The 10 references in paper P. Kuznetsov L., V. Muraviev V., П. Кузнецов Л., В. Муравьев В. (2015) “КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА ЭЛЕКТРОЛИТИЧЕСКИХ ТАНТАЛОВЫХ КОНДЕНСАТОРОВ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ СТРЕСС-ТЕСТА // THE QUALITY CONTROL OF ELECTROLYTIC TANTALUM CAPACITORS BY USING THE STRESS TEST” / spz:neicon:pimi:y:2015:i:1:p:76-80

1
Fritzler, T. Scintillation Conditioning of Tantalum Capacitors With Manganese Dioxide Cathodes, IEEE Transactions on Device and Materials Reliability (Impact Factor: 1.54) / T. Fritzler, M.H. Azarian, M.G. Pecht. – 01/2014; 14(2):630-638. DOI: 10.1109/ TDMR.2014.2314731.
(check this in PDF content)
2
Franco, F. Di. Characterization of the Solid State Properties of Anodic Oxides on Magnetron Sputtered Ta, Nb and Ta-Nb Alloys / F. Di Franco [et al.] // Journal of The Electrochemical Society. – 2012.– Vol. 159(1). – P. 33–39.
(check this in PDF content)
3
Кузнецова, В.А. Исследование надежности танталовых оксидно-полупроводниковых чипконденсаторов на основе эксперименталь- ных данных / В.А. Кузнецова, П.Л. Кузнецов, В.В. Муравьев // Вестник Ижевского государственного технического университета. – 2013. – No 3. – С. 88–91.
(check this in PDF content)
4
Кузнецов, П.Л. Исследование влияния характеристик технологического процесса изготовления на изменения эксплуатационных характеристик танталовых объемно-пористых конденсаторов во времени / П.Л. Кузнецов, В.А. Кузнецова, Г.В. Ломаев // Вестник Ижевского государственного технического университета. – 2014. – No 1. – С. 11–15.
(check this in PDF content)
5
Кузнецова, В.А. Исследование влияния на эксплуатационные характеристики качества материалов танталовых оксидно-полупроводниковых чип-конденсаторов / В.А. Кузнецова [и др.] // Интеллектуальные системы в производстве. – 2013. – No 2. – С. 140–143.
(check this in PDF content)
6
Беляева, Е.А. Исследование влияния срока сохраняемости на эксплуатационные характеристики и состояние объемно-пористых танталовых конденсаторов / Е.А. Беляева, В.А. Кузнецова, В.В. Муравьев // Интеллектуальные системы в производстве. – 2014. – No 1. – С. 96–99.
(check this in PDF content)
7
Беляева, Е.А. Влияние переменной синусоидальной составляющей пульсирующего напряжения при оксидировании объемно-пористых анодов танталовых конденсаторов на электрические параметры / Е.А. Беляева, В.В. Муравьев // Интеллектуальные системы в производстве. – 2014. – No 2. – С. 96–102.
(check this in PDF content)
8
Кузнецова, В.А. Влияние качества корпуса оксидно-полупроводниковых танталовых чипконденсаторов на эксплуатационные параметры / Е.А. Беляева, В.В. Муравьев // Интеллектуальные системы в производстве. – 2014. – No 2. – С. 112–115.
(check this in PDF content)
9
Кузнецова, В.А. Влияние конструктивных характеристик анода на эксплуатационные параметры оксидно-полупроводниковых танталовых чип-конденсаторов / Е.А. Беляева, В.В. Муравьев // Вестник Ижевского государственного технического университета. – 2014. – No 4. – С. 105–107.
(check this in PDF content)
10
Радюшкин, О. Методы оценки срока эксплуатации электролитических конденсаторов / О. Радюшкин. – Силовая электроника. – 2010. – No 5. – С. 19–22. Рисунок 5 – Характер изменения Rэкв конденсат
(check this in PDF content)