The 6 reference contexts in paper A. Tyavlovsky K., A. Zharin L., А. Тявловский К., А. Жарин Л. (2015) “АНАЛИЗ МЕТОДА ИЗМЕРЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНОГО ПОТЕНЦИАЛА ДИЭЛЕКТРИКОВ ПО СХЕМЕ ТОКОВОЙ КОМПЕНСАЦИИ // THE ANALYSIS OF DIELECTRICS' SURFACE POTENTIAL MEASURING TECHNIQUE BASED ON A CURRENT FEEDBACK SCHEME” / spz:neicon:pimi:y:2011:i:2:p:136-144

  1. Start
    3935
    Prefix
    из обозначенных требований: минимизации воздействия на образец, обеспечения максимальной чувствительности, максимального быстродействия и минимальной зависимости сигнала от расстояния между зондом и образцом. Методы регистрации поверхностного потенциала Традиционные методы регистрации поверхностного потенциала диэлектриков можно разделить на несколько категорий
    Exact
    [1]
    Suffix
    : – методы, основанные на тепловом воздействии на образец; – методы, использующие импульсное механическое воздействие; – электроакустические методы; – метод теплового градиента; – фотоэлектрические методы; – зондовые электрометрические методы; – прочие методы (например, основанные на использовании эффектов Керра или Покельса).
    (check this in PDF content)

  2. Start
    4849
    Prefix
    В свою очередь, зондовые электрометрические методы подразделяются на статические и динамические, причем последние могут быть реализованы в варианте токового или потенциального зонда. Преимуществом статических методов (метода статического конденсатора) является высокое пространственное разрешение, достигающее 10 мкм
    Exact
    [2]
    Suffix
    . В то же время данный метод характеризуется сильной зависимостью измерительного сигнала от расстояния между чувствительным элементом зонда и поверхностью образца, что практически исключает его применение при сканировании неидеально плоских поверхностей.
    (check this in PDF content)

  3. Start
    5358
    Prefix
    Аналогичным недостатком характеризуется и динамический метод с токовым зондом. В соответствии с вышесказанным, наиболее подходящим путем решения поставленной задачи является использование зонда с динамическим конденсатором
    Exact
    [3]
    Suffix
    . Динамические зондовые методы измерения поверхностного потенциала В основу динамических зондовых методов положено использование динамического конденсатора, одну из обкладок которого формирует измерительный зонд, а вторую – поверхность исследуемого образца.
    (check this in PDF content)

  4. Start
    6622
    Prefix
    В случае динамического конденсатора расстояние между обкладками d изменяется по некоторому (как правило, периодическому) закону. В частности, при наложении на зонд механических колебаний частотой ω емкость динамического конденсатора C будет изменяться по закону
    Exact
    [4]
    Suffix
    : 00 01 11 () sin1 sin C tSC ddtmt , (2) где C0 – статическая емкость динамического конденсатора; ω – круговая частота колебаний; d0 – среднее расстояние между зондом и поверхностью; d1 – амплитуда вибрации зонда; 1 0 d m d – коэффициент модуляции динамического конденсатора Ток в цепи такого динамического конденсатора будет равен: 1 02 01 cos () sin Cdt i tUUS tddt . (3)
    (check this in PDF content)

  5. Start
    11995
    Prefix
    Поскольку в данном варианте реализовано включение предусилителя по схеме зарядочувствительного усилителя, то путем подбора сопротивления в цепи обратной связи можно варьировать коэффициент преобразования, приводя значения выходного напряжения к требуемому диапазону
    Exact
    [5]
    Suffix
    . Схема измерения поверхностного потенциала с токовой компенсацией обладает такими важными преимуществами, как высокое пространственное разрешение, определяемое малой площадью динамического электрометрического зонда, широкий диапазон измерений поверхностного потенциала, независимость измерительного сигнала от расстояния между зондом и исследуемой поверхностью (в пределах опре
    (check this in PDF content)

  6. Start
    15998
    Prefix
    Учет динамической природы конденсатора С1, емкость которого описывается нелинейным выражением (2), представляет достаточно сложную задачу, решаемую методом комплексногармонического анализа
    Exact
    [6]
    Suffix
    . Тем не менее, при малых значениях коэффициента модуляции m значение С1 в первом приближении можно считать постоянным, что существенно упрощает анализ. Для целей приближенной оценки погрешности измерения поверхностного потенциала такое допущение является приемлемым.
    (check this in PDF content)