The 18 references with contexts in paper K. Pantsialeyeu U., U. Mikitsevich A., A. Zharin L., К. Пантелеев В., В. Микитевич А., А. Жарин Л. (2016) “ПОСТРОЕНИЕ ИЗМЕРИТЕЛЕЙ КОНТАКТНОЙ РАЗНОСТИ ПОТЕНЦИАЛОВ // DESIGN OF THE CONTACT POTENTIALS DIFFERENCE PROBES” / spz:neicon:pimi:y:2016:i:1:p:7-15

1
Neuhaus, K. Scanning probe microscopy polarization experiments with polycrystalline Ce0.8Gd0.2 − xPrxO2 − δ and Ce0.8Y0.2O2 − δ single crystals at room temperature / K. Neuhaus [et al.] // Solid State Ionics. – 2015. – 6 p. (doi:10.1016/j.ssi.2015.12.012).
Total in-text references: 2
  1. In-text reference with the coordinate start=3397
    Prefix
    Ключевые слова: контактная разность потенциалов, зонд Кельвина, измеритель КРП, работа выхода электрона. DOI: 10.21122/2220-9506-2016-7-1-7-15 7 Введение Измерители контактной разности потенциалов (КРП) находят широкое применение как при решении научно-исследовательских задач
    Exact
    [1–3]
    Suffix
    , так и в промышленности при оценке состояния поверхности материалов различной физической природы [4–6], качества очистки их поверхностей [7, 8], защитных и эксплуатационных свойств тонких пленок и покрытий [9, 10] и др. [11], в том числе для изделий микро- и нанотехнологии [12].

  2. In-text reference with the coordinate start=4454
    Prefix
    Так, например, монослой адсорбированных частиц может вызвать изменение поверхностного потенциала на величину порядка 1 В, а инструментальная чувствительность методов измерения РВЭ составляет величину около 0,1–1 мВ [3, 13]. Анализ литературных данных
    Exact
    [1–13]
    Suffix
    показал, что измерители КРП, как правило, представляют собой лабораторную установку, состоящую из серийно выпускаемых измерительных приборов (измерительных усилителей, фазовых детекторов (Lock-in) и др.), поэтому они обладают рядом недостатков, к числу которых можно отнести большие габариты, высокую стоимость, а также сравнительно большое время измерений, сложность выполнения многократных

2
Mazhar, M.E. Kelvin probe as an effective tool to develop sensitive p-type CuO gas sensors / M.E. Mazhar [et al.] // Sensors and Actuators B: Chemical. – 2015. – 22 p. (doi:10.1016/j.snb.2015.05.050).
Total in-text references: 2
  1. In-text reference with the coordinate start=3397
    Prefix
    Ключевые слова: контактная разность потенциалов, зонд Кельвина, измеритель КРП, работа выхода электрона. DOI: 10.21122/2220-9506-2016-7-1-7-15 7 Введение Измерители контактной разности потенциалов (КРП) находят широкое применение как при решении научно-исследовательских задач
    Exact
    [1–3]
    Suffix
    , так и в промышленности при оценке состояния поверхности материалов различной физической природы [4–6], качества очистки их поверхностей [7, 8], защитных и эксплуатационных свойств тонких пленок и покрытий [9, 10] и др. [11], в том числе для изделий микро- и нанотехнологии [12].

  2. In-text reference with the coordinate start=4454
    Prefix
    Так, например, монослой адсорбированных частиц может вызвать изменение поверхностного потенциала на величину порядка 1 В, а инструментальная чувствительность методов измерения РВЭ составляет величину около 0,1–1 мВ [3, 13]. Анализ литературных данных
    Exact
    [1–13]
    Suffix
    показал, что измерители КРП, как правило, представляют собой лабораторную установку, состоящую из серийно выпускаемых измерительных приборов (измерительных усилителей, фазовых детекторов (Lock-in) и др.), поэтому они обладают рядом недостатков, к числу которых можно отнести большие габариты, высокую стоимость, а также сравнительно большое время измерений, сложность выполнения многократных

3
Baytekin, H.T. The mosaic of Surface Charge in Contact Electrification / H.T. Baytekin [et al.] // Science. – 2011 – Vol. 333. – P. 308.
Total in-text references: 3
  1. In-text reference with the coordinate start=3397
    Prefix
    Ключевые слова: контактная разность потенциалов, зонд Кельвина, измеритель КРП, работа выхода электрона. DOI: 10.21122/2220-9506-2016-7-1-7-15 7 Введение Измерители контактной разности потенциалов (КРП) находят широкое применение как при решении научно-исследовательских задач
    Exact
    [1–3]
    Suffix
    , так и в промышленности при оценке состояния поверхности материалов различной физической природы [4–6], качества очистки их поверхностей [7, 8], защитных и эксплуатационных свойств тонких пленок и покрытий [9, 10] и др. [11], в том числе для изделий микро- и нанотехнологии [12].

  2. In-text reference with the coordinate start=4415
    Prefix
    Так, например, монослой адсорбированных частиц может вызвать изменение поверхностного потенциала на величину порядка 1 В, а инструментальная чувствительность методов измерения РВЭ составляет величину около 0,1–1 мВ
    Exact
    [3, 13]
    Suffix
    . Анализ литературных данных [1–13] показал, что измерители КРП, как правило, представляют собой лабораторную установку, состоящую из серийно выпускаемых измерительных приборов (измерительных усилителей, фазовых детекторов (Lock-in) и др.), поэтому они обладают рядом недостатков, к числу которых можно отнести большие габариты, высокую стоимость, а также сравнительно большое время измере

  3. In-text reference with the coordinate start=4454
    Prefix
    Так, например, монослой адсорбированных частиц может вызвать изменение поверхностного потенциала на величину порядка 1 В, а инструментальная чувствительность методов измерения РВЭ составляет величину около 0,1–1 мВ [3, 13]. Анализ литературных данных
    Exact
    [1–13]
    Suffix
    показал, что измерители КРП, как правило, представляют собой лабораторную установку, состоящую из серийно выпускаемых измерительных приборов (измерительных усилителей, фазовых детекторов (Lock-in) и др.), поэтому они обладают рядом недостатков, к числу которых можно отнести большие габариты, высокую стоимость, а также сравнительно большое время измерений, сложность выполнения многократных

4
Casals, N. Influence of Mechanical Stress on the Potential Distribution on a 301 LN Stainless Steel Surface / N. Casals // Journal of The Electrochemical Society, 2015. – Vol. 9. – No 162. – P. 465–472.
Total in-text references: 2
  1. In-text reference with the coordinate start=3500
    Prefix
    DOI: 10.21122/2220-9506-2016-7-1-7-15 7 Введение Измерители контактной разности потенциалов (КРП) находят широкое применение как при решении научно-исследовательских задач [1–3], так и в промышленности при оценке состояния поверхности материалов различной физической природы
    Exact
    [4–6]
    Suffix
    , качества очистки их поверхностей [7, 8], защитных и эксплуатационных свойств тонких пленок и покрытий [9, 10] и др. [11], в том числе для изделий микро- и нанотехнологии [12]. Методы измерения КРП (метод Кельвина– Зисмана) в случае металлов, сплавов и полупроводников основаны на регистрации разности работ выхода электрона (РВЭ) между измеряемой и эталонной поверхностями.

  2. In-text reference with the coordinate start=4454
    Prefix
    Так, например, монослой адсорбированных частиц может вызвать изменение поверхностного потенциала на величину порядка 1 В, а инструментальная чувствительность методов измерения РВЭ составляет величину около 0,1–1 мВ [3, 13]. Анализ литературных данных
    Exact
    [1–13]
    Suffix
    показал, что измерители КРП, как правило, представляют собой лабораторную установку, состоящую из серийно выпускаемых измерительных приборов (измерительных усилителей, фазовых детекторов (Lock-in) и др.), поэтому они обладают рядом недостатков, к числу которых можно отнести большие габариты, высокую стоимость, а также сравнительно большое время измерений, сложность выполнения многократных

5
Шаронов, Г.В. Контроль металлических поверхностей, обработанных алмазным наноточением, по работе выхода электрона / Г.В. Шаронов [и др.] // Приборы и методы измерений. – 2015. – Т. 6, No 2. – С. 196–203.
Total in-text references: 2
  1. In-text reference with the coordinate start=3500
    Prefix
    DOI: 10.21122/2220-9506-2016-7-1-7-15 7 Введение Измерители контактной разности потенциалов (КРП) находят широкое применение как при решении научно-исследовательских задач [1–3], так и в промышленности при оценке состояния поверхности материалов различной физической природы
    Exact
    [4–6]
    Suffix
    , качества очистки их поверхностей [7, 8], защитных и эксплуатационных свойств тонких пленок и покрытий [9, 10] и др. [11], в том числе для изделий микро- и нанотехнологии [12]. Методы измерения КРП (метод Кельвина– Зисмана) в случае металлов, сплавов и полупроводников основаны на регистрации разности работ выхода электрона (РВЭ) между измеряемой и эталонной поверхностями.

  2. In-text reference with the coordinate start=4454
    Prefix
    Так, например, монослой адсорбированных частиц может вызвать изменение поверхностного потенциала на величину порядка 1 В, а инструментальная чувствительность методов измерения РВЭ составляет величину около 0,1–1 мВ [3, 13]. Анализ литературных данных
    Exact
    [1–13]
    Suffix
    показал, что измерители КРП, как правило, представляют собой лабораторную установку, состоящую из серийно выпускаемых измерительных приборов (измерительных усилителей, фазовых детекторов (Lock-in) и др.), поэтому они обладают рядом недостатков, к числу которых можно отнести большие габариты, высокую стоимость, а также сравнительно большое время измерений, сложность выполнения многократных

6
Vorobey, R.I. Controlling the characteristics of photovoltaic cell based on their own semiconductors / R.I. Vorobey [et al.] // Przeglad Elektrotechniczny. – 2015. – No. 8. – P. 81–85.
Total in-text references: 2
  1. In-text reference with the coordinate start=3500
    Prefix
    DOI: 10.21122/2220-9506-2016-7-1-7-15 7 Введение Измерители контактной разности потенциалов (КРП) находят широкое применение как при решении научно-исследовательских задач [1–3], так и в промышленности при оценке состояния поверхности материалов различной физической природы
    Exact
    [4–6]
    Suffix
    , качества очистки их поверхностей [7, 8], защитных и эксплуатационных свойств тонких пленок и покрытий [9, 10] и др. [11], в том числе для изделий микро- и нанотехнологии [12]. Методы измерения КРП (метод Кельвина– Зисмана) в случае металлов, сплавов и полупроводников основаны на регистрации разности работ выхода электрона (РВЭ) между измеряемой и эталонной поверхностями.

  2. In-text reference with the coordinate start=4454
    Prefix
    Так, например, монослой адсорбированных частиц может вызвать изменение поверхностного потенциала на величину порядка 1 В, а инструментальная чувствительность методов измерения РВЭ составляет величину около 0,1–1 мВ [3, 13]. Анализ литературных данных
    Exact
    [1–13]
    Suffix
    показал, что измерители КРП, как правило, представляют собой лабораторную установку, состоящую из серийно выпускаемых измерительных приборов (измерительных усилителей, фазовых детекторов (Lock-in) и др.), поэтому они обладают рядом недостатков, к числу которых можно отнести большие габариты, высокую стоимость, а также сравнительно большое время измерений, сложность выполнения многократных

7
Shuji, H. Surface state bands on silicon as electron systems in reduced dimensions at atomic scales / H. Shuji // Journal of Physics: Condensed Matter. – 2000. – Vol. 12. – No. 35. – P. 463–495.
Total in-text references: 2
  1. In-text reference with the coordinate start=3540
    Prefix
    DOI: 10.21122/2220-9506-2016-7-1-7-15 7 Введение Измерители контактной разности потенциалов (КРП) находят широкое применение как при решении научно-исследовательских задач [1–3], так и в промышленности при оценке состояния поверхности материалов различной физической природы [4–6], качества очистки их поверхностей
    Exact
    [7, 8]
    Suffix
    , защитных и эксплуатационных свойств тонких пленок и покрытий [9, 10] и др. [11], в том числе для изделий микро- и нанотехнологии [12]. Методы измерения КРП (метод Кельвина– Зисмана) в случае металлов, сплавов и полупроводников основаны на регистрации разности работ выхода электрона (РВЭ) между измеряемой и эталонной поверхностями.

  2. In-text reference with the coordinate start=4454
    Prefix
    Так, например, монослой адсорбированных частиц может вызвать изменение поверхностного потенциала на величину порядка 1 В, а инструментальная чувствительность методов измерения РВЭ составляет величину около 0,1–1 мВ [3, 13]. Анализ литературных данных
    Exact
    [1–13]
    Suffix
    показал, что измерители КРП, как правило, представляют собой лабораторную установку, состоящую из серийно выпускаемых измерительных приборов (измерительных усилителей, фазовых детекторов (Lock-in) и др.), поэтому они обладают рядом недостатков, к числу которых можно отнести большие габариты, высокую стоимость, а также сравнительно большое время измерений, сложность выполнения многократных

8
Kondo, A. Kelvin probe imaging of photo-injected electrons in metal oxide nanosheets from metal sulfide quantum dots under remote photochromic coloration / A. Kondo [et al.] // Nanoscale. – 2015. – No. 7. – P. 12510–12515.
Total in-text references: 2
  1. In-text reference with the coordinate start=3540
    Prefix
    DOI: 10.21122/2220-9506-2016-7-1-7-15 7 Введение Измерители контактной разности потенциалов (КРП) находят широкое применение как при решении научно-исследовательских задач [1–3], так и в промышленности при оценке состояния поверхности материалов различной физической природы [4–6], качества очистки их поверхностей
    Exact
    [7, 8]
    Suffix
    , защитных и эксплуатационных свойств тонких пленок и покрытий [9, 10] и др. [11], в том числе для изделий микро- и нанотехнологии [12]. Методы измерения КРП (метод Кельвина– Зисмана) в случае металлов, сплавов и полупроводников основаны на регистрации разности работ выхода электрона (РВЭ) между измеряемой и эталонной поверхностями.

  2. In-text reference with the coordinate start=4454
    Prefix
    Так, например, монослой адсорбированных частиц может вызвать изменение поверхностного потенциала на величину порядка 1 В, а инструментальная чувствительность методов измерения РВЭ составляет величину около 0,1–1 мВ [3, 13]. Анализ литературных данных
    Exact
    [1–13]
    Suffix
    показал, что измерители КРП, как правило, представляют собой лабораторную установку, состоящую из серийно выпускаемых измерительных приборов (измерительных усилителей, фазовых детекторов (Lock-in) и др.), поэтому они обладают рядом недостатков, к числу которых можно отнести большие габариты, высокую стоимость, а также сравнительно большое время измерений, сложность выполнения многократных

9
Жарин, А.Л. Методы зондовой электрометрии для разработки и исследования свойств перспективных материалов // Перспективные материалы и технологии: монография : в 2 т. / А.Л. Жарин, К.В. Пантелеев, А.К. Тявловский. – Витебск : Изд-во ВГТУ. – 2015. – Т. 1. – 398 с.
Total in-text references: 3
  1. In-text reference with the coordinate start=3614
    Prefix
    DOI: 10.21122/2220-9506-2016-7-1-7-15 7 Введение Измерители контактной разности потенциалов (КРП) находят широкое применение как при решении научно-исследовательских задач [1–3], так и в промышленности при оценке состояния поверхности материалов различной физической природы [4–6], качества очистки их поверхностей [7, 8], защитных и эксплуатационных свойств тонких пленок и покрытий
    Exact
    [9, 10]
    Suffix
    и др. [11], в том числе для изделий микро- и нанотехнологии [12]. Методы измерения КРП (метод Кельвина– Зисмана) в случае металлов, сплавов и полупроводников основаны на регистрации разности работ выхода электрона (РВЭ) между измеряемой и эталонной поверхностями.

  2. In-text reference with the coordinate start=4454
    Prefix
    Так, например, монослой адсорбированных частиц может вызвать изменение поверхностного потенциала на величину порядка 1 В, а инструментальная чувствительность методов измерения РВЭ составляет величину около 0,1–1 мВ [3, 13]. Анализ литературных данных
    Exact
    [1–13]
    Suffix
    показал, что измерители КРП, как правило, представляют собой лабораторную установку, состоящую из серийно выпускаемых измерительных приборов (измерительных усилителей, фазовых детекторов (Lock-in) и др.), поэтому они обладают рядом недостатков, к числу которых можно отнести большие габариты, высокую стоимость, а также сравнительно большое время измерений, сложность выполнения многократных

  3. In-text reference with the coordinate start=6528
    Prefix
    Если в обычных электрометрах с динамическим конденсатором площадь пластин порядка нескольких квадратных сантиметров, то в случае измерителей КРП практический интерес представляют размеры порядка 0,1–5 мм2, например для использования в сканирующих системах (в сканирующем зонде Кельвина, Scanning Kelvin Probe
    Exact
    [9, 14]
    Suffix
    ), а также в системах контроля технологических процессов, например при трении [15]. Поэтому сигналы с конденсатора измерителя КРП чрезвычайно малы, порядка минимально разрешимых с точки зрения современной аналоговой электроники.

10
Li, G. Effect of thermal excitation on intermolecular charge transfer efficiency in conducting polyaniline / G. Li [et al.] // Applied physics letters. – 2004. – Vol. 85. – No. 7. – P. 1187–1189.
Total in-text references: 2
  1. In-text reference with the coordinate start=3614
    Prefix
    DOI: 10.21122/2220-9506-2016-7-1-7-15 7 Введение Измерители контактной разности потенциалов (КРП) находят широкое применение как при решении научно-исследовательских задач [1–3], так и в промышленности при оценке состояния поверхности материалов различной физической природы [4–6], качества очистки их поверхностей [7, 8], защитных и эксплуатационных свойств тонких пленок и покрытий
    Exact
    [9, 10]
    Suffix
    и др. [11], в том числе для изделий микро- и нанотехнологии [12]. Методы измерения КРП (метод Кельвина– Зисмана) в случае металлов, сплавов и полупроводников основаны на регистрации разности работ выхода электрона (РВЭ) между измеряемой и эталонной поверхностями.

  2. In-text reference with the coordinate start=4454
    Prefix
    Так, например, монослой адсорбированных частиц может вызвать изменение поверхностного потенциала на величину порядка 1 В, а инструментальная чувствительность методов измерения РВЭ составляет величину около 0,1–1 мВ [3, 13]. Анализ литературных данных
    Exact
    [1–13]
    Suffix
    показал, что измерители КРП, как правило, представляют собой лабораторную установку, состоящую из серийно выпускаемых измерительных приборов (измерительных усилителей, фазовых детекторов (Lock-in) и др.), поэтому они обладают рядом недостатков, к числу которых можно отнести большие габариты, высокую стоимость, а также сравнительно большое время измерений, сложность выполнения многократных

11
Klein, U. Contact potential differences measurement: Short history and experimental setup for classroom demonstration / U. Klein, W. Vollmann, A. Paulo // IEEE Transactions on Education. – 2003. – No. 46(3). – P. 338–344.
Total in-text references: 2
  1. In-text reference with the coordinate start=3628
    Prefix
    /2220-9506-2016-7-1-7-15 7 Введение Измерители контактной разности потенциалов (КРП) находят широкое применение как при решении научно-исследовательских задач [1–3], так и в промышленности при оценке состояния поверхности материалов различной физической природы [4–6], качества очистки их поверхностей [7, 8], защитных и эксплуатационных свойств тонких пленок и покрытий [9, 10] и др.
    Exact
    [11]
    Suffix
    , в том числе для изделий микро- и нанотехнологии [12]. Методы измерения КРП (метод Кельвина– Зисмана) в случае металлов, сплавов и полупроводников основаны на регистрации разности работ выхода электрона (РВЭ) между измеряемой и эталонной поверхностями.

  2. In-text reference with the coordinate start=4454
    Prefix
    Так, например, монослой адсорбированных частиц может вызвать изменение поверхностного потенциала на величину порядка 1 В, а инструментальная чувствительность методов измерения РВЭ составляет величину около 0,1–1 мВ [3, 13]. Анализ литературных данных
    Exact
    [1–13]
    Suffix
    показал, что измерители КРП, как правило, представляют собой лабораторную установку, состоящую из серийно выпускаемых измерительных приборов (измерительных усилителей, фазовых детекторов (Lock-in) и др.), поэтому они обладают рядом недостатков, к числу которых можно отнести большие габариты, высокую стоимость, а также сравнительно большое время измерений, сложность выполнения многократных

12
Galembeck, A. Scanning electric potential microscopy imaging of polymers: electrical charge distribution in dielectrics / A. Galembeck [et al.] // Polymer. – 2001. – Vol. 42. – P. 4845−4851.
Total in-text references: 2
  1. In-text reference with the coordinate start=3682
    Prefix
    разности потенциалов (КРП) находят широкое применение как при решении научно-исследовательских задач [1–3], так и в промышленности при оценке состояния поверхности материалов различной физической природы [4–6], качества очистки их поверхностей [7, 8], защитных и эксплуатационных свойств тонких пленок и покрытий [9, 10] и др. [11], в том числе для изделий микро- и нанотехнологии
    Exact
    [12]
    Suffix
    . Методы измерения КРП (метод Кельвина– Зисмана) в случае металлов, сплавов и полупроводников основаны на регистрации разности работ выхода электрона (РВЭ) между измеряемой и эталонной поверхностями.

  2. In-text reference with the coordinate start=4454
    Prefix
    Так, например, монослой адсорбированных частиц может вызвать изменение поверхностного потенциала на величину порядка 1 В, а инструментальная чувствительность методов измерения РВЭ составляет величину около 0,1–1 мВ [3, 13]. Анализ литературных данных
    Exact
    [1–13]
    Suffix
    показал, что измерители КРП, как правило, представляют собой лабораторную установку, состоящую из серийно выпускаемых измерительных приборов (измерительных усилителей, фазовых детекторов (Lock-in) и др.), поэтому они обладают рядом недостатков, к числу которых можно отнести большие габариты, высокую стоимость, а также сравнительно большое время измерений, сложность выполнения многократных

13
Zharin, A.L. Application Macro- and Micro Kelvin Probe in Tribological Studies / A.L. Zharin // Fundamentals of Tribology and Bridging the Gap between the 12 Macro- and Micro/Nanoscales. – Netherland : Kliwer Academic Publishers, 2001. – P. 445–466.
Total in-text references: 2
  1. In-text reference with the coordinate start=4415
    Prefix
    Так, например, монослой адсорбированных частиц может вызвать изменение поверхностного потенциала на величину порядка 1 В, а инструментальная чувствительность методов измерения РВЭ составляет величину около 0,1–1 мВ
    Exact
    [3, 13]
    Suffix
    . Анализ литературных данных [1–13] показал, что измерители КРП, как правило, представляют собой лабораторную установку, состоящую из серийно выпускаемых измерительных приборов (измерительных усилителей, фазовых детекторов (Lock-in) и др.), поэтому они обладают рядом недостатков, к числу которых можно отнести большие габариты, высокую стоимость, а также сравнительно большое время измере

  2. In-text reference with the coordinate start=4454
    Prefix
    Так, например, монослой адсорбированных частиц может вызвать изменение поверхностного потенциала на величину порядка 1 В, а инструментальная чувствительность методов измерения РВЭ составляет величину около 0,1–1 мВ [3, 13]. Анализ литературных данных
    Exact
    [1–13]
    Suffix
    показал, что измерители КРП, как правило, представляют собой лабораторную установку, состоящую из серийно выпускаемых измерительных приборов (измерительных усилителей, фазовых детекторов (Lock-in) и др.), поэтому они обладают рядом недостатков, к числу которых можно отнести большие габариты, высокую стоимость, а также сравнительно большое время измерений, сложность выполнения многократных

14
Пантелеев, К.В. Диагностика локальных изменений пластической деформации по работе выхода электрона / К.В. Пантелеев, А.И. Свистун, А.Л. Жарин // Приборы и методы измерений. – 2015. – No 1 (10). – С. 56–63.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=6528
    Prefix
    Если в обычных электрометрах с динамическим конденсатором площадь пластин порядка нескольких квадратных сантиметров, то в случае измерителей КРП практический интерес представляют размеры порядка 0,1–5 мм2, например для использования в сканирующих системах (в сканирующем зонде Кельвина, Scanning Kelvin Probe
    Exact
    [9, 14]
    Suffix
    ), а также в системах контроля технологических процессов, например при трении [15]. Поэтому сигналы с конденсатора измерителя КРП чрезвычайно малы, порядка минимально разрешимых с точки зрения современной аналоговой электроники.

15
Пантелеев, К.В. Методы измерений работы выхода электрона для контроля состояния поверхностей в процессе трения / К.В. Пантелеев, А.И. Свистун, А.Л. Жарин // Приборы и методы измерений. – 2014. – No 2. – С. 107–113.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=6618
    Prefix
    электрометрах с динамическим конденсатором площадь пластин порядка нескольких квадратных сантиметров, то в случае измерителей КРП практический интерес представляют размеры порядка 0,1–5 мм2, например для использования в сканирующих системах (в сканирующем зонде Кельвина, Scanning Kelvin Probe [9, 14]), а также в системах контроля технологических процессов, например при трении
    Exact
    [15]
    Suffix
    . Поэтому сигналы с конденсатора измерителя КРП чрезвычайно малы, порядка минимально разрешимых с точки зрения современной аналоговой электроники. Кроме того, динамический конденсатор для электрометров представляет собой закрытую, полностью экранированную систему, что в случае измерений КРП сделать практически невозможно.

16
Danyluk, S. Kelvin probe’s stray capacitance and noise simulation / S. Danyluk [et al.] // Приборы и методы измерений. – 2014. – No 1 (8). – С. 94–98.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=7169
    Prefix
    Поэтому к измерителям КРП предъявляются жесткие требования как с точки зрения собственных шумов и защиты от внешних наводок, так и с точки зрения тщательной проработки механического и схемотехнического дизайна
    Exact
    [16]
    Suffix
    . Структурная схема измерителя контактной разности потенциалов На рисунке 1 показана структурная схема измерителя КРП. Входная цепь состоит из конденсатора, образованного поверхностями измерительного электрода М1 (эталонный образец), заземленного контролируемого образца М2 и входного высокоомного предусилителя.

17
Bourdopoulos, G. Delta-sigma modulators: modeling, design and applications / G. Bourdopoulos [et al.]. – London : Imperial College Press, 2003. – 260 p.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=10738
    Prefix
    Таким образом, измеритель непрерывно отслеживает изменение КРП между эталонным и измеряемым образцами по фазе, значение КРП может быть измерено или записано с помощью соответствующего внешнего регистратора. Модулятор Для возбуждения механических колебаний эталонного образца возможно использование механических, электромагнитных, электростатических и пьезоэлектрических модуляторов
    Exact
    [17]
    Suffix
    . Электростатические и пьезоэлектрические модуляторы не получили широкого распространения при измерениях КРП. Их недостатком является высокое переменное напряжение, требующееся для их работы, что создает значительный уровень помех, а также низкая механическая прочность, что затрудняет их использование в условиях повышенных вибраций.

18
Zharin, A.L. Contact Potential Difference Techniques As Probing Tools in Tribology and Surface Mapping / A.L. Zharin // Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology. – Heidelberg : SpringerVerlag, 2010. – P. 687–720.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=14882
    Prefix
    Применение во входном каскаде измерителя ОУ позволяет отказаться от традиционного разделительного конденсатора между эталонным образцом и входом усилителя, что, в свою очередь, позволяет уменьшить постоянную времени входной цепи для потенциала компенсации и повысить быстродействие устройства в целом
    Exact
    [18]
    Suffix
    . Кроме того, это позволяет подавать напряжение компенсации на эталонный образец, а измеряемый образец требует только заземления. Такой подход к построению предусилителя особенно важен для измерителей, применяемых в системах сканирования (сканирующий зонд Кельвина) и при контроле технологических процессов (например, при трении).