The 11 reference contexts in paper G. Sharonov V., A. Zharin L., N. Muhurov I., K. Pantsialeyeu U., Г. Шаронов В., А. Жарин Л., Н. Мухуров И., К. Пантелеев В. (2015) “КОНТРОЛЬ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ, ОБРАБОТАННЫХ АЛМАЗНЫМ НАНОТОЧЕНИЕМ, ПО РАБОТЕ ВЫХОДА ЭЛЕКТРОНА // CONTROL OF METAL SURFACES MACHINED IN ACCORDANCE WITH THE DIAMOND NANOMACHINING TECHNOLOGY BASED ON THE ELECTRON WORK FUNCTION” / spz:neicon:pimi:y:2015:i:2:p:196-203

  1. Start
    3627
    Prefix
    измерений Devices and Methods of Measurements Введение В настоящее время методы, основанные на регистрации распределения работы выхода электрона (РВЭ), например по контактной разности потенциалов, находят достаточно широкое применение для исследований и неразрушающего контроля параметров поверхности, и процессов, протекающих в поверхностных и приповерхностных слоях твердых тел
    Exact
    [1–3]
    Suffix
    . Величина РВЭ связана напрямую с физико-химическими и механическими свойствами вещества в конденсированном состоянии. Изменение физико-химических и механических параметров поверхности твердого тела должно вызывать соответствующее изменение РВЭ [2].
    (check this in PDF content)

  2. Start
    3891
    Prefix
    Величина РВЭ связана напрямую с физико-химическими и механическими свойствами вещества в конденсированном состоянии. Изменение физико-химических и механических параметров поверхности твердого тела должно вызывать соответствующее изменение РВЭ
    Exact
    [2]
    Suffix
    . Существующая технология размерной обработки резанием базируется на известных теориях обработки с использованием интегральных параметров поверхностного слоя, например, значением Rmaх – максимальной высоты шероховатости [4].
    (check this in PDF content)

  3. Start
    4119
    Prefix
    Существующая технология размерной обработки резанием базируется на известных теориях обработки с использованием интегральных параметров поверхностного слоя, например, значением Rmaх – максимальной высоты шероховатости
    Exact
    [4]
    Suffix
    . Как показывает практика, при обработке и формировании сверхгладких поверхностей цветных металлов и сплавов свободные электроны, образующиеся при технологическом воздействии резца, приводят к процессам окисления поверхности и изменению физико-химических параметров [5].
    (check this in PDF content)

  4. Start
    4395
    Prefix
    Как показывает практика, при обработке и формировании сверхгладких поверхностей цветных металлов и сплавов свободные электроны, образующиеся при технологическом воздействии резца, приводят к процессам окисления поверхности и изменению физико-химических параметров
    Exact
    [5]
    Suffix
    . При этом толщина образующейся оксидной пленки может быть сравнима или больше высоты максимальной шероховатости. При описании характеристик реальной поверхности металлов после обработки недостаточно оперировать только геометрическими параметрами.
    (check this in PDF content)

  5. Start
    5227
    Prefix
    Согласно электронной теории металлов, энергия электронов будет тем ниже, чем более гладкой и однородной является поверхность с электронами. Для исследования шероховатой поверхности металлов и сплавов используется параметр РВЭ поверхности
    Exact
    [6]
    Suffix
    , так как он наиболее чувствителен к процессам, протекающим в поверхностных и приповерхноствоздействиях (пластическая деформация, окисление, фазовые и структурные превращения, распределение поверхностных и подповерхностных дефектов и т.п. [1–3, 7]).
    (check this in PDF content)

  6. Start
    5533
    Prefix
    Для исследования шероховатой поверхности металлов и сплавов используется параметр РВЭ поверхности [6], так как он наиболее чувствителен к процессам, протекающим в поверхностных и приповерхноствоздействиях (пластическая деформация, окисление, фазовые и структурные превращения, распределение поверхностных и подповерхностных дефектов и т.п.
    Exact
    [1–3, 7]
    Suffix
    ). Поэтому величина РВЭ может быть принята в качестве комплексного параметра оценки физико-химического состояния поверхности при обработке и формировании оптических чистых поверхностей [8]. Целью работы являлось исследование электрофизического состояния оптических поверхностей цветных металлов и сплавов в совокупности с геометрическими и физико-химическими параметрами по распределению РВ
    (check this in PDF content)

  7. Start
    5731
    Prefix
    протекающим в поверхностных и приповерхноствоздействиях (пластическая деформация, окисление, фазовые и структурные превращения, распределение поверхностных и подповерхностных дефектов и т.п. [1–3, 7]). Поэтому величина РВЭ может быть принята в качестве комплексного параметра оценки физико-химического состояния поверхности при обработке и формировании оптических чистых поверхностей
    Exact
    [8]
    Suffix
    . Целью работы являлось исследование электрофизического состояния оптических поверхностей цветных металлов и сплавов в совокупности с геометрическими и физико-химическими параметрами по распределению РВЭ поверхности.
    (check this in PDF content)

  8. Start
    6058
    Prefix
    Целью работы являлось исследование электрофизического состояния оптических поверхностей цветных металлов и сплавов в совокупности с геометрическими и физико-химическими параметрами по распределению РВЭ поверхности. Метод исследования Регистрация распределения РВЭ осуществлялась модернизированным зондом Кельвина
    Exact
    [9]
    Suffix
    . Метод заключается в измерении контактной разности потенциалов между поверхностями контролируемого образца и эталонным измерительным электродом. Величина контактной разницы потенциалов определяется разностью работ выхода электрона поверхностей образованного плоского конденсатора.
    (check this in PDF content)

  9. Start
    7004
    Prefix
    Отличительной особенностью методики исследования является бесконтактность, отсутствие каких-либо разрушающих воздействий на контролируемый образец и возможность выявления дефектов структуры, недоступных другим неразрушающим, в частности, оптическим и электронным методам контроля. Измерения выполняли на сканирующей установке
    Exact
    [1]
    Suffix
    . В состав установки входят следующие основные узлы: двухкоординатный привод перемещения рабочего столика; блок управления и сбора данных, выполненного на базе стандартного ПК; вибрирующий зонд Кельвина–Зисмана.
    (check this in PDF content)

  10. Start
    7546
    Prefix
    Привод позволяет проводить перемещение рабочего столика с закрепленным на нем образцом линейными размерами до 180 × 180 мм, шагом сканирования от 10 мкм. Регистрация контактной разницы потенциалов осуществлялась в диапазоне ± 5 мВ и разрешающей способностью 250 мкм. Случайные ошибки измерения сведены к нулю
    Exact
    [10]
    Suffix
    . Технология изготовления экспериментальных образцов металлических подложек с оптической чистотой поверхности Для алмазного наноточения используется специальное высокоточное оборудование, позволяющее обеспечить шероховатость обработки цветных металлов и сплавов на уровне Ra ≤ 0,005 мкм.
    (check this in PDF content)

  11. Start
    8409
    Prefix
    Из алюминиевого сплава марки 5086 США (4,0 % Mg, 0,5 % Мn) изготавливаются подложки для получения пористого анодного оксида алюминия для гибридных микросхем, а из сплава АМГ-2 – оптические зеркала широкого практического применения
    Exact
    [11]
    Suffix
    . Технология изготовления экспериментальных образцов подложек включает предварительную токарную или фрезерную обработку с последующим нагревом для стабилизации фазового и структурного состояния материала, снятия внутренних напряжений, оптимизации сопротивления пластическим деформациям.
    (check this in PDF content)