The 8 references with contexts in paper A. Jezhora A., A. Kuzmitch I., E. Radevich I., V. Rubanik V., А. Джежора А., А. Кузьмич И., Е. Радевич И., В. Рубаник В. (2015) “ПРИНЦИПЫ ПРОЕКТИРОВАНИЯ НАКЛАДНЫХ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ КОНДЕНСАТОРОВ В ПРИСУТСТВИИ ЗАЗЕМЛЕННОЙ ПЛОСКОСТИ // PRINCIPLES OF DESIGNING OF FRINGING ELECTRIC FIELD SENSORS IN THE PRESENCE OF A TOP GROUND PLANE BOUNDING” / spz:neicon:pimi:y:2011:i:2:p:109-115

1
Джежора, А.А. Диэлькометрический метод определения влажности волокон / А.А. Джежора // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. – 2010. – No 9. – Т. 76. – С. 44–48.
Total in-text references: 2
  1. In-text reference with the coordinate start=1332
    Prefix
    Введение Многосекционные накладные измерительразрушающем контроле физических, физикомеханических свойств материалов, таких как влагосодержание, пористость, вязкость, температура, твердость, степень вулканизации, контроле геометрических размеров изделий, диагностике состояния объектов
    Exact
    [1–3]
    Suffix
    . Спектроскопия импеданса, используя электроемкостные датчики, позволяет обнаружить присутствие примесей и их концентрацию в жидкой среде. Процесс проектирования многосекционных накладных измерительных конденсаторов (МНИК) основан на хорошем понимании физики процессов, происходящих как в области контроля, так и в области подложек датчиков, и подробно рассмотрен в р

  2. In-text reference with the coordinate start=11704
    Prefix
    Диэлектрическим образцам с одинаковой толщиной h = 0,30 мм, имеющим значения диэлектрической проницаемости 3е= 4,3 и 3е= 6,0, соответствует одно и то же значение емкости 12C= 1,43 пФ/м. Чувствительность датчиков к анизотропии диэлектрической проницаемости В ряде практических задач важно знать анизотропию структуры ортотропного материала
    Exact
    [1]
    Suffix
    . Выбор геометрических параметров МНИК с дополнительным плоским заземленным экраном осуществим, исходя из максимальной чувствительности к анизотропии материала с 1,9еx и 1,2ееzy.

2
Craig, M. Dielectric spectroscopy as a novel analytical technique within the pharmaceutical sciences / M. Craig // STP-Pharma-Pratiques. – Vol. 5. – No. 6. – 1995.– Р. 421–442.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=1332
    Prefix
    Введение Многосекционные накладные измерительразрушающем контроле физических, физикомеханических свойств материалов, таких как влагосодержание, пористость, вязкость, температура, твердость, степень вулканизации, контроле геометрических размеров изделий, диагностике состояния объектов
    Exact
    [1–3]
    Suffix
    . Спектроскопия импеданса, используя электроемкостные датчики, позволяет обнаружить присутствие примесей и их концентрацию в жидкой среде. Процесс проектирования многосекционных накладных измерительных конденсаторов (МНИК) основан на хорошем понимании физики процессов, происходящих как в области контроля, так и в области подложек датчиков, и подробно рассмотрен в р

3
Ogale, A.A. Fill front detection using dielectric sensors in resin transfer molding processes / A.A. Ogale [et al.] // Proc. Int. Conf. Composites/Nano Engineering. – 2003. – Р. 529–530.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=1332
    Prefix
    Введение Многосекционные накладные измерительразрушающем контроле физических, физикомеханических свойств материалов, таких как влагосодержание, пористость, вязкость, температура, твердость, степень вулканизации, контроле геометрических размеров изделий, диагностике состояния объектов
    Exact
    [1–3]
    Suffix
    . Спектроскопия импеданса, используя электроемкостные датчики, позволяет обнаружить присутствие примесей и их концентрацию в жидкой среде. Процесс проектирования многосекционных накладных измерительных конденсаторов (МНИК) основан на хорошем понимании физики процессов, происходящих как в области контроля, так и в области подложек датчиков, и подробно рассмотрен в р

4
Mamishev, A.V. Optimization of Multi-Wavelength Interdigital Dielectrometry Instrumentation and Algorithms / A.V. Mamishev, B.C. Lesieutre, M. Zahn // IEEE Trans. Dielectr. Electr. Insul. – 1998. – Vol. 5. – No 3. – P. 408–420.
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=1744
    Prefix
    Процесс проектирования многосекционных накладных измерительных конденсаторов (МНИК) основан на хорошем понимании физики процессов, происходящих как в области контроля, так и в области подложек датчиков, и подробно рассмотрен в работах
    Exact
    [4, 5]
    Suffix
    . Число работ, посвященных вопросам проектирования МНИК с дополнительным заземленным экраном, крайне мало [6, 7]. Цель данной работы – рассмотреть процесс проектирования МНИК с дополнительным заземленным экраном с учетом факторов, оказывающих влияние на глубину и ширину зоны контроля, силу сигнала, чувствительность к анизотропии диэлектрических свойств ортотропных мате

5
Xiaobei, B. Li Design Principles for Multichannel Fringing Electric Field Sensors / B. Li Xiaobei [et al.] // IEEE Sensors Journal. – Vol. 6. – No 2, 2006. – Р. 434–440.
Total in-text references: 3
  1. In-text reference with the coordinate start=1744
    Prefix
    Процесс проектирования многосекционных накладных измерительных конденсаторов (МНИК) основан на хорошем понимании физики процессов, происходящих как в области контроля, так и в области подложек датчиков, и подробно рассмотрен в работах
    Exact
    [4, 5]
    Suffix
    . Число работ, посвященных вопросам проектирования МНИК с дополнительным заземленным экраном, крайне мало [6, 7]. Цель данной работы – рассмотреть процесс проектирования МНИК с дополнительным заземленным экраном с учетом факторов, оказывающих влияние на глубину и ширину зоны контроля, силу сигнала, чувствительность к анизотропии диэлектрических свойств ортотропных мате

  2. In-text reference with the coordinate start=2787
    Prefix
    напряженности электрического поля, применяются для оценки влияния геометрических размеров датчика на его емкость, проверки сходимости численных расчетов с точными аналитическими расчетами, выполненными для однородных сред. Полуаналитические модели электроемкостных датчиков основаны на непосредственном решении уравнения Лапласа и применении метода коллокации
    Exact
    [5]
    Suffix
    . Толщина электродов при решении таких задач не учитывается и служит источником несоответствия между теоретическими и измеренными значениями импедансов. Несоответствия между теоретическими и измеренными значениями затрудняли интерпретацию полученных результатов, снижали эффективность электроемкостного способа контроля.

  3. In-text reference with the coordinate start=3636
    Prefix
    Представление электродов в виде зеркально-симметричных поверхностей, разнесенных в пространстве на расстояние, равное толщине реальных электродов [7], позволило без потери точности упростить процедуру численного расчета двухмерной задачи по сравнению с применением стандартных конечно-элементных схем
    Exact
    [5]
    Suffix
    , сократить вычислиные конденсаторы широко используются в неПриборы и методы измерений, No 2 (3), 2011 109 тельные затраты (по памяти – в 1,5–2,5 раза, по времени счета – в 2–3 раза). Результаты моделирования МНИК с дополнительным плоским заземленным экраном [7] (рисунок 1) позволили выявить основные качественные взаимосвязи между их характеристиками и параметрами расчета.

6
Sheiretov, Y. Modeling of Spatially Periodic Dielectric Sensors in the Presence of a Top Ground Plane Bounding the Test Dielectric // Y. Sheiretov, M. Zahn // IEEE Trans. Dielectr. Electr. Insul, 2005. – Vol. 12. – Р. 993–1004.
Total in-text references: 2
  1. In-text reference with the coordinate start=1863
    Prefix
    Процесс проектирования многосекционных накладных измерительных конденсаторов (МНИК) основан на хорошем понимании физики процессов, происходящих как в области контроля, так и в области подложек датчиков, и подробно рассмотрен в работах [4, 5]. Число работ, посвященных вопросам проектирования МНИК с дополнительным заземленным экраном, крайне мало
    Exact
    [6, 7]
    Suffix
    . Цель данной работы – рассмотреть процесс проектирования МНИК с дополнительным заземленным экраном с учетом факторов, оказывающих влияние на глубину и ширину зоны контроля, силу сигнала, чувствительность к анизотропии диэлектрических свойств ортотропных материалов.

  2. In-text reference with the coordinate start=10151
    Prefix
    На рисунке 4 (кривые 1, 2, 3, 4) видно, что воздушный зазор h1 играет важную роль в образовании аномальных областей: с ростом диэлектрической проницаемости 3е (кривые 1, 2, 3) межэлектродная емкость уменьшается по сравнению с емкостью в воздухе кривая 4 (3е= 1)
    Exact
    [6]
    Suffix
    . В этой области контролируемый диэлектрик экранируется плоским экраном 5, который оттягивает потоки электрического поля, и межэлектродная емкость мала. Рисунок 4 – Зависимость межэлектродной емкости C12 на единицу длины от расстояния 1hh между заземленным экраном 5 и плоскостью электродов 112 Приборы и методы измерений, No 2 (3), 2011 Диапазон аномальной области з

7
Джежора, А.А. Моделирование накладных измерительных конденсаторов в присутствии заземленной плоскости / А.А. Джежора // Метрология и приборостроение. – 2010. – No 2 (49). – С. 38–42.
Total in-text references: 4
  1. In-text reference with the coordinate start=1863
    Prefix
    Процесс проектирования многосекционных накладных измерительных конденсаторов (МНИК) основан на хорошем понимании физики процессов, происходящих как в области контроля, так и в области подложек датчиков, и подробно рассмотрен в работах [4, 5]. Число работ, посвященных вопросам проектирования МНИК с дополнительным заземленным экраном, крайне мало
    Exact
    [6, 7]
    Suffix
    . Цель данной работы – рассмотреть процесс проектирования МНИК с дополнительным заземленным экраном с учетом факторов, оказывающих влияние на глубину и ширину зоны контроля, силу сигнала, чувствительность к анизотропии диэлектрических свойств ортотропных материалов.

  2. In-text reference with the coordinate start=3313
    Prefix
    Несоответствия между теоретическими и измеренными значениями затрудняли интерпретацию полученных результатов, снижали эффективность электроемкостного способа контроля. Для устранения указанных несоответствий был разработан численный метод расчета электроемкостных преобразователей на основе метода интегральных уравнений Фредгольма первого рода
    Exact
    [7, 8]
    Suffix
    . Представление электродов в виде зеркально-симметричных поверхностей, разнесенных в пространстве на расстояние, равное толщине реальных электродов [7], позволило без потери точности упростить процедуру численного расчета двухмерной задачи по сравнению с применением стандартных конечно-элементных схем [5], сократить вычислиные конденсаторы широко используются в неПриборы и методы

  3. In-text reference with the coordinate start=3471
    Prefix
    Для устранения указанных несоответствий был разработан численный метод расчета электроемкостных преобразователей на основе метода интегральных уравнений Фредгольма первого рода [7, 8]. Представление электродов в виде зеркально-симметричных поверхностей, разнесенных в пространстве на расстояние, равное толщине реальных электродов
    Exact
    [7]
    Suffix
    , позволило без потери точности упростить процедуру численного расчета двухмерной задачи по сравнению с применением стандартных конечно-элементных схем [5], сократить вычислиные конденсаторы широко используются в неПриборы и методы измерений, No 2 (3), 2011 109 тельные затраты (по памяти – в 1,5–2,5 раза, по времени счета – в 2–3 раза).

  4. In-text reference with the coordinate start=3942
    Prefix
    процедуру численного расчета двухмерной задачи по сравнению с применением стандартных конечно-элементных схем [5], сократить вычислиные конденсаторы широко используются в неПриборы и методы измерений, No 2 (3), 2011 109 тельные затраты (по памяти – в 1,5–2,5 раза, по времени счета – в 2–3 раза). Результаты моделирования МНИК с дополнительным плоским заземленным экраном
    Exact
    [7]
    Suffix
    (рисунок 1) позволили выявить основные качественные взаимосвязи между их характеристиками и параметрами расчета. Они включают в себя влияние на глубину зоны контроля, силу сигнала, чувствительность к анизотропии диэлектрических свойств ортотропных материалов геометрических размеров контролируемого образца, электродов, подложки.

8
Джежора, А.А. Модель накладного измерительного конденсатора / А.А. Джежора // Известия НАН Беларуси. Сер. физ.-тех. наук. – 2010. – No 3. – С. 99–103. Jezhora А.А., Ku
Total in-text references: 1
  1. In-text reference with the coordinate start=3313
    Prefix
    Несоответствия между теоретическими и измеренными значениями затрудняли интерпретацию полученных результатов, снижали эффективность электроемкостного способа контроля. Для устранения указанных несоответствий был разработан численный метод расчета электроемкостных преобразователей на основе метода интегральных уравнений Фредгольма первого рода
    Exact
    [7, 8]
    Suffix
    . Представление электродов в виде зеркально-симметричных поверхностей, разнесенных в пространстве на расстояние, равное толщине реальных электродов [7], позволило без потери точности упростить процедуру численного расчета двухмерной задачи по сравнению с применением стандартных конечно-элементных схем [5], сократить вычислиные конденсаторы широко используются в неПриборы и методы