The 3 references in paper V. Minchenko A., G. Kovalchuk F., S. Shkolyk B., В. Минченко А., Г. Ковальчук Ф., С. Школык Б. (2015) “ПРИНЦИПЫ ПОСТРОЕНИЯ И СТРУКТУРНЫЕ СХЕМЫ ЗОНДОВЫХ АВТОМАТИЧЕСКИХ СИСТЕМ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ ИЗДЕЛИЙ МИКРОИ НАНОЭЛЕКТРОНИКИ НА ПЛАСТИНЕ // DESIGN PRINCIPLES AND BLOCK SCHEMES OF THE PROBE AUTOMATIC INSPECTION SYSTEMS FOR MICROAND NANOELECTRONICS ON A WAFER” / spz:neicon:pimi:y:2012:i:2:p:67-75

1
Минченко, В.А. Измерение переходной характеристики и задержки широкополосных контактирующих устройств для контроля параметров интегральных микросхем на пластине / В.А. Минченко. – Электронная техника. – Сер. 8. – 1992. – Вып. 5 (122). – С. 83–86.
(check this in PDF content)
2
Минченко, В.А. Увеличение широкополосности контактирующих устройств для контроля БИС на пластине / В.А. Минченко, А.В. Ярош, В.С. Кононов. – Электронная промышленность. – 1991. – No 10. – С. 58–59.
(check this in PDF content)
3
Котани. Конструкция и характеристики зондовой установки для низкотемпературных испытаний интегральных структур / Котани. – Приборы для научных исследований. – 1986. – No 1.
(check this in PDF content)