The 10 reference contexts in paper A. Jezhora A., A. Kuzmitch I., E. Radevich I., V. Rubanik V., А. Джежора А., А. Кузьмич И., Е. Радевич И., В. Рубаник В. (2015) “ПРИНЦИПЫ ПРОЕКТИРОВАНИЯ НАКЛАДНЫХ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ КОНДЕНСАТОРОВ В ПРИСУТСТВИИ ЗАЗЕМЛЕННОЙ ПЛОСКОСТИ // PRINCIPLES OF DESIGNING OF FRINGING ELECTRIC FIELD SENSORS IN THE PRESENCE OF A TOP GROUND PLANE BOUNDING” / spz:neicon:pimi:y:2011:i:2:p:109-115

  1. Start
    1423
    Prefix
    Введение Многосекционные накладные измерительные конденсаторы широко используются в неразрушающем контроле физических, физикомеханических свойств материалов, таких как влагосодержание, пористость, вязкость, температура, твердость, степень вулканизации, контроле геометрических размеров изделий, диагностике состояния объектов
    Exact
    [1–3]
    Suffix
    . Спектроскопия импеданса, используя электроемкостные датчики, позволяет обнаружить присутствие примесей и их концентрацию в жидкой среде. Процесс проектирования многосекционных накладных измерительных конденсаторов (МНИК) основан на хорошем понимании физики процессов, происходящих как в области контроля, так и в области подложек датчиков, и подробно рассмотрен в р
    (check this in PDF content)

  2. Start
    1835
    Prefix
    Процесс проектирования многосекционных накладных измерительных конденсаторов (МНИК) основан на хорошем понимании физики процессов, происходящих как в области контроля, так и в области подложек датчиков, и подробно рассмотрен в работах
    Exact
    [4, 5]
    Suffix
    . Число работ, посвященных вопросам проектирования МНИК с дополнительным заземленным экраном, крайне мало [6, 7]. Цель данной работы – рассмотреть процесс проектирования МНИК с дополнительным заземленным экраном с учетом факторов, оказывающих влияние на глубину и ширину зоны контроля, силу сигнала, чувствительность к анизотропии диэлектрических свойств ортотропных мате
    (check this in PDF content)

  3. Start
    1954
    Prefix
    Процесс проектирования многосекционных накладных измерительных конденсаторов (МНИК) основан на хорошем понимании физики процессов, происходящих как в области контроля, так и в области подложек датчиков, и подробно рассмотрен в работах [4, 5]. Число работ, посвященных вопросам проектирования МНИК с дополнительным заземленным экраном, крайне мало
    Exact
    [6, 7]
    Suffix
    . Цель данной работы – рассмотреть процесс проектирования МНИК с дополнительным заземленным экраном с учетом факторов, оказывающих влияние на глубину и ширину зоны контроля, силу сигнала, чувствительность к анизотропии диэлектрических свойств ортотропных материалов.
    (check this in PDF content)

  4. Start
    2878
    Prefix
    напряженности электрического поля, применяются для оценки влияния геометрических размеров датчика на его емкость, проверки сходимости численных расчетов с точными аналитическими расчетами, выполненными для однородных сред. Полуаналитические модели электроемкостных датчиков основаны на непосредственном решении уравнения Лапласа и применении метода коллокации
    Exact
    [5]
    Suffix
    . Толщина электродов при решении таких задач не учитывается и служит источником несоответствия между теоретическими и измеренными значениями импедансов. Несоответствия между теоретическими и измеренными значениями затрудняли интерпретацию полученных результатов, снижали эффективность электроемкостного способа контроля.
    (check this in PDF content)

  5. Start
    3404
    Prefix
    Несоответствия между теоретическими и измеренными значениями затрудняли интерпретацию полученных результатов, снижали эффективность электроемкостного способа контроля. Для устранения указанных несоответствий был разработан численный метод расчета электроемкостных преобразователей на основе метода интегральных уравнений Фредгольма первого рода
    Exact
    [7, 8]
    Suffix
    . Представление электродов в виде зеркально-симметричных поверхностей, разнесенных в пространстве на расстояние, равное толщине реальных электродов [7], позволило без потери точности упростить процедуру численного расчета двухмерной задачи по сравнению с применением стандартных конечно-элементных схем [5], сократить вычислительные затраты (по памяти – в 1,5–2,5 раза, по времени с
    (check this in PDF content)

  6. Start
    3562
    Prefix
    Для устранения указанных несоответствий был разработан численный метод расчета электроемкостных преобразователей на основе метода интегральных уравнений Фредгольма первого рода [7, 8]. Представление электродов в виде зеркально-симметричных поверхностей, разнесенных в пространстве на расстояние, равное толщине реальных электродов
    Exact
    [7]
    Suffix
    , позволило без потери точности упростить процедуру численного расчета двухмерной задачи по сравнению с применением стандартных конечно-элементных схем [5], сократить вычислительные затраты (по памяти – в 1,5–2,5 раза, по времени счета – в 2–3 раза).
    (check this in PDF content)

  7. Start
    3727
    Prefix
    Представление электродов в виде зеркально-симметричных поверхностей, разнесенных в пространстве на расстояние, равное толщине реальных электродов [7], позволило без потери точности упростить процедуру численного расчета двухмерной задачи по сравнению с применением стандартных конечно-элементных схем
    Exact
    [5]
    Suffix
    , сократить вычислительные затраты (по памяти – в 1,5–2,5 раза, по времени счета – в 2–3 раза). Результаты моделирования МНИК с дополнительным плоским заземленным экраном [7] (рисунок 1) позволили выявить основные качественные взаимосвязи между их характеристиками и параметрами расчета.
    (check this in PDF content)

  8. Start
    3991
    Prefix
    на расстояние, равное толщине реальных электродов [7], позволило без потери точности упростить процедуру численного расчета двухмерной задачи по сравнению с применением стандартных конечно-элементных схем [5], сократить вычислительные затраты (по памяти – в 1,5–2,5 раза, по времени счета – в 2–3 раза). Результаты моделирования МНИК с дополнительным плоским заземленным экраном
    Exact
    [7]
    Suffix
    (рисунок 1) позволили выявить основные качественные взаимосвязи между их характеристиками и параметрами расчета. Они включают в себя влияние на глубину зоны контроля, силу сигнала, чувствительность к анизотропии диэлектрических свойств ортотропных материалов геометрических размеров контролируемого образца, электродов, подложки.
    (check this in PDF content)

  9. Start
    10199
    Prefix
    На рисунке 4 (кривые 1, 2, 3, 4) видно, что воздушный зазор h1 играет важную роль в образовании аномальных областей: с ростом диэлектрической проницаемости 3е (кривые 1, 2, 3) межэлектродная емкость уменьшается по сравнению с емкостью в воздухе кривая 4 (3е= 1)
    Exact
    [6]
    Suffix
    . В этой области контролируемый диэлектрик экранируется плоским экраном 5, который оттягивает потоки электрического поля, и межэлектродная емкость мала. Рисунок 4 – Зависимость межэлектродной емкости C12 на единицу длины от расстояния 1hh между заземленным экраном 5 и плоскостью электродов Диапазон аномальной области зависит от воздушного зазора h1.
    (check this in PDF content)

  10. Start
    12349
    Prefix
    Диэлектрическим образцам с одинаковой толщиной h = 0,30 мм, имеющим значения диэлектрической проницаемости 3е= 4,3 и 3е= 6,0, соответствует одно и то же значение емкости 12C= 1,43 пФ/м. Чувствительность датчиков к анизотропии диэлектрической проницаемости В ряде практических задач важно знать анизотропию структуры ортотропного материала
    Exact
    [1]
    Suffix
    . Выбор геометрических параметров МНИК с дополнительным плоским заземленным экраном осуществим, исходя из максимальной чувствительности к анизотропии материала с 1,9еx и 1,2ееzy.
    (check this in PDF content)