The 10 references with contexts in paper P. Kuznetsov L., V. Muraviev V., П. Кузнецов Л., В. Муравьев В. (2015) “КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА ЭЛЕКТРОЛИТИЧЕСКИХ ТАНТАЛОВЫХ КОНДЕНСАТОРОВ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ СТРЕСС-ТЕСТА // THE QUALITY CONTROL OF ELECTROLYTIC TANTALUM CAPACITORS BY USING THE STRESS TEST” / spz:neicon:pimi:y:2015:i:1:p:76-80

1
Fritzler, T. Scintillation Conditioning of Tantalum Capacitors With Manganese Dioxide Cathodes, IEEE Transactions on Device and Materials Reliability (Impact Factor: 1.54) / T. Fritzler, M.H. Azarian, M.G. Pecht. – 01/2014; 14(2):630-638. DOI: 10.1109/ TDMR.2014.2314731.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=1879
    Prefix
    При этом изменения в десятые и даже сотые доли Ома могут иметь существенное значение, в связи с чем исследование параметра Rэкв, представляется наиболее важным. Изучению танталовых конденсаторов уделяется большое внимание
    Exact
    [1, 2]
    Suffix
    , так как данные конденсаторы обладают высокой надежностью. Цикл исследований качества электролитических объемно-пористых танталовых конденсаторов в зависимости от качества материалов и технологии в процессе производства позволил повысить значение процента выхода годной продукции [3–9].

2
Franco, F. Di. Characterization of the Solid State Properties of Anodic Oxides on Magnetron Sputtered Ta, Nb and Ta-Nb Alloys / F. Di Franco [et al.] // Journal of The Electrochemical Society. – 2012.– Vol. 159(1). – P. 33–39.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=1879
    Prefix
    При этом изменения в десятые и даже сотые доли Ома могут иметь существенное значение, в связи с чем исследование параметра Rэкв, представляется наиболее важным. Изучению танталовых конденсаторов уделяется большое внимание
    Exact
    [1, 2]
    Suffix
    , так как данные конденсаторы обладают высокой надежностью. Цикл исследований качества электролитических объемно-пористых танталовых конденсаторов в зависимости от качества материалов и технологии в процессе производства позволил повысить значение процента выхода годной продукции [3–9].

3
Кузнецова, В.А. Исследование надежности танталовых оксидно-полупроводниковых чипконденсаторов на основе эксперименталь- ных данных / В.А. Кузнецова, П.Л. Кузнецов, В.В. Муравьев // Вестник Ижевского государственного технического университета. – 2013. – No 3. – С. 88–91.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=2166
    Prefix
    Цикл исследований качества электролитических объемно-пористых танталовых конденсаторов в зависимости от качества материалов и технологии в процессе производства позволил повысить значение процента выхода годной продукции
    Exact
    [3–9]
    Suffix
    . Однако необходимо развивать ускоренные способы анализа качества электролитических танталовых конденсаторов. Цель работы исследовать ускоренный способ анализа качества электролитических объемно-пористых танталовых конденсаторов на основе прогноза изменения эквивалентного последовательного сопротивления при проведении СТРЕСС-ТЕСТА.

4
Кузнецов, П.Л. Исследование влияния характеристик технологического процесса изготовления на изменения эксплуатационных характеристик танталовых объемно-пористых конденсаторов во времени / П.Л. Кузнецов, В.А. Кузнецова, Г.В. Ломаев // Вестник Ижевского государственного технического университета. – 2014. – No 1. – С. 11–15.
Total in-text references: 2
  1. In-text reference with the coordinate start=2166
    Prefix
    Цикл исследований качества электролитических объемно-пористых танталовых конденсаторов в зависимости от качества материалов и технологии в процессе производства позволил повысить значение процента выхода годной продукции
    Exact
    [3–9]
    Suffix
    . Однако необходимо развивать ускоренные способы анализа качества электролитических танталовых конденсаторов. Цель работы исследовать ускоренный способ анализа качества электролитических объемно-пористых танталовых конденсаторов на основе прогноза изменения эквивалентного последовательного сопротивления при проведении СТРЕСС-ТЕСТА.

  2. In-text reference with the coordinate start=4553
    Prefix
    Исследование экспериментальной партии электролитических объемно-пористых танталовых конденсаторов номиналом 35 В × 100 мкФ с использованием СТРЕССТЕСТА проведено на выборке n = 30 шт. Объем такой выборки согласно
    Exact
    [4]
    Suffix
    достаточен для проведения испытаний на длительную безотказность. Для объемно-пористых танталовых конденсаторов значение длительной безотказности может составлять до 40 000 ч. Методика исследований на длительную безотказность включала следующие операции: – измерения начальных значений параметров конденсаторов и в контрольных точках проводилось при температуре 20 С; – испытание ко

5
Кузнецова, В.А. Исследование влияния на эксплуатационные характеристики качества материалов танталовых оксидно-полупроводниковых чип-конденсаторов / В.А. Кузнецова [и др.] // Интеллектуальные системы в производстве. – 2013. – No 2. – С. 140–143.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=2166
    Prefix
    Цикл исследований качества электролитических объемно-пористых танталовых конденсаторов в зависимости от качества материалов и технологии в процессе производства позволил повысить значение процента выхода годной продукции
    Exact
    [3–9]
    Suffix
    . Однако необходимо развивать ускоренные способы анализа качества электролитических танталовых конденсаторов. Цель работы исследовать ускоренный способ анализа качества электролитических объемно-пористых танталовых конденсаторов на основе прогноза изменения эквивалентного последовательного сопротивления при проведении СТРЕСС-ТЕСТА.

6
Беляева, Е.А. Исследование влияния срока сохраняемости на эксплуатационные характеристики и состояние объемно-пористых танталовых конденсаторов / Е.А. Беляева, В.А. Кузнецова, В.В. Муравьев // Интеллектуальные системы в производстве. – 2014. – No 1. – С. 96–99.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=2166
    Prefix
    Цикл исследований качества электролитических объемно-пористых танталовых конденсаторов в зависимости от качества материалов и технологии в процессе производства позволил повысить значение процента выхода годной продукции
    Exact
    [3–9]
    Suffix
    . Однако необходимо развивать ускоренные способы анализа качества электролитических танталовых конденсаторов. Цель работы исследовать ускоренный способ анализа качества электролитических объемно-пористых танталовых конденсаторов на основе прогноза изменения эквивалентного последовательного сопротивления при проведении СТРЕСС-ТЕСТА.

7
Беляева, Е.А. Влияние переменной синусоидальной составляющей пульсирующего напряжения при оксидировании объемно-пористых анодов танталовых конденсаторов на электрические параметры / Е.А. Беляева, В.В. Муравьев // Интеллектуальные системы в производстве. – 2014. – No 2. – С. 96–102.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=2166
    Prefix
    Цикл исследований качества электролитических объемно-пористых танталовых конденсаторов в зависимости от качества материалов и технологии в процессе производства позволил повысить значение процента выхода годной продукции
    Exact
    [3–9]
    Suffix
    . Однако необходимо развивать ускоренные способы анализа качества электролитических танталовых конденсаторов. Цель работы исследовать ускоренный способ анализа качества электролитических объемно-пористых танталовых конденсаторов на основе прогноза изменения эквивалентного последовательного сопротивления при проведении СТРЕСС-ТЕСТА.

8
Кузнецова, В.А. Влияние качества корпуса оксидно-полупроводниковых танталовых чипконденсаторов на эксплуатационные параметры / Е.А. Беляева, В.В. Муравьев // Интеллектуальные системы в производстве. – 2014. – No 2. – С. 112–115.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=2166
    Prefix
    Цикл исследований качества электролитических объемно-пористых танталовых конденсаторов в зависимости от качества материалов и технологии в процессе производства позволил повысить значение процента выхода годной продукции
    Exact
    [3–9]
    Suffix
    . Однако необходимо развивать ускоренные способы анализа качества электролитических танталовых конденсаторов. Цель работы исследовать ускоренный способ анализа качества электролитических объемно-пористых танталовых конденсаторов на основе прогноза изменения эквивалентного последовательного сопротивления при проведении СТРЕСС-ТЕСТА.

9
Кузнецова, В.А. Влияние конструктивных характеристик анода на эксплуатационные параметры оксидно-полупроводниковых танталовых чип-конденсаторов / Е.А. Беляева, В.В. Муравьев // Вестник Ижевского государственного технического университета. – 2014. – No 4. – С. 105–107.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=2166
    Prefix
    Цикл исследований качества электролитических объемно-пористых танталовых конденсаторов в зависимости от качества материалов и технологии в процессе производства позволил повысить значение процента выхода годной продукции
    Exact
    [3–9]
    Suffix
    . Однако необходимо развивать ускоренные способы анализа качества электролитических танталовых конденсаторов. Цель работы исследовать ускоренный способ анализа качества электролитических объемно-пористых танталовых конденсаторов на основе прогноза изменения эквивалентного последовательного сопротивления при проведении СТРЕСС-ТЕСТА.

10
Радюшкин, О. Методы оценки срока эксплуатации электролитических конденсаторов / О. Радюшкин. – Силовая электроника. – 2010. – No 5. – С. 19–22.
Total in-text references: 4
  1. In-text reference with the coordinate start=2804
    Prefix
    Исходные положения Полное сопротивление рассчитывается по формуле: 22 ZRЭКВ)(LCXX, (1) где Rэкв – эквивалентное последовательное (активное) сопротивление; XC, XL – реактивные составляющие (емкостная, индуктивная соответственно). Значение Rэкв определяется тремя переменными
    Exact
    [10]
    Suffix
    : Rэкв0eRRRd, (2) где R0 – константа, определяемая сопротивлением оксидной пленки и внутренних соединений; Rd – составляющая, зависящая от частоты: fC D Roxd   2 , (3) где Dox – фактор диэлектрических потерь диэлектрика; f – частота.

  2. In-text reference with the coordinate start=3321
    Prefix
    Появление потерь, зависящих от частоты, обусловлено наличием тонкого слоя диэлектрика между обкладками. Потери Rе зависят от температуры и определяются типом применяемого электролита
    Exact
    [10]
    Suffix
    . Для оценки данной составляющей сопротивления применяют выражение: B A T o ReeRT      25 ()(25C)2, (4) где для электролитов на базе этиленгликоля постоянные А = 40; В = 0,6 [10].

  3. In-text reference with the coordinate start=3539
    Prefix
    Для оценки данной составляющей сопротивления применяют выражение: B A T o ReeRT      25 ()(25C)2, (4) где для электролитов на базе этиленгликоля постоянные А = 40; В = 0,6
    Exact
    [10]
    Suffix
    . В электролитических танталовых объемно-пористых конденсаторах контакт анодной пластины является прямым, так как основной металл анода – тантал, на котором термохимическим способом образуют оксидный слой, является диэлектриком (рисунок 1).

  4. In-text reference with the coordinate start=5157
    Prefix
    безотказность включала следующие операции: – измерения начальных значений параметров конденсаторов и в контрольных точках проводилось при температуре 20 С; – испытание конденсаторов при напряжении, равном номинальному Uисп = 35 В. Температура испытаний – максимальная температура среды, при которой допускается работа конденсаторов Тисп = 85 С; – продолжительность испытаний – 24000 ч
    Exact
    [10]
    Suffix
    ; – контрольные точки – 2000 ч; 3000 ч; 4000 ч; 6000 ч; 8000 ч; 10000 ч; 12 000 ч; 16000 ч; 19000 ч; 21000 ч; 24000 ч. Для анализа взяты следующие эксплуатационные характеристики конденсаторов: емкость конденсаторов С (мкФ) на частоте 50 Гц и эквивалентное последовательное сопротивление Rэкв (Ом) на частоте 100 кГц.