении качества генерируемого лазерного