The 7 reference contexts in paper P. Kuznetsov L., V. Muraviev V., П. Кузнецов Л., В. Муравьев В. (2015) “КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА ЭЛЕКТРОЛИТИЧЕСКИХ ТАНТАЛОВЫХ КОНДЕНСАТОРОВ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ СТРЕСС-ТЕСТА // THE QUALITY CONTROL OF ELECTROLYTIC TANTALUM CAPACITORS BY USING THE STRESS TEST” / spz:neicon:pimi:y:2015:i:1:p:76-80

  1. Start
    1879
    Prefix
    При этом изменения в десятые и даже сотые доли Ома могут иметь существенное значение, в связи с чем исследование параметра Rэкв, представляется наиболее важным. Изучению танталовых конденсаторов уделяется большое внимание
    Exact
    [1, 2]
    Suffix
    , так как данные конденсаторы обладают высокой надежностью. Цикл исследований качества электролитических объемно-пористых танталовых конденсаторов в зависимости от качества материалов и технологии в процессе производства позволил повысить значение процента выхода годной продукции [3–9].
    (check this in PDF content)

  2. Start
    2166
    Prefix
    Цикл исследований качества электролитических объемно-пористых танталовых конденсаторов в зависимости от качества материалов и технологии в процессе производства позволил повысить значение процента выхода годной продукции
    Exact
    [3–9]
    Suffix
    . Однако необходимо развивать ускоренные способы анализа качества электролитических танталовых конденсаторов. Цель работы исследовать ускоренный способ анализа качества электролитических объемно-пористых танталовых конденсаторов на основе прогноза изменения эквивалентного последовательного сопротивления при проведении СТРЕСС-ТЕСТА.
    (check this in PDF content)

  3. Start
    2804
    Prefix
    Исходные положения Полное сопротивление рассчитывается по формуле: 22 ZRЭКВ)(LCXX, (1) где Rэкв – эквивалентное последовательное (активное) сопротивление; XC, XL – реактивные составляющие (емкостная, индуктивная соответственно). Значение Rэкв определяется тремя переменными
    Exact
    [10]
    Suffix
    : Rэкв0eRRRd, (2) где R0 – константа, определяемая сопротивлением оксидной пленки и внутренних соединений; Rd – составляющая, зависящая от частоты: fC D Roxd   2 , (3) где Dox – фактор диэлектрических потерь диэлектрика; f – частота.
    (check this in PDF content)

  4. Start
    3321
    Prefix
    Появление потерь, зависящих от частоты, обусловлено наличием тонкого слоя диэлектрика между обкладками. Потери Rе зависят от температуры и определяются типом применяемого электролита
    Exact
    [10]
    Suffix
    . Для оценки данной составляющей сопротивления применяют выражение: B A T o ReeRT      25 ()(25C)2, (4) где для электролитов на базе этиленгликоля постоянные А = 40; В = 0,6 [10].
    (check this in PDF content)

  5. Start
    3539
    Prefix
    Для оценки данной составляющей сопротивления применяют выражение: B A T o ReeRT      25 ()(25C)2, (4) где для электролитов на базе этиленгликоля постоянные А = 40; В = 0,6
    Exact
    [10]
    Suffix
    . В электролитических танталовых объемно-пористых конденсаторах контакт анодной пластины является прямым, так как основной металл анода – тантал, на котором термохимическим способом образуют оксидный слой, является диэлектриком (рисунок 1).
    (check this in PDF content)

  6. Start
    4553
    Prefix
    Исследование экспериментальной партии электролитических объемно-пористых танталовых конденсаторов номиналом 35 В × 100 мкФ с использованием СТРЕССТЕСТА проведено на выборке n = 30 шт. Объем такой выборки согласно
    Exact
    [4]
    Suffix
    достаточен для проведения испытаний на длительную безотказность. Для объемно-пористых танталовых конденсаторов значение длительной безотказности может составлять до 40 000 ч. Методика исследований на длительную безотказность включала следующие операции: – измерения начальных значений параметров конденсаторов и в контрольных точках проводилось при температуре 20 С; – испытание ко
    (check this in PDF content)

  7. Start
    5157
    Prefix
    безотказность включала следующие операции: – измерения начальных значений параметров конденсаторов и в контрольных точках проводилось при температуре 20 С; – испытание конденсаторов при напряжении, равном номинальному Uисп = 35 В. Температура испытаний – максимальная температура среды, при которой допускается работа конденсаторов Тисп = 85 С; – продолжительность испытаний – 24000 ч
    Exact
    [10]
    Suffix
    ; – контрольные точки – 2000 ч; 3000 ч; 4000 ч; 6000 ч; 8000 ч; 10000 ч; 12 000 ч; 16000 ч; 19000 ч; 21000 ч; 24000 ч. Для анализа взяты следующие эксплуатационные характеристики конденсаторов: емкость конденсаторов С (мкФ) на частоте 50 Гц и эквивалентное последовательное сопротивление Rэкв (Ом) на частоте 100 кГц.
    (check this in PDF content)